一种高精度圆弧刃金刚石刀具刃口轮廓光学测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种高精度圆弧刃金刚石刀具刃口轮廓光学测量装置，该装置包括底座、二维粗调心平台、精密回转轴系、微调心回转对刀机构、光学测量与图像采集系统和显示终端。二维粗调心平台用于实现金刚石刀具刀尖与光学物镜视场中央快速对齐；微调心回转对刀机构和精密回转轴系配合驱动刀具做精密回转运动，保证金刚石刀具在一次调心下全刃口的连续测量；二维粗调心平台和微调心回转对刀机构的二维差动进给机构配合可以实现在高倍率、小视场的光学物镜内快速、精准地捕捉刀具圆弧轮廓，从而实现刀具的高精度定位。本发明专利技术可快速、方便的进行圆弧刃金刚石刀具全刃口轮廓连续测量，避免重复调心引入误差，定位精度高，具有广阔的应用前景。

【技术实现步骤摘要】
一种高精度圆弧刃金刚石刀具刃口轮廓光学测量装置
本专利技术属于光学精密测量领域，具体涉及一种高精度圆弧刃金刚石刀具刃口轮廓光学测量装置。
技术介绍
金刚石刀具在航空航天、天文、核技术、信息、交通等领域核心零件的超精密切削加工中有着重要应用。大量理论与实验研究表明，金刚石刀具刃口圆弧轮廓质量，包括刀尖圆弧轮廓度、圆弧波纹度和刃口微豁等都是影响工件加工质量的重要因素。因此，对金刚石刀具全刃口圆弧轮廓的质量进行精确测量对把控工件质量至关重要。目前金刚石刀具刃口圆弧轮廓质量测量主要有以下几种方法：原子力显微镜(AFM)测量法、扫描电子显微镜(SEM)测量法、光学显微测量法。其中原子力显微镜测量法由探针与被测物表面直接接触，通过探针反馈测得包含高度值在内的三维信息，该方法单次测量区域极小，且操作复杂繁琐，测量难度较高；扫描电子显微镜测量法使用高能电子轰击样品表面，激发二次电子，通过激发的二次电子反馈获得样品表面形貌，该方法同样存在测量区域小和操作复杂等问题；光学显微镜测量法采用光学放大原理实现高效、简单的微米级精密测量，该方法一直是金刚石刀具刃口本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高精度圆弧刃金刚石刀具刃口轮廓光学测量装置，其特征在于：所述的装置包括底座(1)、二维粗调心平台(2)、精密回转轴系(3)、微调心回转对刀机构(4)、光学测量与图像采集系统(5)、显示终端(6)和底座支架(7)；底座(1)与底座支架(7)固连；二维粗调心平台(2)固连于底座(1)上；精密回转轴系(3)固连于二维粗调心平台(2)的中心位置；微调心回转对刀机构(4)固定于精密回转轴系(3)上表面；光学测量与图形采集系统(5)通过竖直滑轨连接在底座支架(7)上，并置于微调心回转对刀机构(4)的正上方；显示终端(6)和光学测量与图形采集系统(5)通过数据传输线相连。/n

【技术特征摘要】
1.一种高精度圆弧刃金刚石刀具刃口轮廓光学测量装置，其特征在于：所述的装置包括底座(1)、二维粗调心平台(2)、精密回转轴系(3)、微调心回转对刀机构(4)、光学测量与图像采集系统(5)、显示终端(6)和底座支架(7)；底座(1)与底座支架(7)固连；二维粗调心平台(2)固连于底座(1)上；精密回转轴系(3)固连于二维粗调心平台(2)的中心位置；微调心回转对刀机构(4)固定于精密回转轴系(3)上表面；光学测量与图形采集系统(5)通过竖直滑轨连接在底座支架(7)上，并置于微调心回转对刀机构(4)的正上方；显示终端(6)和光学测量与图形采集系统(5)通过数据传输线相连。


2.根据权利要求1所述的高精度圆弧刃金刚石刀具刃口轮廓光学测量装置，其特征在于：所述底座(1)与底座支架(7)一体成型。


3.根据权利要求1所述的高精度圆弧刃金刚石刀具刃口轮廓光学测量装置，其特征在于：所述微调心回转对刀机构(4)包括回转支撑组件、微调心组件和安装组件，回转支撑组件与精密回转轴系(3)直接相连，微调心组件和安装组件置于回转支撑组件上方。


4.根据权利要求3所述的高精度圆弧刃金刚石刀具刃口轮廓光学测量装置，其特征在于：所述回转支撑组件包括半圆盘(4-5)、过渡板(4-4)、滑槽螺栓(4-9)和螺母(4-10)；半圆盘(4-5)通过滑槽螺栓(4-9)套上螺母(4-10)嵌入精密回转轴系(3)表面的凹槽中，过渡板(4-4)固定在半圆盘(4-5)上。


5.根据权利要求3...

【专利技术属性】
技术研发人员：雷大江，岳晓斌，张新疆，杨宁，崔海龙，龚维纬，贾鲁，冯可，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院机械制造工艺研究所，
类型：发明
国别省市：四川;51