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自动进样定位系统技术方案

技术编号:2531572 阅读:173 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种自动进样定位装置,其包括一步进电机、一滑板、一光电开关、一测试卡及信号采集与处理系统;测试卡置于滑板上面,滑板由步进电机驱动,带动测试卡行进;光电开关位于滑板上方,连接信号采集与处理系统。光电开关发出的光信号在有效探测距离内碰到反射面后,反射回光电开关探测器,探测器接收到反射光信号后,通过信号处理系统,发出控制指令,控制步进电机的运动,从而实现精确定位。(*该技术在2017年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试装置,特别是指一种测试装置中的自动 进样定位装置。
技术介绍
在需要采用测试卡进行测试的过程中,测试卡的定位精确与否是 影响测量结果准确度的重要因素。目前,对这种测试卡的定位大多釆 用机械定位。这种定位方式存在精度不高、机械件易老化等不足。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种自动进样定位装置,用于对测试 卡进行自动进样定位而达定位精度高、结构简单的特点。为实现上述目的,本技术的解决方案是 一种自动进样定位 装置,其包括一步进电机、 一滑板、 一光电开关、 一测试卡及信号采 集与处理系统;测试卡置于滑板上面,滑板由步进电机驱动,带动测 试卡行进;光电开关位于滑板上方,连接信号采集与处理系统。所述的光电开关为反射式光电开关。所述的测试卡长度3-5厘米,宽度2-3厘米,厚度5-7毫米。采用上述方案后,本技术通过光电开关发出的光信号在有效 探测距离内碰到反射面后,反射回光电开关探测器,探测器接收到反 射光信号后,通过信号处理系统,发出控制指令,控制步进电机的运 动,从而实现精确定位。且具有如下优点其一,本技术的自动进样定位系统,结构简单、性能优越;其二,釆用光电开关定位,定位精度高。附图说明图l是本技术的结构示意图。具体实施方式如图l所示,本技术的自动进样定位装置,包括一步进电机 6、 一滑板3、 一光电开关4、 一测试卡2及信号釆集和处理系统5;测试卡2置于滑板3上面,滑板3由步进电机6驱动,带动测试卡2 行进,测试卡2长度3-5厘米,宽度2-3厘米,厚度5-7毫米;光电 开关4位于滑板3上方,该光电开关4为反射式光电开关,连接信号 采集与处理系统5。试纸条1位于测试卡2上面。测试时,将测试卡2放置于滑板3上面,启动步进电机6,带动 滑板3上的测试卡2行进,当测试卡2前端到达光电开关4的水平位 置时,由光电开关4发射出的光信号,在测试卡2表面反射,光电开 关4的探测器收集反射光线,经过信号处理后,由控制系统向步进电 机6发出控制指令,停止步进电机6,从而实现定位。本技术的基本原理光电开关4发出的光信号在有效探测距 离内碰到反射面后,反射回光电开关4探测器,探测器接收到反射光 信号后,通过信号处理系统,发出控制指令,控制步进电机6的运动, 从而实现精确定位。权利要求1、一种自动进样定位装置,其特征在于包括一步进电机、一滑板、一光电开关、一测试卡及信号采集与处理系统;测试卡置于滑板上面,滑板由步进电机驱动,带动测试卡行进;光电开关位于滑板上方,连接信号采集与处理系统。2、 如权利要求1所述的自动进样定位装置,其特征在于光电 开关为反射式光电开关。3、 如权利要求1所述的自动进样定位装置,其特征在于所述 的测试卡长度3-5厘米,宽度2-3厘米,厚度5-7毫米。专利摘要本技术公开了一种自动进样定位装置,其包括一步进电机、一滑板、一光电开关、一测试卡及信号采集与处理系统;测试卡置于滑板上面,滑板由步进电机驱动,带动测试卡行进;光电开关位于滑板上方,连接信号采集与处理系统。光电开关发出的光信号在有效探测距离内碰到反射面后,反射回光电开关探测器,探测器接收到反射光信号后,通过信号处理系统,发出控制指令,控制步进电机的运动,从而实现精确定位。文档编号G01D11/16GK201133826SQ20072000919公开日2008年10月15日 申请日期2007年12月18日 优先权日2007年12月18日专利技术者陈晓汀 申请人:陈晓汀本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动进样定位装置,其特征在于:包括一步进电机、一滑板、一光电开关、一测试卡及信号采集与处理系统;测试卡置于滑板上面,滑板由步进电机驱动,带动测试卡行进;光电开关位于滑板上方,连接信号采集与处理系统。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈晓汀
申请(专利权)人:陈晓汀
类型:实用新型
国别省市:92[中国|厦门]

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