一种半导体纳米材料热输运性质测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种半导体纳米材料热输运性质测试方法，包括：由具有无线通信功能的半导体纳米材料热输运性质测试装置对半导体材料的热输运性质进行测试，并得到测试数据；与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接；接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置；接收由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号；判断参考信号的接收功率是否大于门限值；如果判断参考信号的接收功率大于门限值，则向第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通知消息；由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息；由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收发送的测试数据。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体纳米材料热输运性质测试系统
本专利技术是关于半导体纳米材料测试
，特别是关于一种半导体纳米材料热输运性质测试系统。
技术介绍
纳米半导体材料是将硅、砷化镓等半导体材料制成的纳米材料，具有许多优异性能。例如，纳米半导体材料中的量子隧道效应使某些半导体材料的电子输运反常、导电率降低，电导热系数也随颗粒尺寸的减小而下降，甚至出现负值。这些特性在大规模集成电路器件、光电器件等领域发挥重要的作用。现有技术CN109298735A公开了一种差示扫描量热仪恒速升温过程的前馈-反馈复合控制方法，设计前馈控制器，得到前馈控制器的输出值；划分温度空间生成若干温度子空间，对温度子空间设计炉温PID控制器，采集并判断当前时刻温度测量所属的温度子区间，计算当前时刻PID控制器的控制参数；计算温度控制偏差，得到PID控制器的输出值；输出温度控制信号，控制炉内温度的变化。公开于该
技术介绍
部分的信息仅仅旨在增加对本专利技术的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。...

【技术保护点】
1.一种半导体纳米材料热输运性质测试方法，其特征在于，所述半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：/n由具有无线通信功能的半导体纳米材料热输运性质测试装置对半导体材料的热输运性质进行测试，并得到测试数据；/n由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接；/n响应于与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置；/n响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第二半导体纳米材料测试中心数...

【技术特征摘要】
1.一种半导体纳米材料热输运性质测试方法，其特征在于，所述半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：
由具有无线通信功能的半导体纳米材料热输运性质测试装置对半导体材料的热输运性质进行测试，并得到测试数据；
由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接；
响应于与第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置；
响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号；
响应于接收到所述由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的参考信号，由半导体纳米材料热输运性质测试装置判断所述参考信号的接收功率是否大于门限值；
如果判断所述参考信号的接收功率大于门限值，则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通知消息；
响应于接收到通知消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息；
响应于接收到所述询问消息，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据；
如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据，则由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送准许消息；
响应于接收到所述准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述半导体纳米材料热输运性质测试装置发送所述准许消息；
响应于接收到所述准许消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置同时与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接。


2.如权利要求1所述的半导体纳米材料热输运性质测试方法，其特征在于，所述半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：
响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送所述测试数据；
响应于接收到所述测试数据，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送所述测试数据；
响应于与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置继续接收由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置；
响应于接收到由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的测量配置，由半导体纳米材料热输运性质测试装置接收由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的第二参考信号以及由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送的第一参考信号；
响应于接收到所述第一参考信号以及所述第二参考信号，由半导体纳米材料热输运性质测试装置确定所述第一参考信号的第一接收功率以及所述第二参考信号的第二接收功率；
由半导体纳米材料热输运性质测试装置比较所述第一接收功率与所述第二接收功率；
如果所述第二接收功率大于所述第一接收功率，则由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送切换消息。


3.如权利要求2所述的半导体纳米材料热输运性质测试方法，其特征在于，所述半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：
响应于接收到所述切换消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送询问消息；
响应于接收到所述询问消息，由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端判断是否能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据；
如果判断能够接收由半导体纳米材料热输运性质测试装置发送的测试数据，则由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送第二准许消息；
响应于接收到所述第二准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述半导体纳米材料热输运性质测试装置发送所述准许消息；
响应于接收到所述准许消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接。


4.如权利要求3所述的半导体纳米材料热输运性质测试方法，其特征在于，所述半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：
响应于接收到所述第二准许消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放消息；
响应于接收到所述通信释放消息，由第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信释放响应消息；
响应于接收到所述通信释放响应消息，由第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端向所述半导体纳米材料热输运性质测试装置发送通信连接改变消息；
响应于接收到所述通信连接改变消息，由半导体纳米材料热输运性质测试装置断开与所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接；
响应于与所述第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端的通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第一半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送通信连接改变响应消息。


5.如权利要求4所述的半导体纳米材料热输运性质测试方法，其特征在于，所述半导体纳米材料热输运性质测试方法包括如下步骤：
响应于与第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端建立通信连接，并且与第二半导体纳米材料测试中心数据收集终端断开通信连接，由半导体纳米材料热输运性质测试装置向所述第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端发送所述测试数据；
响应于接收到所述测试数据，由第三半导体纳米材料测试中心数据收集终端向科研中心服务器发送所述测试数据。


6.一种半导体纳米材料热输运性质测试系统，其特征在于，所述半导体纳米材料热输运性质测试系统包括：
用于由具有无...

【专利技术属性】
技术研发人员：包本刚，孔永红，朱湘萍，
申请(专利权)人：湖南科技学院，
类型：发明
国别省市：湖南;43