一种新型量面的数显倾角仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种新型量面的数显倾角仪，包括数显倾角仪，与现有技术不同的是：在数显倾角仪的平量面上配装有与其相匹配配装的Ｖ形凹槽，Ｖ形凹槽上镶嵌有永磁体，永磁体的表面与Ｖ形凹槽的内表面在同一平面上。采用这种Ｖ形凹槽作为新型量面的数显倾角仪，既适用于一般测量，又能满足特殊物体如圆柱体或类似圆柱体的测量要求，方便快捷；由于Ｖ形凹槽量面设置有永磁体，倾角仪通过永磁体的吸附力更贴近被测物体的表面，测量出的数据更准确。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及数显倾角仪，尤其是一种新型量面的数显倾角仪。技术背景目前，常用的数显倾角仪的量面多采用单一的平量面。这种平量面加工工艺比较简单， 适宜测量平面物体。但是，当被测量物体为圆柱体或类似圆柱体时，普通平量面的数显倾角 仪无法正常安放于被测量物体的表面，不能直接进行测量，需要通过辅助工具将倾角仪固定 在被测量物体的表面，这样的测量方式操作麻烦，工作效率低。
技术实现思路
本技术的目的是为了克服现有技术的不足，而提供一种不通过辅助工具便能快速 测量圆柱体水平角度或者斜率的新型量面的数显倾角仪。 本技术是用下述方法实现的-一种新型量面的数显倾角仪，包括数显倾角仪，与现有技术不同的是在数显倾角仪的 平量面上配装有与其相匹配配装的V形凹槽；V形凹槽上镶嵌有永磁体，永磁体的表面与V形凹槽的内表面在同一平面上。V形凹槽作为新型量面，当进行测量时，V形凹槽量面直接卡紧圆柱体，不再需要辅助 工具。由于V形凹槽量面上设置有永磁体，强大的磁力将V形凹槽量面吸附在被测圆柱体的 表面上，无论水平方向或者垂直于水平方向都可以方便地进行测量，得到准确的数据。本技术的优点是既适用于一般测量，又能满足特殊物体的测量要求，方便快捷； 由于V形凹槽量面设置有永磁体，倾角仪通过永磁体的吸附力更贴近被测物体的表面，测量 出的数据更准确。附图说明图1为本技术一种实施例的结构示意图； 图2为图1的左视示意图； 图3为图1的仰视示意图；图4为本技术另一种实施例的结构示意图。 图中l.数显倾角仪2.永磁体3.V形凹槽具体实施方式以下结合附图和实施例对本
技术实现思路
作进一步的阐述，但不是对本技术的限定。实施例1:参照图1 图3，本技术一种新型量面的数显倾角仪，包括数显倾角仪1，平量面位 于数显倾角仪1的底面，用螺钉固接与平量面相匹配配装的V形凹槽3;V形凹槽3两端的内表面上分别对称镶嵌粘固有6个4) 8mm的永磁体2，永磁体2的表 面与V形凹槽3的内表面在同一平面上。V形凹槽3即为新型量面，并可作为数显倾角仪l的底座。 实施例2:参照图4，平量面位于数显倾角仪1的顶面，用螺钉固接与平量面相匹配配装的V形凹 槽3，其余同实施例1。V形凹槽3即为新型量面。权利要求1、一种新型量面的数显倾角仪，包括数显倾角仪(1)，其特征在于在数显倾角仪(1)的平量面上配装有与其相匹配配装的V形凹槽(3)。2、 根据权利要求1所述的一种新型量面的数显倾角仪，其特征在于所述的V形凹槽(3)上镶嵌有永磁体(2)，永磁体(2)的表面与V形凹槽(3)的内表面在同一平面上。专利摘要本技术公开了一种新型量面的数显倾角仪，包括数显倾角仪，与现有技术不同的是在数显倾角仪的平量面上配装有与其相匹配配装的V形凹槽，V形凹槽上镶嵌有永磁体，永磁体的表面与V形凹槽的内表面在同一平面上。采用这种V形凹槽作为新型量面的数显倾角仪，既适用于一般测量，又能满足特殊物体如圆柱体或类似圆柱体的测量要求，方便快捷；由于V形凹槽量面设置有永磁体，倾角仪通过永磁体的吸附力更贴近被测物体的表面，测量出的数据更准确。文档编号G01C9/02GK201218728SQ200820104340公开日2009年4月8日 申请日期2008年6月28日 优先权日2008年6月28日专利技术者李小莉 申请人:桂林迪吉特电子有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型量面的数显倾角仪，包括数显倾角仪（１），其特征在于：在数显倾角仪（１）的平量面上配装有与其相匹配配装的Ｖ形凹槽（３）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李小莉，
申请(专利权)人：桂林迪吉特电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：45[中国|广西]