一种可调节取样用度量卡尺制造技术

本实用新型专利技术公开了一种可调节取样用度量卡尺，包括第一尺体与第二尺体，所述第一尺体位于第二尺体的一侧，所述第一尺体的外表面靠近第二尺体的一侧与第二尺体的外表面靠近第一尺体的一侧均固定安装有卡环，且第一尺体的上端外表面与第二尺体的下端外表面远离卡环的位置均活动安装有固定夹，相邻两个所述卡环之间上端位置活动安装有防护板相邻所述防护板之间及防护板与卡环之间均活动安装有转轴，所述第一尺体与第二尺体的上端外表面后端位置均设有刻度线。本实用新型专利技术，能够满足不同尺寸的试验样品的长度需求，可以保证取样时的尺寸精确性，同时避免操作失误带来的安全问题，尺体表面刻度线不易磨损。

【技术实现步骤摘要】
一种可调节取样用度量卡尺
本技术涉及材料测量
，具体为一种可调节取样用度量卡尺。
技术介绍
在施工试样抽取过程中，为了保证试样严密性，需要对样品按照规范要求的尺寸进行取样，而在传统的材料取样过程中，对于原材料长度往往难以保证，要么多取，会对材料产生浪费；要么少取，会在试验室验收试样时因不符合样品规定的尺寸要求拒收试样或二次加工，从而对试验结果出具的时间造成滞后，及时性成为一个问题，同时卡尺收取后尺体表面得不到防护，刻度线容易受到磨损。为此，提出一种可调节取样用度量卡尺。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种可调节取样用度量卡尺，能够满足不同尺寸的试验样品的长度需求，可以保证取样时的尺寸精确性，同时避免操作失误带来的安全问题，尺体表面刻度线不易磨损，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种可调节取样用度量卡尺，包括第一尺体与第二尺体，所述第一尺体位于第二尺体的一侧，所述第一尺体的外表面靠近第二尺体的一侧与第二尺体的外表面靠近第一尺体的一侧均固定安装有卡环，且第一尺体的上端本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可调节取样用度量卡尺，包括第一尺体(1)与第二尺体(2)，其特征在于：所述第一尺体(1)位于第二尺体(2)的一侧，所述第一尺体(1)的外表面靠近第二尺体(2)的一侧与第二尺体(2)的外表面靠近第一尺体(1)的一侧均固定安装有卡环(3)，且第一尺体(1)的上端外表面与第二尺体(2)的下端外表面远离卡环(3)的位置均活动安装有固定夹(4)，相邻两个所述卡环(3)之间上端位置活动安装有防护板(5)相邻所述防护板(5)之间及防护板(5)与卡环(3)之间均活动安装有转轴(6)，所述第一尺体(1)与第二尺体(2)的上端外表面后端位置均设有刻度线(7)。/n

【技术特征摘要】
1.一种可调节取样用度量卡尺，包括第一尺体(1)与第二尺体(2)，其特征在于：所述第一尺体(1)位于第二尺体(2)的一侧，所述第一尺体(1)的外表面靠近第二尺体(2)的一侧与第二尺体(2)的外表面靠近第一尺体(1)的一侧均固定安装有卡环(3)，且第一尺体(1)的上端外表面与第二尺体(2)的下端外表面远离卡环(3)的位置均活动安装有固定夹(4)，相邻两个所述卡环(3)之间上端位置活动安装有防护板(5)相邻所述防护板(5)之间及防护板(5)与卡环(3)之间均活动安装有转轴(6)，所述第一尺体(1)与第二尺体(2)的上端外表面后端位置均设有刻度线(7)。


2.根据权利要求1所述的一种可调节取...

【专利技术属性】
技术研发人员：董然，周永康，杨华，焦昱程，韩阳，齐玉顺，陈世豪，
申请(专利权)人：中建一局华江建设有限公司，中国建筑一局集团有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11