当前位置: 首页 > 专利查询>黎新民专利>正文

用于铅垂度测量的激光测量尺制造技术

技术编号:2524000 阅读:330 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种用于铅垂度测量的激光测量尺,包括一直角三角尺,在该直角三角尺一直角边的一端设置有一凸面镜,在该直角边的另一端通过铰轴悬挂有一激光发射器,该激光发射器的发射口对着所述凸面镜的凸面;沿所述直角三角尺另一直角边设置有刻度。使用时,将本实用新型专利技术的一直角边垂直靠在倾斜面上,由于该激光发射器受重力作用而始终铅垂,激光束经反射照射到所设置的刻度上,从而测得被测物倾斜度,同时本实用新型专利技术制造成本低、携带方便。(*该技术在2010年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量铅垂度的仪器,具体说是涉及一种用于铅垂度测量的激光测量尺。目前市售用于测量铅垂度的仪器主要是经纬仪,该经纬仪测量精度高,但其价格昂贵,体积大,操作繁琐,对表面光滑的立面物体而言显得大材小用,且不便于携带。本技术的目的就在于提供一种制造成本低廉、携带方便的用于铅垂度测量的激光测量尺。本技术的目的可通过以下技术措施实现本技术包括一直角三角尺,在所述直角三角尺一直角边的一端设置有一凸面镜,在该直角边的另一端通过铰轴悬挂有一激光发射器,该激光发射器的发射口对着所述凸面镜的凸面;沿所述直角三角尺另一直角边设置有刻度。本技术的优点就在于在直角三角尺一直角边的一端设置有一凸面镜,在该直角边的另一端通过铰轴悬挂有一激光发射器,使用时,将本技术的一直角边垂直靠在倾斜面上,由于该激光发射器受重力作用而始终铅垂,自激光发射器发射口发出的激光束射到所述凸面镜的凸面上,经反射照射到直角三角尺另一直角边设置的刻度上,从而得到放大了的被测物倾斜度,同时本技术制造成本低廉、携带方便。附图的图面说明如下附图说明图1为本技术的主视局剖图本技术以下结合具体实施例(附图)作进一步详细描述如图所示,本本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于铅垂度测量的激光测量尺,它包括一直角三角尺(1),其特征在于:在所述直角三角尺(1)一直角边(2)的一端设置有一凸面镜(3),在该直角边(2)的另一端通过铰轴(4)悬挂有一激光发射器(5),该激光发射器(5)的发射口(6)对着所述凸面镜(3)的凸面;沿所述直角三角尺(1)另一直角边(7)设置有刻度(8)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王建刚黎新民魏忠超
申请(专利权)人:黎新民
类型:实用新型
国别省市:41[中国|河南]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1