【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】使用荧光显微镜利用受激发射损耗对样本成像的方法
本专利技术涉及一种使用荧光显微镜利用受激发射损耗对样本进行成像的方法，包括图像产生过程，在该图像产生过程中借助显微镜控制器来控制荧光显微镜，从而产生照明焦点，其方式为，给聚焦的激发光分布叠加聚焦的去激发光分布，由此在用照明焦点照明时仅在有效的激发焦点内部对样本予以激发，以便发出产生图像的荧光，所述激发焦点的延展范围小于激发光分布的延展范围，且在样本的目标区域内部连续地借助照明焦点以第一位置分辨率对多个样本片段予以扫描，并且成像到相应数量的图像片段中，由这些图像片段产生光栅图像，该第一位置分辨率与有效的激发焦点的减小的延展范围相适配。本专利技术还涉及一种以此方式工作的荧光显微镜。
技术介绍
近来已开发出荧光显微的方法，其能实现以不受曾经由ErnstAbbe提出的光显微成像分辨率极限限制的位置分辨率对样本结构成像。所谓的受激发射损耗，简写为STED(StimulatedEmissionDepletion)，是能实现这种提高的位置分辨率的众多方法之一。对于STED-显微术，将...
【技术保护点】
1.一种使用荧光显微镜(10)利用受激发射损耗对样本(18)进行成像的方法，包括图像产生过程，在该图像产生过程中借助显微镜控制器(42)来控制所述荧光显微镜(10)，/n从而产生照明焦点，其方式为，给聚焦的激发光分布叠加聚焦的去激发光分布，用于受激发射损耗，由此在用所述照明焦点照明时仅在有效的激发焦点内部对所述样本(18)予以激发，以便发出产生图像的荧光，所述激发焦点的延展范围与所述激发光分布的延展范围相比减小了，且/n在所述样本(18)的目标区域内部连续地借助所述照明焦点以第一位置分辨率对多个样本片段予以扫描，并且成像到相应数量的图像片段中，由这些图像片段产生光栅图像(5...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171222 DE 102017131249.81.一种使用荧光显微镜(10)利用受激发射损耗对样本(18)进行成像的方法，包括图像产生过程，在该图像产生过程中借助显微镜控制器(42)来控制所述荧光显微镜(10)，
从而产生照明焦点，其方式为，给聚焦的激发光分布叠加聚焦的去激发光分布，用于受激发射损耗，由此在用所述照明焦点照明时仅在有效的激发焦点内部对所述样本(18)予以激发，以便发出产生图像的荧光，所述激发焦点的延展范围与所述激发光分布的延展范围相比减小了，且
在所述样本(18)的目标区域内部连续地借助所述照明焦点以第一位置分辨率对多个样本片段予以扫描，并且成像到相应数量的图像片段中，由这些图像片段产生光栅图像(58)，该第一位置分辨率与有效的激发焦点的减小的延展范围相适配，
其特征在于，借助所述显微镜控制器(42)还适当地控制所述荧光显微镜(10)，
从而在所述图像产生过程之前以第二位置分辨率产生所述目标区域的概览图像(48)，该第二位置分辨率小于所述第一位置分辨率且高于与所述激发光分布的延展范围相适配的第三位置分辨率，并且分析所述概览图像(48)，以便识别出无相关图像信息的图像区域，并且
在所述图像产生过程期间在扫描样本片段时至少减小所述去激发光分布的辐射功率，这些样本片段指配于在所述概览图像(48)中识别出来的无相关图像信息的图像区域。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，当扫描指配给在所述概览图像(48)中被识别出来的无相关图像信息的图像区域的样本片段时，附加地减小所述激发光分布的辐射功率。
3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，将所述辐射功率减小至零。
4.如前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，以所述第二位置分辨率产生所述概览图像(48)，其方式为，首先以小于所述第二位置分辨率的位置分辨率摄取原图像(44)，然后对所述原图像(46)进行能提高位置分辨率的图像处理。
5.如前述权利要求4所述的方法，其特征在于，产生所述原图像(44)，其方式为，借助所述激发光分布，以所述第三位置分辨率扫描所述目标区域。
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，通过共焦的扫描成像来产生所述原图像(44)。
7.如权利要求4所述的方法，其特征在于，采用宽视野照明来产生所述原图像(46)。
8.如权利要求4～7中任一项所述的方法，其特征在于，图像处理规定了对所述原图像(44)的反卷...
【专利技术属性】
技术研发人员：约纳斯·弗林，
申请(专利权)人：莱卡微系统CMS有限责任公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE
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