一种有源阵列天线接收增益噪声温度比的测试方法技术

本发明专利技术涉及一种有源阵列天线接收增益噪声温度比的测试方法，通过打开和关闭发射信号源，得到有源阵列天线系统接收到的输出信号S

【技术实现步骤摘要】
一种有源阵列天线接收增益噪声温度比的测试方法
本专利技术属于天线
，涉及一种有源阵列天线接收增益噪声温度比的测试方法，主要应用于接收增益不能单独测试的有源阵列天线系统，也可适用于对两维有源阵列天线系统DBF接收增益噪声温度比的验证测试。
技术介绍
有源阵列天线系统是相对于传统无源天线系统来说的，是指由有源电路(主要是T/R组件)与天线阵列中的每一个辐射单元或子阵通道直接连接而组成的接收或者发射电磁波的系统。有源阵列天线改变了无源天线采用集中式发射机的结构特点，通常有源阵列天线是由分布式的T/R组件组成，能形成单个或多个波束，并可控制波束指向，以实现大角度灵活扫描，具有系统频率响应灵敏度高，射频损耗小，系统响应速度快，可以实现大的等效辐射功率(EIRP)，便于实现数字波束形成及多个接收波束的自适应控制，能实现更低的天线副瓣，至今作为雷达天线系统大量使用。有源阵列天线采用分布式有源器件，包含发射和接收通道。对于接收状态，天线辐射单元接收到的微波信号，经过LNA、滤波、混频和下变频，将信号由射频降到中频，通过I/Q两路输出，此时就可以采本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种有源阵列天线接收增益噪声温度比的测试方法，其特征在于步骤如下：/n步骤1：首先用射频电缆1连接信号源和频谱仪，测试得到信号源输出射频信号P1，然后用射频电缆1和射频电缆2连接信号源和频谱仪，测试得到信号源输出射频信号P2，则射频电缆2的损耗为L＝P1-P2；/n步骤2：远场测试有源阵列天线接收到的信号和噪声：首先打开发射塔上的信号源射频开关，得到有源阵列天线输出信号S

【技术特征摘要】
1.一种有源阵列天线接收增益噪声温度比的测试方法，其特征在于步骤如下：
步骤1：首先用射频电缆1连接信号源和频谱仪，测试得到信号源输出射频信号P1，然后用射频电缆1和射频电缆2连接信号源和频谱仪，测试得到信号源输出射频信号P2，则射频电缆2的损耗为L＝P1-P2；
步骤2：远场测试有源阵列天线接收到的信号和噪声：首先打开发射塔上的信号源射频开关，得到有源阵列天线输出...

【专利技术属性】
技术研发人员：王果宏，付原，张军，赵迎超，
申请(专利权)人：西安电子工程研究所，
类型：发明
国别省市：陕西;61