显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种显示装置。在具有内嵌型且自电容方式的触摸检测功能的显示装置中实现探测用于检测触摸位置的多个共用电极间的电连接不良的结构。本公开的显示装置包括：多条源极线，沿第1方向延伸；多条栅极线，沿与所述第1方向交叉的第2方向延伸；多个像素电极，沿所述第1方向和所述第2方向排列；多个共用电极，与沿所述第1方向及所述第2方向排列的多个触摸区域分别对应地配置，且与所述多个像素电极相向地配置；多条传感器电极线，与所述多个共用电极的各个共用电极电连接；多条检查用信号线，经由多个检查用薄膜晶体管与所述多个共用电极的各个共用电极电连接；以及检查用栅极线，与所述多个检查用薄膜晶体管的栅电极连接。

【技术实现步骤摘要】
显示装置
本公开涉及一种显示装置。
技术介绍
以往，提出了各种带有触摸面板的显示装置。近年来，为了实现显示装置整体的薄型化，提出了一种将触摸面板的功能嵌入到显示面板的内部的带有所谓内嵌型(In-cell)的触摸检测功能的显示装置。上述显示装置例如在专利文献1中被公开。另外，在专利文献1中公开了如下一种所谓自电容方式的触摸检测：在手指接近了显示面板时，探测在共用电极与手指之间产生的静电电容。现有技术文献专利文献专利文献1：美国专利申请公开第2016/0188063号说明书
技术实现思路
专利技术要解决的问题然而，在如上述专利文献1所公开那样的带有内嵌型的触摸检测功能且具有自电容方式的触摸检测功能的显示装置中，没有实现对用于检测触摸位置的多个共用电极间的电连接不良进行探测的结构。本公开是鉴于这些问题而完成的，其目的在于在具有内嵌型且自电容方式的触摸检测功能的显示装置中实现对用于检测触摸位置的多个共用电极间的电连接不良进行探测的结构。用于解决问题的方案为了解决本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示装置，包括：/n多条源极线，所述多条源极线沿第1方向延伸；/n多条栅极线，所述多条栅极线沿与所述第1方向交叉的第2方向延伸；/n多个像素电极，所述多个像素电极沿所述第1方向和所述第2方向排列；/n多个共用电极，所述多个共用电极与沿所述第1方向及所述第2方向排列的多个触摸区域分别对应地配置，且与所述多个像素电极相向地配置；/n多条传感器电极线，所述多条传感器电极线与所述多个共用电极的各个共用电极电连接；/n多条检查用信号线，所述多条检查用信号线经由多个检查用薄膜晶体管与所述多个共用电极的各个共用电极电连接；以及/n检查用栅极线，其与所述多个检查用薄膜晶体管的栅电极连接。/n

【技术特征摘要】
20190130 JP 2019-0144001.一种显示装置，包括：
多条源极线，所述多条源极线沿第1方向延伸；
多条栅极线，所述多条栅极线沿与所述第1方向交叉的第2方向延伸；
多个像素电极，所述多个像素电极沿所述第1方向和所述第2方向排列；
多个共用电极，所述多个共用电极与沿所述第1方向及所述第2方向排列的多个触摸区域分别对应地配置，且与所述多个像素电极相向地配置；
多条传感器电极线，所述多条传感器电极线与所述多个共用电极的各个共用电极电连接；
多条检查用信号线，所述多条检查用信号线经由多个检查用薄膜晶体管与所述多个共用电极的各个共用电极电连接；以及
检查用栅极线，其与所述多个检查用薄膜晶体管的栅电极连接。


2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，
沿所述第1方向排列的多个共用电极分别与不同的所述检查用薄膜晶体管连接。


3.根据权利要求2所述的显示装置，其特征在于，
在所述第2方向上相邻的2个共用电极分别与不同的所述检查用薄膜晶体管连接。


4.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，
在所述第1方向上相邻的2个共用电极分别与不同的所述检查用信号线连接。


5.根据权利要求4所述的显示装置，其特征在于，
在所述第2方向上相邻的2个共用电极分别与不同的所述检查用信号线连接。


6.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，
在所述第2方向上相邻的2个共用电极分别与不同的所述检查用信号线连接。


7.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，
对所述多个共用电极中包括的第1共用电极连接了所述检查用信号线中的、与连接于在所述第1共用电极的周围相邻地配置的共用电极的检查用信号线不同的检查用信号线。


8.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，
在所述第1方向上相邻的2个共用电极的经由所述多条检查...

【专利技术属性】
技术研发人员：深海徹夫，石井正宏，
申请(专利权)人：松下液晶显示器株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP