一种透明材料光学检测方法技术

本发明专利技术公开了一种透明材料光学检测方法，包括以下步骤：S1、将相机、待测件、栅格板以及光源自上而下依次排布；S2、待测件与栅格板在水平方向上等间隔发生相对运动，运动N次，相机进行拍照，得到第一图像至第N图像；S3、对第一图像至第N图像进行图像抽取，得到第一抽取图像至第N抽取图像；S4、将第一抽取图像至第N抽取图像拼接形成最终图像。本发明专利技术采用一个相机，采用栅格板与待测件进行配合，通过使栅格板与待测件发生相对运动，拍摄出多组图像，而后对图像进行抽取、拼接，形成最终图像，操作者可直接通过最终图像直观的看出待测件的缺陷，提高了检测效率，无需采用多台相机，减少了成本的消耗。

【技术实现步骤摘要】
一种透明材料光学检测方法
本专利技术属于光学检测
，尤其涉及一种透明材料光学检测方法。
技术介绍
透明的光学元件是光学系统中极其重要的元件，透明光学元件表面的缺陷将会直接影响到光学元件的光学性能，在光学系统的操作过程中，采用存在缺陷的光学元件将会对测量结果带来很大影响，极大地影响测量精度，而这些光学元件在生产过程中难免会产生缺陷，因此，需要对这种透明的光学元件进行检测。传统的检测方式为采用多台相机，配合多个光源，分别进行多次拍摄，在多台相机和多个光源的配合作用下拍摄图像，对拍摄出的图像进行处理，实现对该透明元件的检测。
技术实现思路
本专利技术克服了现有技术的不足，提供一种透明材料光学检测方法，以解决现有技术中存在的问题。为达到上述目的，本专利技术采用的技术方案为：一种透明材料光学检测方法，包括以下步骤：S1、将相机、待测件、栅格板以及光源自上而下依次排布；S2、待测件与栅格板在水平方向上等间隔发生相对运动，运动N次，相机进行拍照，得到第一图像至第N图像；S3、对第一图像至第N图本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种透明材料光学检测方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1、将相机、待测件、栅格板以及光源自上而下依次排布；/nS2、待测件与栅格板在水平方向上等间隔发生相对运动，运动N次，相机进行拍照，得到第一图像至第N图像；/nS3、对第一图像至第N图像进行图像抽取，得到第一抽取图像至第N抽取图像；/nS4、将第一抽取图像至第N抽取图像拼接形成最终图像。/n

【技术特征摘要】
1.一种透明材料光学检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、将相机、待测件、栅格板以及光源自上而下依次排布；
S2、待测件与栅格板在水平方向上等间隔发生相对运动，运动N次，相机进行拍照，得到第一图像至第N图像；
S3、对第一图像至第N图像进行图像抽取，得到第一抽取图像至第N抽取图像；
S4、将第一抽取图像至第N抽取图像拼接形成最终图像。


2.根据权利要求1所述的一种透明材料光学检测方法，其特征在于，在步骤S1中，所述栅格板面积为待测件面积的1.5倍以上。


3.根据权利要求1所述的一种透明材料光学检测方法，其特征在于，在步骤S2中，每次相对运动的运动方向保持一致，每次相对运动的运动...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢刚，
申请(专利权)人：苏州英士派克光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32