多种测头变换数显卡表制造技术

一种属于测量仪器的多种测头变换数显卡表主要有主体、数显组件、连接杆、测杆、上测头和下测头等零部件，下测头与连接杆的左端连接，上测头与测杆连接，连接杆右端和主体下端粘接，数显组件用螺钉与主体正面连接，玻璃片粘接于数显组件罩壳的显示窗上，衬套与主体过盈配合连接，测杆与衬套滑动连接。广泛适用于珠宝装饰品的精密测量。（*该技术在2015年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量仪器，尤其是多种测头变换数显卡表。
技术介绍
随着科学技术的发展，高新技术不断渗透到各个领域。数显量具具有读数直观、测量简易、效率高、数据可与计算机连接和处理等优点，因此在珠宝装饰行业也得到了很快的发展和应用。但现有的数显卡表，尤其是量程为15毫米的数显卡表，测头样式少，测量喉深短，不能适应珠宝装饰品精密测量的需要。
技术实现思路
本技术提供一种测头样式多、测量简易、方便快捷、测量喉深长的多种测头变换数显卡表。本技术所采用的技术方案是多种测头变换数显卡表主要有主体、数显组件、连接杆、测杆、上测头和下测头等零部件。下测头与连接杆的左端连接，上测头与测杆连接，连接杆右端和主体下端粘接，数显组件用螺钉与主体正面连接，玻璃片粘接于数显组件罩壳的显示窗上，衬套与主体过盈配合连接，测杆与衬套滑动连接，十字槽平头螺钉与主体左上端连接，弹簧拉销与测杆的中端螺纹连接，弹簧的一端与十字槽平头螺钉连接，另一端与弹簧拉销相连，压帽与测杆的上端粘接，定栅板用十字槽小盘头螺钉与测杆的中端连接。采用上述方案后，使多种测头变换数显卡表具有结构紧凑，测头样式多，测量喉深长等优点。广泛适用于珠宝装饰品的精密测量。附图说明图1为多种测头变换数显卡表结构简图；图2为多种测头变换数显卡表卸下数显组件后的结构简图；图3为连接杆特征简图。图4为圆锥球形测头特征简图。图5为普通球形测头特征简图。图6为下测杆特征简图。图中1.连接杆2.主体3.数显组件4.玻璃片5.下测头6.上测头7.衬套8.测杆9.弹簧挂销10.十字槽小盘头螺钉11.弹簧12.十字槽平头螺钉13.压帽14.定栅板15.圆锥球形测头16.普通球形测头17.下测杆具体实施方式从图1、图2中可以看出，下测头(5)与连接杆(1)的左端连接，上测头(6)与测杆(8)连接，连接杆(1)右端和主体(2)下端粘接，数显组件(3)用螺钉与主体正面连接，玻璃片(4)粘接于数显组件(3)罩壳的显示窗上，衬套(7)与主体(2)过盈配合连接，测杆(8)与衬套(7)滑动连接，弹簧拉销(9)与测杆(8)的中端螺纹连接，十字槽平头螺钉(12)与主体(2)左上端连接，弹簧(11)的一端与十字槽平头螺钉(12)连接，另一端与弹簧拉销(9)相连，压帽(13)与测杆(8)的上端粘接，定栅板(14)用十字槽小盘头螺钉(10)与测杆(8)的中端连接。从图3可以看出，连接杆(1)的左端有一小孔，这小孔可根据下测头(5)的改变而改变为通孔或螺孔。图4中的圆锥球形测头(15)，其下端为小圆柱，上端为圆锥球形。图5中的普通球形测头(16)，其上端为M2.5毫米的螺纹，下端为球形钢珠测头。图6中的下测杆(17)，其左端为尖头形状。案例一如图1、图2所示，下测头(5)和上测头(6)为一组平面圆测头的数显卡表。案例二如图1、图2所示，下测头(5)变换为圆锥球形测头(15)和上测头(6)变换为普通球形测头(16)为一组圆弧测头的数显卡表。案例三如图1、图2所示，下测头(5)变换为普通球形测头(16)和上测头(6)变换为圆锥球形测头(15)为另一组圆弧测头的数显卡表。案例四如图1、图2所示，下测头(5)及连接杆(1)变换为下测杆(17)，配上相应尖头的上测杆为一组尖头测头的数显卡表。权利要求1.多种测头变换数显卡表有主体、数显组件、连接杆、测杆、上测头和下测头，其特征是下测头与连接杆的左端连接，上测头与测杆连接，连接杆右端和主体下端粘接，数显组件用螺钉与主体正面连接，玻璃片粘接于数显组件罩壳的显示窗上，衬套与主体过盈配合连接，测杆与衬套滑动连接，十字槽平头螺钉与主体左上端连接，弹簧拉销与测杆的中端螺纹连接，弹簧的一端与十字槽平头螺钉连接，另一端与弹簧拉销相连，压帽与测杆的上端粘接，定栅板用十字槽小盘头螺钉与测杆的中端连接。2.根据权利要求1所述的多种测头变换数显卡表，它的特征是连接杆的左端有一小孔，这小孔可根据下测头的改变而改变为通孔或螺孔。3.根据权利要求1所述的多种测头变换数显卡表，它的特征是圆锥球形测头，其下端为小圆柱，上端为圆锥球形。4.根据权利要求1所述的多种测头变换数显卡表，它的特征是下测杆左端为尖头形状。专利摘要一种属于测量仪器的多种测头变换数显卡表主要有主体、数显组件、连接杆、测杆、上测头和下测头等零部件，下测头与连接杆的左端连接，上测头与测杆连接，连接杆右端和主体下端粘接，数显组件用螺钉与主体正面连接，玻璃片粘接于数显组件罩壳的显示窗上，衬套与主体过盈配合连接，测杆与衬套滑动连接。广泛适用于珠宝装饰品的精密测量。文档编号G01B3/24GK2881527SQ20052013377公开日2007年3月21日 申请日期2005年10月19日 优先权日2005年10月19日专利技术者林强兴, 冯斌, 罗著光 申请人:桂林广陆数字测控股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
多种测头变换数显卡表有主体、数显组件、连接杆、测杆、上测头和下测头，其特征是：下测头与连接杆的左端连接，上测头与测杆连接，连接杆右端和主体下端粘接，数显组件用螺钉与主体正面连接，玻璃片粘接于数显组件罩壳的显示窗上，衬套与主体过盈配合连接，测杆与衬套滑动连接，十字槽平头螺钉与主体左上端连接，弹簧拉销与测杆的中端螺纹连接，弹簧的一端与十字槽平头螺钉连接，另一端与弹簧拉销相连，压帽与测杆的上端粘接，定栅板用十字槽小盘头螺钉与测杆的中端连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林强兴，冯斌，罗著光，
申请(专利权)人：桂林广陆数字测控股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：45[中国|广西]