光学测量装置制造方法及图纸

一种光学测量装置，测量一光学组件，其特征在于，该光学测量装置包含： 一基座； 一第一光纤对准器，系设置于该基座之上； 一第一光纤，定位于该第一光纤对准器上，随该第一光纤对准器调整而移动； 一第二光纤对准器，设置于该基座之上，且与该第一光纤对准器相对而设； 一第二光纤，定位于该第二光纤对准器，随该第二光纤对准器调整而移动； 一置放台，设置于该第一光纤对准器与该第二光纤对准器之间，以置放该光学组件；以及 一变温器，设置于该置放台的下方，且随所需的测量温度而改变该置放台的温度。（*该技术在2012年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术涉及一种光学测量装置，特别是一种可测量不同温度的光学组件的光学测量装置。在一般的制造过程中，光学组件必需经过光学测量装置的测量以确保光学组件的良率。如附图说明图1所示，操作者将待测的光学组件4直立置于光学测量装置3的展示台31上进行测量，测量时光源从一第一光纤准直器32射入光学组件4中，通过光学组件4的光线再进入一第二光纤准直器33中，该光线再传入光侦测器中(未显示于图)，所得所需的穿透光谱图。当第一光纤准直器32射入光学组件4的光源反射回第一光纤准直器32时，该光线也传入光侦测器中，转换成所需的反射光谱图。然而，光学组件经常需要在不同的工作温度下测量其光谱图，现有的光学测量装置并无此种功能。并且，光学组件直立设置于展示台上，容易产生倾斜的问题，所得光谱图的再现性以及精准度都低。同时，由于光学装置是一平置式装置，在一定的区域中，每单位面积的产能较小。再者，置换光学组件时需花费较长的时间，也增加制造成本。为实现上述目的，本技术提供一种光学测量装置，测量一光学组件，光学测量装置包含一基座、一第一光纤对准器、一第一光纤、一第二光纤对准器、一第二光纤、一置放台以及一变温器。其中，第一光纤对准器设置于基座之上；第一光纤定位于第一光纤对准器上，随第一光纤对准器调整而移动；第二光纤对准器设置于基座之上，且与第一光纤对准器相对而设；第二光纤定位于第二光纤对准器，随第二光纤对准器调整而移动；置放台设置于第一光纤对准器与第二光纤对准器之间，以置放光学组件；变温器设置于置放台的下方，且随所需的测量温度而改变置放台的温度。与现有技术相比，在本技术中提供一种可测量不同工作温度的光学测量装置，其利用变温器以及温度控制器精密调整与控制光学组件的温度。同时，在一定的区域中，直立式的光学测量装置其每单位面积的产能较大。再者，置放台具有一漏斗状特征，使用者能够轻易地放置光学组件，减少更换的时间。并且，光学组件平置于置放台上，使其定位方便，所测量的精准度、再现性以及重现性较好。另外，进行测量时只需利用置放台的旋转轴来调整光学组件的位置与角度，在进行重复测量时，也可减少操作的时间，进而降低制造成本。图2为本实施例中的光学测量装置的示意图。图3为本实施例中的第一光纤准直器的示意图。图4为本实施例中的第二光纤准直器的示意图。图5为本实施例中的置放台的示意图。图6为本实施例中的变温器的示意图。如图2所示，本技术提供一种光学测量装置1，测量一光学组件2，光学测量装置1包含一基座11、一第一光纤对准器12、一第一光纤13、一第二光纤对准器14、一第二光纤15、一置放台16以及一变温器17。其中，第一光纤对准器12设置于基座11之上；第一光纤13定位于第一光纤对准器12上，随第一光纤对准器12调整而移动；第二光纤对准器14设置于基座11之上，且与第一光纤对准器12相对而设；第二光纤15系位于第二光纤对准器14，随第二光纤对准器14调整而移动；置放台16设置于第一光纤对准器12与第二光纤对准器14之间，以置放光学组件2；变温器17设置于置放台16的下方，且随所需的测量温度而改变置放台16的温度。本实施例的一种光学测量装置1还包含一温度控制器18，以一管线与变温器17相连接，控制变温器17以改变置放台16的温度变化。如图3所示，第一光纤对准器12设置于基座11之上。第一光纤对准器12为一二轴位移平台，具有一第一旋转轴121、一第二旋转轴122。其中，第一旋转轴121使第一光纤对准器12沿着X轴移动；第二旋转轴122使第一光纤对准器12沿着Y轴移动，第一旋转轴121与第二旋转轴122均有微调的功能。当然，第一光纤对准器12也可以一四轴位移平台替代。另外，第一光纤13定位于第一光纤对准器12上，随第一光纤对准器12调整而移动。在此，第一光纤13为一双心光纤，同时可为一发射光纤，用以发射一光线；也可为一接收光纤，用以接收一光线。如图4所示，第二光纤对准器14设置于基座11之上，且与第一光纤对准器12相对而设。第二光纤对准器14为一四轴位移平台，具有一第一旋转轴141、一第二旋转轴142、一第三旋转轴143以及一第四旋转轴144。其中，第一旋转轴141使第二光纤对准器14沿着X轴移动；第二旋转轴142使第二光纤对准器14沿着Y轴移动；第三旋转轴143使第二光纤对准器14沿着X轴旋转；第四旋转轴144使第二光纤对准器14沿着Y轴旋转。该等旋转轴也有微调的功能。在此，如图4所示，第二光纤15定位于第二光纤对准器14，随第二光纤对准器14调整而移动。第二光纤15也为一双心光纤，同时可为一发射光纤，用以发射一光线；也可为一接收光纤，用以接收一光线。再请参考图5所示，置放台16为一具有漏斗形置放口特征的平台，其特征是让操作者能够将测量的光学组件2轻易地置放且定位于平台上，减少使用者在置换光学组件2时所花费的时间。再者，光学组件2平置于置放台16上，可减少位移的产生，使得光学组件的2定位更加容易，进而增加测量的再现性、重复性以及精确性。当然，置放台16也可为不同形式的平台，例如L形的置放台。如同第二光纤对准器14，置放台16为一四轴位移平台，具有一第一旋转轴161、一第二旋转轴162、一第三旋转轴163以及一第四旋转轴164。其中，第一旋转轴161使置放台16沿着X轴移动；第二旋转轴162使置放台16沿着Y轴移动；第三旋转轴163使置放台16沿着X轴旋转；第四旋转轴164使置放台16沿着Y轴旋转。在此，该等旋转轴也有微调的功能。再请参考图6，本实施例的变温器17设置于置放台16的下方，且随所需的测量温度而改变置放台16的温度，用以改变待测光学组件2的温度，以测量不同温度下光学组件2的光谱图。在此，变温器17为一电热冷却组件(thermolectric chiller element，TEC element)，其为一用以加热/冷却的组件。电热冷却组件包含一组电热组件、一传导板以及一翼片加热槽，该组电热组件如三明治般的设置于传导板与翼片加热槽之间，此设置方式利于将热散至空气中。变温器17以一管线与温度控制器18相连接，且温度控制器18控制变温器17达到所需的温度。亦即，当实际温度大于所需温度时，利用变温器17冷却置放台16；当实际温度小于所需温度时，利用变温器17加热置放台16。使用温度控制器18可以精密控制温度的变化，在操作时更能够轻易地调整至欲测量的温度。此外，如图2所示，本实施例中的第一光纤13、光学组件2与第二光纤15位于一直线上。于本实施例中，某一范围波长的光线由第一光纤13射入置放于置放台16的光学组件2(如高密度多任务分合器，DWDM)，穿透过光学组件2的光线，接着进入第二光纤15中，穿过第二光纤15的光线再传入光侦测器(未显示于图中)，最后得到光学组件2的一穿透光谱图。另外，当光线由第一光纤13射入置放于置放台16的光学组件2，光学组件2所反射的光线，再次进入第一光纤13中，穿过第一光纤13的光线再传入光侦测器，最后得到光学组件2的一反射光谱图。相同地，光线也可由第二光纤15射入光学组件2中，侦测其穿透光谱以及反射光谱。本实施例中的光侦测器用以侦测通过光学组件2的一光线，且分别与第一光纤13以及第二光纤15相连接。在进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈士恩，
申请(专利权)人：精碟科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：