【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本申请涉及建筑结构的位移测量装置，特别涉及结构水平位移观测装置。监视结构位移对于重要建筑物的安全使用十分重要。在高耸大跨度结构测定中，广泛使用铅垂线(以下称张线)把高空、远距离的结构位移传递到地面或人们容易接近的位置进行测量。测量张线的位移即是结构的位移。在利用张线测量位移技术中，法国使用了一种极座标游标卡尺读数器测量核电站安全壳的水平位移(《核电工程与技术》1996年第3期)。它是一个半圆形的读数盘，有一个缺口，该盘与测点相对固定安装，并使张线从缺口通过。在盘的缺口附近有基准物，它是2个圆锥体尖锋。在盘的边缘左右圆弧上分别有游标卡尺。测量时移动游标卡尺的副尺使张线、尖锋的锋尖、副尺瞄准孔同在一直线上，记录游标卡尺的读值，算出张线的原始位置(x0、y0)。当张线发生水平位移时，重新调整上述三点在一直线上，再记录读值，并再次算出张线的位置(x1、y1)。最终算出张线的位移值。利用该装置测量位移，测读方便，长期稳定性好。但是分辨率低(0.1mm)，测量精度不高(0.5mm)，而且要用三角函数计算，比较烦琐。影响测量精度的主要因素是两个弧长的测读误差大。此外，圆锥...
【技术保护点】
结构水平位移观测装置，包括一个可以安装在对被测结构来说是相对固定点的托盘（４），它有一个通过测点张线（１）的缺口，缺口附近的托盘上有测量基准物，其特征是：ａ．所说托盘上的基准物有一个，它是一个至少有一条直线段垂直于托盘（４）的物体； ｂ．还有光路上有十字丝的显微镜（６）和螺旋测微器（７），它们在托盘（４）上相互垂直安装，前者在上，后者在下，用螺丝把显微镜（６）固定在螺旋测微器（７）的滑块上；ｃ．以所说显微镜能清楚瞄准张线（１）时，其调焦范围的中点作为它们在托盘（４） 上的安装定位点，这样的定位点在ｘ方向和ｙ方向各取１个；ｄ．所说基准物的直线段至缺口中心的...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员：赵树明，林松涛，谢永金，
申请(专利权)人：冶金工业部建筑研究总院，
类型：实用新型
国别省市：11[中国|北京]
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