利用二维PSD位置传感器测量矩形导轨直线度的装置制造方法及图纸

技术编号:2516062 阅读:317 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种利用二维PSD位置传感器测量矩形导轨直线度的装置,包括光学部分、PSD传感器和信号处理电路。光学部分包括光学支架上设置的激光器,激光器的发射端连接有准直装置,在准直装置的照射区设置有PSD传感器,PSD传感器安装在直线矩形导轨上的工作台上,工作台由与PC机4连接的驱动电机驱动,PSD传感器与信号处理电路连接;信号处理电路包括I/V转换电路,I/V转换电路与加减电路、除法电路、模拟通道选择开关、A/D转换器、单片机和串行通讯电路依次连接,串行通讯电路与上位机连接。本实用新型专利技术在具体实施时将整个装置作成一个能够独立工作的数据采集箱,信号的采集由内置单片机控制来实现,实现了小型化、集成化、数字化以及易用性。(*该技术在2018年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术属于测量
,涉及一种利用二维PSD位置传感器测 量矩形导轨直线度的装置。
技术介绍
世界各个国家对导轨直线度测量领域一直予以高度重视,并不断推出新 型高精度直线度测量方法和装置,以满足日益增长的对产品质量的要求。对 导轨直线度的测量有两方面的目的和要求, 一是精确度要求,即测量结果必 须达到一定的可信程度;二是经济性要求,即在保证测量结果精确性的前提 下,应使测量过程简单、经济,花费代价最小。要满足这两方面的要求,应 使用集光、机、电、算等新技术T一一体的新型测量仪器,进行实时、快速、 非接触测量,这是现代导轨空间直线度测量技术的发展方向。无直线基准测量法,是指被测对象直线度的测量不是与某种直线基准进 行比较,而是沿被测表面以线值测量的方法,得到被测表面上各采样点的偏 差值,然后经数据处理得到被测对象的直线度误差。直线基准测量法是直接采用一定的直线基础(Straight Line reference), 并以此基准来检测被测表面的直线度误差(线差或角度值),从而获得被测 表面的直线度误差值。所采用的直线基准通常实物基准、重力水平基准和光 线基准有三种方法。目前国内外在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用二维PSD位置传感器测量矩形导轨直线度的装置,其特征在于,包括光学部分、PSD传感器和信号处理电路,光学部分包括光学支架,在光学支架上设置有激光器(1),激光器的发射端连接有准直装置,在准直装置的照射区设置有PSD传感器(2),PSD传感器(2)安装在直线矩形导轨上的工作台上,工作台由驱动电机驱动,驱动电机与上位机连接,PSD传感器(2)与信号处理电路(3)连接;信号处理电路(3)包括I/V转换电路,I/V转换电路与加减电路、除法电路、模拟通道选择开关、A/D转换器、单片机(5)和串行通讯电路依次连接,串行通讯电路与上位机连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:乔卫东马薇于殿泓王思恩
申请(专利权)人:西安理工大学
类型:实用新型
国别省市:87[中国|西安]

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