阻抗测量探针和活检装置制造方法及图纸

本申请涉及一种用于在活检装置中使用的阻抗测量探针，包括金属细长部件，该金属细长部件有细长表面、近端部分和远端部分。细长表面有凹入纵向槽道，该纵向槽道有一定深度，从近端部分纵向延伸至远端部分中。具有连接端和感测端的导线电极位于凹入纵向槽道中并沿该凹入纵向槽道延伸。连接端从金属细长部件的近端部分伸出，感测端位于金属细长部件的远端部分处。绝缘材料布置在金属细长部件的凹入纵向槽道中并环绕导线电极，以使得导线电极电绝缘，且导线电极的感测端暴露。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】阻抗测量探针和活检装置相关申请的交叉引用无。
本专利技术涉及活检装置，更特别是涉及一种具有用于测量组织阻抗的探针的活检装置。
技术介绍
可以对患者进行活检，以便帮助确定在感兴趣区域中的组织是否包括癌细胞。一种活检技术涉及将活检探针插入感兴趣的组织区域中，以便从该区域中捕获一个或多个组织试样。这种活检技术通常利用锋利探针来穿透在感兴趣的组织区域中或附近的组织，然后收集组织样本。在本领域中持续努力提高活检装置的、监视收集组织试样的组织穿透方面的能力。本领域需要一种具有用于测量组织阻抗的活检探针的活检装置，以方便组织类型的确定和/或穿透深度的测量。
技术实现思路
本专利技术提供了一种活检装置，该活检装置具有活检探针，用于测量组织阻抗，以方便组织类型的确定和/或穿透深度的测量。在一种形式中，本专利技术涉及一种用于在活检装置中使用的阻抗测量探针。该阻抗测量探针包括金属细长部件，该金属细长部件有纵向轴线、细长表面、近端、远端、从近端向远侧延伸的近端部分以及从远端向近侧延伸的远端部分。细长表面有凹入纵向槽道，该凹入纵向槽道具有径向深度，从近端部分纵向延伸至远端部分中。具有连接端和感测端的导线电极位于凹入纵向槽道中并沿该凹入纵向槽道延伸。连接端从金属细长部件的近端部分伸出，感测端位于金属细长部件的远端部分处。绝缘材料布置在金属细长部件的凹入纵向槽道中并环绕导线电极，以使得导线电极电绝缘。导线电极的感测端在金属细长部件的远端部分处暴露。在另一形式中，本专利技术涉及一种活检装置。该活检装置包括活检驱动器，该活检驱动器有壳体，该壳体承载控制器电路和马达。控制器电路与马达电连接和通信连接。马达有马达轴。细长金属管心针有细长表面、近端、远端、从近端向远侧延伸的近端部分以及从远端向近侧延伸的远端部分。近端部分与马达的马达轴可驱动地连接。细长表面有多个凹入纵向槽道，这些凹入纵向槽道从近端部分延伸至远端部分中。该多个凹入纵向槽道中的各凹入纵向槽道具有径向深度。至少一个导线电极位于该多个凹入纵向槽道的各槽道中，其中各导线电极布置在该多个凹入纵向槽道中的相应凹入纵向槽道中并沿该相应凹入纵向槽道延伸。各导线电极有从细长金属管心针的近端部分伸出的连接端，并有位于细长金属管心针的远端部分中的感测端。连接端与控制器电路电连接。绝缘材料布置在细长金属管心针的多个凹入纵向槽道中并环绕各相应导线电极，以使得各相应导线电极电绝缘。各相应导线电极的感测端在细长金属管心针的远端部分处暴露。在另一形式中，本专利技术涉及一种用于与活检装置一起使用的阻抗测量探针结构。阻抗测量探针包括管形部件，该管形部件有管形侧壁，该管形侧壁有第一近端、第一远端以及从第一远端向近端延伸的第一远端部分。管形侧壁确定管腔。细长金属管心针位于管腔中。该细长金属管心针有第二近端、第二远端以及从第二远端向近侧延伸的第二远端部分。至少一个凹入纵向槽道形成在管形部件的管形侧壁和细长金属管心针的一个或两个中，其中，各凹入纵向槽道沿管形部件的管形侧壁和细长金属管心针的一个的纵向长度延伸。至少一个导线电极位于各凹入纵向槽道中。导线电极通过绝缘材料而与管形部件和细长金属管心针电绝缘。各导线电极有连接端和感测端。附图说明通过参考下面结合附图对本专利技术实施例的说明，将更清楚本专利技术的上述和其它特征和优点以及实现它们的方式，并将更好地理解本专利技术，附图中：图1是实施本专利技术的活检装置的视图。图2是图1的活检装置的电学方框图。图3是图1的活检装置的探针结构的侧视图，其中，细长管心针设置为阻抗测量探针。图4A是图3的探针结构的同轴插管的侧视图。图4B是图4A的同轴插管的近端视图。图5A是图3的探针结构的细长管心针的放大侧视图，其中，细长管心针设置为阻抗测量探针。图5B是图5A的细长管心针的放大近端视图。图6是设置为阻抗测量探针的替代细长管心针的侧视图，具有多个导线电极的感测端的纵向结构和周向结构。图7A是替代同轴插管的侧视图，该同轴插管有细长管形部件，其设置为阻抗测量探针，具有多个导线电极的感测端的周向结构。图7B是图7A的同轴插管的近端视图。图7C是图7A的同轴插管沿图7A中的线7C-7C的剖视图。图8表示了在图7A的同轴插管的管形部件中的替代凹入槽道结构的剖视图，其中，在管腔处的细长内表面有多个凹入纵向槽道。在全部附图，相应参考标号表示相应部件。本文阐述的示例表示了本专利技术的实施例，且这些示例并不以任何方式解释为限制本专利技术的范围。具体实施方式下面参考附图，更特别是参考图1，图中表示了活检装置10，该活检装置10通常包括活检驱动器12和探针结构14。在本实施例中，探针结构14可以包括细长管心针16和细长同轴插管18。不过，在一些应用中，细长管心针16可以在没有同轴插管18的情况下使用。根据本专利技术的方面，探针结构14的至少一个部件(例如管心针、插管或者管心针和插管两者)可以设置成用作阻抗测量探针。还参考图2，活检驱动器12有壳体20，该壳体20承载(例如包含)用户界面22、控制器电路24和马达26。控制器电路24与各用户界面22和马达26电连接和通信连接，例如通过电线和/或电路迹线。用户界面22可以是例如触摸输入LCD显示屏。马达26可以是例如具有马达轴26-1的直流(DC)马达，马达轴26-1与细长管心针16可驱动地连接，以便使得细长管心针16旋转。控制器电路24设置成与阻抗测量探针(例如探针结构14的至少一个部件)电连接和通信连接，如下面更充分所述。如图2中所示，控制器电路24包括处理器电路28、模数(A/D)转换器电路30和脉冲宽度调制(PWM)电路32。处理器电路28与A/D转换器电路30、PWM电路32和用户界面22电连接和通信连接，例如通过电线和/或电路迹线。控制器电路24可以形成为一个或多个专用集成电路(ASIC)。A/D转换器电路30包括多个阻抗输入端口34，这些阻抗输入端口34分为两个子组，即：阻抗输入端口ZIN-A、ZIN-B…ZIN-X和阻抗输入端口ZIN-1、ZIN-2…ZIN-N。阻抗输入端口ZIN-A、ZIN-B…ZIN-X可以用于例如接收用于组织阻抗/组分确定的阻抗输入。阻抗输入端口ZIN-1、ZIN-2…ZIN-N可以用于例如接收用于探针穿透深度确定的阻抗输入。来自阻抗测量探针的相应连接端(例如，探针结构14的至少一个部件)直接或通过电阻分压器结构而与阻抗输入端口连接。处理器电路28包括例如微处理器28-1、非暂时性电子存储器电路28-2以及相关电路系统，例如输入/输出界面、时钟、缓冲器等。存储器电路28-2是非暂时性电子存储器，它可以包括易失性存储器例如随机存取存储器(RAM)和非暂时性存储器例如只读存储器(ROM)、可电子擦除可编程ROM(EEPROM)、NOR闪存、NAND闪存等。处理器电路28设置成通过存在于存储器电路28-2中的软件和/或固件来执行程序指令，以便执行与以下相关的功能：读取在A本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于在活检装置中使用的阻抗测量探针，包括：/n金属细长部件，所述金属细长部件具有纵向轴线、细长表面、近端、远端、从近端向远侧延伸的近端部分以及从远端向近侧延伸的远端部分，细长表面具有凹入纵向槽道，所述凹入纵向槽道具有径向深度，且从近端部分纵向延伸至远端部分中；/n导线电极，所述导线电极具有连接端和感测端，所述导线电极位于凹入纵向槽道中并沿所述凹入纵向槽道延伸，连接端从金属细长部件的近端部分伸出，感测端位于金属细长部件的远端部分处；以及/n绝缘材料，所述绝缘材料布置在金属细长部件的凹入纵向槽道中并环绕导线电极，以使得导线电极电绝缘，且导线电极的感测端在金属细长部件的远端部分处暴露。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于在活检装置中使用的阻抗测量探针，包括：
金属细长部件，所述金属细长部件具有纵向轴线、细长表面、近端、远端、从近端向远侧延伸的近端部分以及从远端向近侧延伸的远端部分，细长表面具有凹入纵向槽道，所述凹入纵向槽道具有径向深度，且从近端部分纵向延伸至远端部分中；
导线电极，所述导线电极具有连接端和感测端，所述导线电极位于凹入纵向槽道中并沿所述凹入纵向槽道延伸，连接端从金属细长部件的近端部分伸出，感测端位于金属细长部件的远端部分处；以及
绝缘材料，所述绝缘材料布置在金属细长部件的凹入纵向槽道中并环绕导线电极，以使得导线电极电绝缘，且导线电极的感测端在金属细长部件的远端部分处暴露。


2.根据权利要求1所述的阻抗测量探针，其中：金属细长部件是具有外表面的实心金属管心针，其中，所述管心针的外表面是具有凹入纵向槽道的细长表面。


3.根据权利要求1所述的阻抗测量探针，其中：金属细长部件是管形部件，所述管形部件具有确定管腔、外表面和内表面的管形侧壁，其中，外表面是具有凹入纵向槽道的细长表面。


4.根据权利要求1所述的阻抗测量探针，其中：金属细长部件是管形部件，所述管形部件具有确定管腔和内表面的管形侧壁，其中，内表面是具有凹入纵向槽道的细长表面。


5.根据权利要求1-4中任意一项所述的阻抗测量探针，其中：绝缘材料填充凹入纵向槽道。


6.根据权利要求1-5中任意一项所述的阻抗测量探针，还包括：多个导线电极，这些导线电极位于凹入纵向槽道中并沿所述凹入纵向槽道延伸，其中，绝缘材料使得多个导线电极彼此电绝缘以及与金属细长部件电绝缘，所述多个导线电极中的各导线电极具有连接端和感测端，所述连接端从金属细长部件的近端部分伸出，且感测端位于金属细长部件的远端部分处。


7.根据权利要求1-6中任意一项所述的阻抗测量探针，其中：金属细长部件具有多个凹入纵向槽道，这些凹入纵向槽道从近端部分延伸至远端部分中，且还包括：
多个导线电极，所述多个导线电极中的各导线电极位于所述多个凹入纵向槽道中的相应凹入纵向槽道中，并沿所述相应凹入纵向槽道延伸，其中，所述多个导线电极中的各导线电极具有从金属细长部件的近端部分伸出的连接端以及位于金属细长部件的远端部分中的感测端；以及
绝缘材料，所述绝缘材料布置在金属细长部件的多个凹入纵向槽道中并环绕所述多个导线电极中的相应导线电极，以使得所述相应导线电极电绝缘，所述多个导线电极中的各相应导线电极的感测端在金属细长部件的远端部分处暴露。


8.根据权利要求1-7中任意一项所述的阻抗测量探针，还包括：多个感测端的周向结构，所述周向结构位于金属细长部件的远端部分处并在金属细长部件的远侧尖端附近，所述多个感测端的周向结构设置成提供组织阻抗信息。


9.根据权利要求7和8中任意一项所述的阻抗测量探针，还包括：多个感测端的纵向间隔结构，所述纵向间隔结构沿金属细长部件的远端部分定位，多个感测端的纵向间隔结构设置成提供穿透深度信息。


10.根据权利要求9所述的阻抗测量探针，还包括：多个周向金属带的纵向间隔结构，周向金属带的所述纵向间隔结构环绕金属细长部件的远端部分，绝缘材料插入多个周向金属带和金属细长部件之间，多个周向金属带分别与多个感测端的纵向间隔结构电连接。


11.根据权利要求1-10中任意一项所述的阻抗测量探针，其中：金属细长部件是实心管心针和具有管形侧壁的管形部件中的一种。


12.一种活检装置，包括：
活检驱动器，所述活检驱动器具有壳体，所述壳体承载控制器电路和马达，控制器电路与马达电连接和通信连接，马达具有马达轴；
细长金属管心针，所述细长金属管心针具有细长表面、近端、远端、从近端向远侧延伸的近端部分以及从远端向近侧延伸的远端部分，近端部分与马达的马达轴驱动连接，细长表面具有多个凹入纵向槽道，这些凹入纵向槽道从近端部分延伸至远端部分中，所述多个凹入纵向槽道中的各凹入纵向槽道具有径向深度；
至少一个导线电极，所述导线电极位于所述多个凹入纵向槽道的各凹入纵向槽道中，其中，各导线电极位于所述多个凹入纵向槽道中的相应凹入纵向槽道中并沿所述相应凹入纵向槽道延伸，各导线电极具有从细长金属管心针的近端部分伸出的连接端，并具有位于细长金属管心针的远端部分中的感测端，连接端与控制器电路电连接；以及
绝缘材料，所述绝缘材料布置在细长金属管心针的多个凹入纵向槽道中并环绕各相应导线电极，以使得各相应导线电极电绝缘，各相应导线电极的感测端在细长金属管心针的远端部分处暴露。

【专利技术属性】
技术研发人员：J·P·阿狄森，S·D·科尔迈尔，A·辛格，
申请(专利权)人：巴德股份有限公司，
类型：发明
国别省市：美国;US