一种适用于AOA算法定位基站的校正方法及校正装置制造方法及图纸

技术编号:25126611 阅读:30 留言:0更新日期:2020-08-05 02:56
本发明专利技术涉及定位基站的校正技术领域,尤其涉及一种适用于AOA算法定位基站的校正方法,包括:标记出定位基站的中心所在水平面上的投影位置;以投影位置为中心,分别于相对投影位置的多个预设角度上标记出多个测量点;将校正装置分别设置于多个测量点上,使用校正装置多次向定位基站发送校正信号以得到定位基站的到达角估算值;校正装置根据多次测量得到的到达角估算值计算出一安装误差,并根据安装误差对定位基站进行补偿。有益效果:对完成安装后的定位基站进行校正,可以补偿天线阵列方向带来的计算偏差,从而简化了定位基站的安装过程及降低安装的复杂度,同时提高了定位系统的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于AOA算法定位基站的校正方法及校正装置
本专利技术涉及定位基站的校正
,尤其涉及一种适用于AOA算法定位基站的校正方法及校正装置。
技术介绍
近年来,随着科学技术的发展和人类生活水平的提高,无线与移动设备得到了广泛使用,对定位的需求已经不仅仅局限于航空、航海、测绘等领域。目前较为成熟的无线定位系统主要是卫星定位系统,如全球定位系统(GPS)、全球卫星导航系统(GLONASS)、北斗等,其利用卫星系统中的多个卫星实现移动目标的三维定位。其中,GPS是当前技术上最成熟且已实用的导航定位系统。尽管直接使用GPS可以达到较高的定位精度,但是GPS的使用仍然受到很多因素和环境的制约,如其不适合用于室内和建筑物较密集的市区、实时性能不太好。因此发展一个定位性能优、成本低廉且易部署的定位方法成为了关注热点。阵列信号处理在移动通信、信号识别、参数估计、电子对抗等领域有着广泛的应用和快速的发展。阵列信号处理的基本原理是首先对信号进行空间采样,然后对得到的数据进行处理,它的主要内容有很多,比如空间谱估计技术、波束形成技术、零点技术等,但这些本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用于AOA算法定位基站的校正方法,用于对完成安装后的定位基站进行校正,其特征在于,包括以下步骤:/n步骤S1,标记出所述定位基站的中心所在水平面上的投影位置;/n步骤S2,以所述投影位置为中心,分别于相对所述投影位置的多个预设角度上标记出多个测量点;/n步骤S3,将校正装置分别设置于多个所述测量点上,使用所述校正装置多次向所述定位基站发送校正信号以得到所述定位基站的到达角估算值;/n步骤S4,所述校正装置根据多次测量得到的所述到达角估算值计算出一安装误差,并根据所述安装误差对所述定位基站进行补偿。/n

【技术特征摘要】
1.一种适用于AOA算法定位基站的校正方法,用于对完成安装后的定位基站进行校正,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S1,标记出所述定位基站的中心所在水平面上的投影位置;
步骤S2,以所述投影位置为中心,分别于相对所述投影位置的多个预设角度上标记出多个测量点;
步骤S3,将校正装置分别设置于多个所述测量点上,使用所述校正装置多次向所述定位基站发送校正信号以得到所述定位基站的到达角估算值;
步骤S4,所述校正装置根据多次测量得到的所述到达角估算值计算出一安装误差,并根据所述安装误差对所述定位基站进行补偿。


2.根据权利要求1所述的校正方法,其特征在于,于所述步骤S2中,多个所述预设角度包括一第一预设角度、一第二预设角度、一第三预设角度、一第四预设角度,分别为0°、90°、180°、270°。


3.根据权利要求2所述的校正方法,其特征在于,所述步骤S4具体包括:
步骤S41,所述校正装置对接收到的所有所述到达角估算值进行筛选,以将异常的所述到达角估算值剔除;
步骤S42,在剔除异常的所述到达角估算值后,于每个所述预设角度上,根据剩余的所述到达角估算值于每个所述预设角度上取所述到达角估算值的均值;
步骤S43,根据每个所述预设角度对应的所述均值计算出所述安装误差,并根据所述安装误差对所述定位基站进行补偿。


4.根据权利要求3所述的校正方法,其特征在于,于所述步骤S41中,筛选所述到达角估算值的过程包括:
假设所述校正装置接收到的N次所述到达角估算值分别为x1,x2,x3,……,xN,根据下列计算公式计算出N次所述到达角估算值的均值和标准差:






其中,
i=1,2,3,...,N

用于表示N次所述到达角估算值的所述均值;
Sx用于表示N次所述到达角估算值的所述标准差;
根据下列公式计算出肖维勒系数:
ω=1+0.4ln(N)
若某次所述到达角估算值与所述均值之差的绝对值大于所述标准差与所述肖维勒系数之积时,则剔除该次所述到达角估算值,即时,xi被剔除。


5.根据权利要求4所述的校正方法,其特征在于,根据所述步骤S41的筛选过程筛选出的所述到达角估算值的置信概率为


6.根据权利要求3所述的校正方法,其特征在于,于所述步骤S43中,根据每个所述预设角度对应的所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:魏强吴川刘金阳
申请(专利权)人:上海磐启微电子有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

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