电路板测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种电路板测试治具，涉及电路板测试技术领域。该电路板测试治具包括测试对接组件和测试组件，测试对接组件包括测试安装板、测试顶针板及多个测试顶针，测试安装板用于固定连接待测电路板，测试顶针板上开设有数量多于测试顶针的测试孔，多个测试顶针可拆卸地一一设置于测试孔，测试安装板活动连接于测试顶针，且被构造为能够沿第一方向靠近测试顶针板运动，以使多个测试顶针分别与待测电路板上的测试接口电连接，其中，第一方向为垂直于测试顶针板且朝向测试顶针板的方向，测试组件分别与多个测试顶针电连接，且用于测试待测电路板。该电路板测试治具具有能够适配多种待测电路板，利用率较高的特点。

【技术实现步骤摘要】
电路板测试治具
本技术涉及电路板测试
，具体而言，涉及一种电路板测试治具。
技术介绍
在生产装配中，大多需要对电路板进行测试，以确保装配好的部件能够正常工作。而现在有的测试治具仅针对一种电路板，对于不同的电路板，需要更换不同的测试治具，其治具利用率较低，物料成本较高。有鉴于此，研发设计出一种能够解决上述技术问题的电路板测试治具显得尤为重要。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种电路板测试治具，其具有能够适配多种待测电路板，利用率较高的特点。本技术提供一种技术方案：第一方面，本技术实施例提供了一种电路板测试治具，包括测试对接组件和测试组件，所述测试对接组件包括测试安装板、测试顶针板及多个测试顶针；所述测试安装板用于固定连接待测电路板；所述测试顶针板上开设有数量多于所述测试顶针的测试孔，多个所述测试顶针可拆卸地一一设置于所述测试孔，所述测试安装板活动连接于所述测试顶针，且被构造为能够沿第一方向靠近所述测试顶针板运动，以使多个所述测试顶针分别与所述待测电路板上的测试接口电连接，其中，所述第一方向为垂直于所述测试顶针板且朝向所述测试顶针板的方向；所述测试组件分别与多个所述测试顶针电连接，且用于测试所述待测电路板。结合第一方面，在第一方面的第一种实现方式中，所述测试安装板上开设有多个测试安装孔，所述测试安装板上开设有多个测试安装孔，所述测试对接组件还包括数量少于所述测试安装孔的多个测试安装件，多个所述测试安装件可拆卸地一一设置于所述测试安装孔，所述测试安装件用于可拆卸地连接所述待测电路板，以连接所述待测电路板于所述测试安装板。结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第二种实现方式中，所述测试安装件包括依次连接的第一安装段和第二安装段，且所述第一安装段和所述第二安装段呈夹角设置，所述第一安装段可拆卸地设置于所述测试安装孔，多个所述第二安装段远离对应的所述第一安装段的一端用于可拆卸连接所述待测电路板。结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第三种实现方式中，所述电路板测试治具还包括测试机架，所述测试顶针板安装于所述测试机架，所述测试安装板位于所述测试顶针板远离所述测试机架的一侧；所述测试安装板上还开设有测试通孔，所述第二安装段远离所述第一安装段的一端延伸至所述测试通孔，以使所述待测电路板与所述测试通孔相对应，且所述测试通孔与所述测试顶针相对应，并被构造为在所述测试安装板靠近所述测试顶针板运动时，所述测试顶针穿过所述测试通孔，并与所述测试接口电连接。结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第四种实现方式中，所述测试对接组件还包括测试压持板和多个测试压持件；多个所述测试压持件均连接于所述测试压持板，所述测试压持板活动连接于所述测试机架，且被构造为能够沿所述第一方向靠近所述测试安装板运动，以沿所述第一方向抵持所述测试安装板，并带动所述测试压持件压持所述待测电路板远离所述测试顶针板的一侧。结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第五种实现方式中，所述测试压持板上开设有数量多于所述测试压持件的多个测试压持孔，多个所述测试压持件可拆卸地一一设置于所述测试压持孔。结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第六种实现方式中，所述测试对接组件还包括多个受力柱；多个所述受力柱分布设置于所述测试安装板的边沿，且位于所述测试安装板和所述测试压持板之间，并被构造为所述测试压持板通过多个所述受力柱共同压持所述测试安装板。结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第七种实现方式中，所述测试对接组件还包括测试导向柱，所述测试导向柱沿所述第一方向设置，且所述测试压持板滑动连接于所述测试压持板。结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第八种实现方式中，所述测试对接组件还包括测试提拉杆，所述测试提拉杆的一端转动连接于所述测试压持板，且所述测试提拉杆靠近所述测试压持板的位置与所述测试机架转动连接。结合第一方面及其上述实现方式，在第一方面的第九种实现方式中，所述测试对接组件还包括测试缓冲件，所述测试缓冲件包括缓冲弹性部和缓冲导向部；所述缓冲导向部的一端连接于所述测试顶针板，另一端可活动地穿设于所述测试安装板，且沿所述第一方向设置，所述缓冲弹性部弹性形变的压缩设置于所述测试安装板和所述测试顶针板之间，以使所述测试安装板能够沿所述缓冲导向部靠近所述测试顶针板运动。相比现有技术，本技术实施例提供的电路板测试治具相对于现有技术的有益效果包括：测试对接组件包括测试安装板、测试顶针板及多个测试顶针，测试安装板固定连接待测电路板，在测试顶针板上开设有数量多于测试顶针的测试孔，多个测试顶针可拆卸地一一设置于测试孔，由于测试顶针的数量少于测试孔，该测试顶针可选择地设置于不同位置的测试孔内，并且测试安装板活动连接于测试顶针，且被构造为能够沿第一方向靠近测试顶针板运动，以使多个测试顶针分别与待测电路板上的测试接口电连接，其中，第一方向为垂直于测试顶针板且朝向测试顶针板的方向。这样一来，在使用时，使用者可将测试顶针设置于与测试接口对应的第一测试孔内，并将待测电路板固定于待测安装板，以使得测试顶针与对应的待测电路板上的测试接口对应，再通过带动测试安装板沿第一方向靠近测试顶针板运动，以使测试顶针与测试接口对接，再由测试组件完成对待测电路板的测试。而在待测电路板更换或者待测电路板的测试接口的分布位置改变时，使用者可通过调整测试顶针于不同位置的测试孔内，以使得测试顶针能够适配不同的待测电路板或不同分布的测试接口，以提高测试治具的利用率。为使本技术的上述目的、特征及优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定。对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本技术实施例提供的电路板测试治具的结构示意图。图2为图1中的II处的局部放大结构示意图。图标：10-电路板测试治具；12-测试对接组件；121-测试压持板；1212-测试压持孔；1213-测试压持件；122-测试安装板；1221-测试安装孔；1222-测试通孔；123-测试安装件；1231-第一安装段；1232-第二安装段；1241-测试顶针板；1242-测试孔；1243-测试顶针；1244-固定块；125-测试缓冲件；1251-缓冲弹性部；1252-缓冲导向部；126-受力柱；127-测试导向柱；128-测试连接板；129-测试提拉杆；15-测试组件；151-测试电流表；152-测试电压表；153-功能测试件；1531-锂电池；1532-脉冲灯管；1533-风扇；1534-外接电源接口；1535-白炽灯；1536-充放电电容；1537-制冷片；1538-触摸按键；1539-观察窗口；本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电路板测试治具，其特征在于，包括测试对接组件和测试组件，所述测试对接组件包括测试安装板、测试顶针板及多个测试顶针；/n所述测试安装板用于固定连接待测电路板；/n所述测试顶针板上开设有数量多于所述测试顶针的测试孔，多个所述测试顶针可拆卸地一一设置于所述测试孔，所述测试安装板活动连接于所述测试顶针，且被构造为能够沿第一方向靠近所述测试顶针板运动，以使多个所述测试顶针分别与所述待测电路板上的测试接口电连接，其中，所述第一方向为垂直于所述测试顶针板且朝向所述测试顶针板的方向；/n所述测试组件分别与多个所述测试顶针电连接，且用于测试所述待测电路板。/n

【技术特征摘要】
1.一种电路板测试治具，其特征在于，包括测试对接组件和测试组件，所述测试对接组件包括测试安装板、测试顶针板及多个测试顶针；
所述测试安装板用于固定连接待测电路板；
所述测试顶针板上开设有数量多于所述测试顶针的测试孔，多个所述测试顶针可拆卸地一一设置于所述测试孔，所述测试安装板活动连接于所述测试顶针，且被构造为能够沿第一方向靠近所述测试顶针板运动，以使多个所述测试顶针分别与所述待测电路板上的测试接口电连接，其中，所述第一方向为垂直于所述测试顶针板且朝向所述测试顶针板的方向；
所述测试组件分别与多个所述测试顶针电连接，且用于测试所述待测电路板。


2.根据权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于，所述测试安装板上开设有多个测试安装孔，所述测试对接组件还包括数量少于所述测试安装孔的多个测试安装件，多个所述测试安装件可拆卸地一一设置于所述测试安装孔，所述测试安装件用于可拆卸地连接所述待测电路板，以连接所述待测电路板于所述测试安装板。


3.根据权利要求2所述的电路板测试治具，其特征在于，所述测试安装件包括依次连接的第一安装段和第二安装段，且所述第一安装段和所述第二安装段呈夹角设置，所述第一安装段可拆卸地设置于所述测试安装孔，多个所述第二安装段远离对应的所述第一安装段的一端用于可拆卸连接所述待测电路板。


4.根据权利要求3所述的电路板测试治具，其特征在于，所述电路板测试治具还包括测试机架，所述测试顶针板安装于所述测试机架，所述测试安装板位于所述测试顶针板远离所述测试机架的一侧；
所述测试安装板上还开设有测试通孔，所述第二安装段远离所述第一安装段的一端延伸至所述测试通孔，以使所述待测电路板与所述测试通孔相对应，且所述测试通孔与所述测试顶针相对应，并被构造为在所述测试安装板靠近所述测试顶针板运动时，所述测试顶针穿过所述测试通孔，并与所述测试接口电...

【专利技术属性】
技术研发人员：李伦亮，陈建群，
申请(专利权)人：广州皓醒湾科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44