【技术实现步骤摘要】
一种用于瞬态热阻测试的夹持装置
本技术涉及热阻测试夹持
,具体来说,涉及一种用于瞬态热阻测试的夹持装置。
技术介绍
在半导体器件工艺生产过程中,为快速、有效地检验器件芯片和外壳之间的烧结质量(热阻),一般采用瞬态热阻测试的筛选方法。该方法是向待测半导体器件施加单一功率脉冲,并在脉冲结束后测量热敏参数,推断器件芯片的温升,进而推断器件烧结质量(烧结热阻)的好坏。瞬态热阻的测试能够满足半导体器件工艺生产中的100%筛选,主要剔除那些因芯片烧结质量不合格而导致热阻偏大的器件。在对半导体器件进行瞬态热阻测试时需要对其进行夹持固定,为了保证该半导体器件能够正常工作,需要严格控制夹持装置对半导体器件的夹持力,现有夹持装置往往夹持力过大,压碎芯片,或者夹持力过小,增加接触热阻和电阻,影响测试结果。针对相关技术中的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
针对相关技术中的问题,本技术提出一种用于瞬态热阻测试的夹持装置,以克服现有相关技术所存在的上述技术问题。本技术的技术方案是这样实现的: ...
【技术保护点】
1.一种用于瞬态热阻测试的夹持装置,其特征在于,包括底座(1),所述底座(1)上设有第一支撑杆(2),所述第一支撑杆(2)上设有第二支撑杆(3),所述第一支撑杆(2)与所述第二支撑杆(3)通过调节装置(4)连接,所述第二支撑杆(3)的一端设有第一侧板(5),所述第一侧板(5)的两端分别设有顶板(6)和底板(7),所述顶板(6)和所述底板(7)均与所述第一侧板(5)固定连接,所述底板(7)中心处固定设有夹持板(8),所述顶板(6)和所述底板(7)的另一侧设有第二侧板(9),所述第一侧板(5)和所述第二侧板(9)之间设有活动板(10),所述活动板(10)的两端均设有滑块(11) ...
【技术特征摘要】
1.一种用于瞬态热阻测试的夹持装置,其特征在于,包括底座(1),所述底座(1)上设有第一支撑杆(2),所述第一支撑杆(2)上设有第二支撑杆(3),所述第一支撑杆(2)与所述第二支撑杆(3)通过调节装置(4)连接,所述第二支撑杆(3)的一端设有第一侧板(5),所述第一侧板(5)的两端分别设有顶板(6)和底板(7),所述顶板(6)和所述底板(7)均与所述第一侧板(5)固定连接,所述底板(7)中心处固定设有夹持板(8),所述顶板(6)和所述底板(7)的另一侧设有第二侧板(9),所述第一侧板(5)和所述第二侧板(9)之间设有活动板(10),所述活动板(10)的两端均设有滑块(11),所述第一侧板(5)和所述第二侧板(9)位于所述滑块(11)的一侧壁上均设有滑槽(12),所述滑块(11)与所述滑槽(12)相匹配,所述顶板(6)中心处设有螺纹套(13),所述螺纹套(13)内设有螺纹杆(14),所述顶板(6)的上对称设有拉力表(15),所述拉力表(15)上...
【专利技术属性】
技术研发人员:王敏,
申请(专利权)人:西安西派测控技术有限公司,
类型:新型
国别省市:陕西;61
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