一种PCB设计中Layout的检查方法及系统技术方案

本发明专利技术涉及PCB设计技术领域，提供一种PCB设计中Layout的检查方法及系统，方法包括：接收在预先配置的布局检查选项配置窗口上输入的检查选项和PIN size参数；将SMD PIN中心点作为基准，根据输入的所述PIN size参数，以SMD PIN的半径+预设参数阈值为半径，绘制Package Geometry/PASTEMASK层面；获取绘制得到的所述Package Geometry/PASTEMASK层面上所有SMD PIN的坐标，从而实现对遗漏的SMD PIN器件的PASTEMASK的查找，减少Layout重工时间，提高PCB布线工程师效率。

【技术实现步骤摘要】
一种PCB设计中Layout的检查方法及系统
本专利技术PCB设计属于
，尤其涉及一种PCB设计中Layout的检查方法及系统。
技术介绍
在PCB设计中，Layout设计需要在多个阶段进行check，如在BGASMD器件更新时，或者在RD线路设计变更时,导致部分BGASMDPIN器件变更，布线工程师则需重复进行检查检测，其存在如下缺陷：(1)项目设计参考CRB(公版)时,可能会共享器件,布线工程师有投板正确性风险发生,漏开PASTEMASK(钢板)在PCBA上件时,有机会产生掉件风险,批量生产报废增加研发费用；(2)需要PCB布线工程师手动逐一搜寻比对所有BGASMDPIN器件PASTEMASK(钢板)，耗费时间；3、需要PCB布线工程师使用Allegro底片层面逐一检查BGASMDPIN器件PASTEMASK(钢板)，无法确保是否有遗漏。
技术实现思路
针对现有技术中的缺陷，本专利技术提供了一种PCB设计中Layout的检查方法，旨在解决现有技术中通过人工逐个检查BGASMDPIN器件的PASTEMASK(SMD钢网层)是否投板错误，工作效率低，而且容易出错的问题。本专利技术所提供的技术方案是：一种PCB设计中Layout的检查方法，所述方法包括下述步骤：接收在预先配置的布局检查选项配置窗口上输入的检查选项和PINsize参数；将SMDPIN中心点作为基准，根据输入的所述PINsize参数，以SMDPIN的半径+预设参数阈值为半径，绘制PackageGeometry/PASTEMASK层面；获取绘制得到的所述PackageGeometry/PASTEMASK层面上所有SMDPIN的坐标。作为一种改进的方案，所述接收在预先配置的布局检查选项配置窗口上输入的检查选项和PINsize参数的步骤具体包括下述步骤：当接收到输入的布局检查指令时，控制调用并显示预先配置的布局检查选项配置窗口；接收在所述布局检查选项配置窗口上输入的PINtype选择指令以及操作选项命令，其中，所述PINtype包括DIPPIN和SMDPIN，所述操作选项包括Load选项、Delete选项、Report选项和Exit选项；接收在所述布局检查选项配置窗口上输入的PINsize。作为一种改进的方案，所述将SMDPIN中心点作为基准，根据输入的所述PINsize参数，以SMDPIN的半径+预设参数阈值为半径，绘制PackageGeometry/PASTEMASK层面的步骤具体包括下述步骤：根据输入的所述PINsize参数，过滤所有板内符合参数值设定的SMDPIN；获取过滤得到的所有SMDPIN的坐标；检查获取到的SMDPIN的坐标是否存在PASTEMASK；当检查到存在SMDPIN的坐标没有对应的PASTEMASK时，将SMDPIN中心点作为基准，以SMDPIN的半径+预设参数阈值为半径，绘制PackageGeometry/PASTEMASK层面；统计所有绘制PackageGeometry/PASTEMASK层面的SMDPIN的坐标。作为一种改进的方案，当在所述布局检查选项配置窗口上选择所述Report选项时，所述方法还包括下述步骤：将统计得到的所有绘制在PackageGeometry/PASTEMASK层面的SMDPIN的坐标以列表的方式显示输出。作为一种改进的方案，所述方法还包括下述步骤：当接收到在所述列表上对对应的坐标的点击指令时，控制点亮与点击的坐标相对应的SMDPIN。本专利技术的另一目的在于提供一种PCB设计中Layout的检查系统，所述系统包括：选项参数输入模块，用于接收在预先配置的布局检查选项配置窗口上输入的检查选项和PINsize参数；层面绘制模块，用于将SMDPIN中心点作为基准，根据输入的所述PINsize参数，以SMDPIN的半径+预设参数阈值为半径，绘制PackageGeometry/PASTEMASK层面；坐标获取模块，用于获取绘制得到的所述PackageGeometry/PASTEMASK层面上所有SMDPIN的坐标。作为一种改进的方案，所述选项参数输入模块具体包括：布局检查选项配置窗口调用模块，用于当接收到输入的布局检查指令时，控制调用并显示预先配置的布局检查选项配置窗口；命令接收模块，用于接收在所述布局检查选项配置窗口上输入的PINtype选择指令以及操作选项命令，其中，所述PINtype包括DIPPIN和SMDPIN，所述操作选项包括Load选项、Delete选项、Report选项和Exit选项；尺寸接收模块，用于接收在所述布局检查选项配置窗口上输入的PINsize。作为一种改进的方案，所述层面绘制模块具体包括：过滤模块，用于根据输入的所述PINsize参数，过滤所有板内符合参数值设定的SMDPIN；所有坐标获取模块，用于获取过滤得到的所有SMDPIN的坐标；检查模块，用于检查获取到的SMDPIN的坐标是否存在PASTEMASK；绘制模块，用于当检查到存在SMDPIN的坐标没有对应的PASTEMASK时，将SMDPIN中心点作为基准，以SMDPIN的半径+预设参数阈值为半径，绘制PackageGeometry/PASTEMASK层面；坐标统计模块，用于统计所有绘制PackageGeometry/PASTEMASK层面的SMDPIN的坐标。作为一种改进的方案，当在所述布局检查选项配置窗口上选择所述Report选项时，所述系统还包括：列表显示模块，用于将统计得到的所有绘制在PackageGeometry/PASTEMASK层面的SMDPIN的坐标以列表的方式显示输出。作为一种改进的方案，所述系统还包括：坐标对应点亮控制模块，用于当接收到在所述列表上对对应的坐标的点击指令时，控制点亮与点击的坐标相对应的SMDPIN。在本专利技术实施例中，接收在预先配置的布局检查选项配置窗口上输入的检查选项和PINsize参数；将SMDPIN中心点作为基准，根据输入的所述PINsize参数，以SMDPIN的半径+预设参数阈值为半径，绘制PackageGeometry/PASTEMASK层面；获取绘制得到的所述PackageGeometry/PASTEMASK层面上所有SMDPIN的坐标，从而实现对遗漏的SMDPIN器件的PASTEMASK的查找，减少Layout重工时间，提高PCB布线工程师效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。图1是本专利技术提供的PCB设计中Layout的检查方法的实现流程图；图2是本专利技术提供的布本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种PCB设计中Layout的检查方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：/n接收在预先配置的布局检查选项配置窗口上输入的检查选项和PIN size参数；/n将SMD PIN中心点作为基准，根据输入的所述PIN size参数，以SMD PIN的半径+预设参数阈值为半径，绘制Package Geometry/PASTEMASK层面；/n获取绘制得到的所述Package Geometry/PASTEMASK层面上所有SMD PIN的坐标。/n

【技术特征摘要】
1.一种PCB设计中Layout的检查方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：
接收在预先配置的布局检查选项配置窗口上输入的检查选项和PINsize参数；
将SMDPIN中心点作为基准，根据输入的所述PINsize参数，以SMDPIN的半径+预设参数阈值为半径，绘制PackageGeometry/PASTEMASK层面；
获取绘制得到的所述PackageGeometry/PASTEMASK层面上所有SMDPIN的坐标。


2.根据权利要求1所述的PCB设计中Layout的检查方法，其特征在于，所述接收在预先配置的布局检查选项配置窗口上输入的检查选项和PINsize参数的步骤具体包括下述步骤：
当接收到输入的布局检查指令时，控制调用并显示预先配置的布局检查选项配置窗口；
接收在所述布局检查选项配置窗口上输入的PINtype选择指令以及操作选项命令，其中，所述PINtype包括DIPPIN和SMDPIN，所述操作选项包括Load选项、Delete选项、Report选项和Exit选项；
接收在所述布局检查选项配置窗口上输入的PINsize。


3.根据权利要求2所述的PCB设计中Layout的检查方法，其特征在于，所述将SMDPIN中心点作为基准，根据输入的所述PINsize参数，以SMDPIN的半径+预设参数阈值为半径，绘制PackageGeometry/PASTEMASK层面的步骤具体包括下述步骤：
根据输入的所述PINsize参数，过滤所有板内符合参数值设定的SMDPIN；
获取过滤得到的所有SMDPIN的坐标；
检查获取到的SMDPIN的坐标是否存在PASTEMASK；
当检查到存在SMDPIN的坐标没有对应的PASTEMASK时，将SMDPIN中心点作为基准，以SMDPIN的半径+预设参数阈值为半径，绘制PackageGeometry/PASTEMASK层面；
统计所有绘制PackageGeometry/PASTEMASK层面的SMDPIN的坐标。


4.根据权利要求3所述的PCB设计中Layout的检查方法，其特征在于，当在所述布局检查选项配置窗口上选择所述Report选项时，所述方法还包括下述步骤：
将统计得到的所有绘制在PackageGeometry/PASTEMASK层面的SMDPIN的坐标以列表的方式显示输出。


5.根据权利要求4所述的PCB设计中Layout的检查方法，其特征在于，所述方法还包括下述步骤：
当接收到在所述列表上对对应的坐标的点击指令时，控制点亮与点击的坐标相对应的SMDPIN。
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【专利技术属性】
技术研发人员：许丝婷，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32