面板复判方法、装置、服务器、计算机设备和存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种面板复判方法、装置、服务器、计算机设备和存储介质，方法包括获取面板的测试数据；检测测试数据与预设测试数据是否匹配；当测试数据与预设测试数据不匹配时，获取测试数据中与预设测试数据不匹配的部分所对应的缺陷特征画面；检测缺陷特征画面与预设特征画面是否匹配；当缺陷特征画面与预设特征画面匹配时，将数据库内面板对应的复判状态更新为复判合格状态。在确定面板需要进行复判时，根据之前已获取的测试数据生成对应的缺陷特征画面，将其与预设特征画面进行比对，从而快速判断出面板的复判状态，通过对面板的测试数据的采集，使得复判过程自动化，减少了人工检测工序，降低了面板的复判难度。

【技术实现步骤摘要】
面板复判方法、装置、服务器、计算机设备和存储介质
本专利技术涉及面板检测领域，特别是涉及一种面板复判方法、装置、服务器、计算机设备和存储介质。
技术介绍
随着液晶显示屏行业技术水平的提升，液晶模组的显示画面的缺陷成为了液晶显示屏的优良评判的重要标准。液晶模组行业中在画面检查中目前大部分采用AOI(AutomatedOpticalInspection，自动光学检测)检测产品画面缺陷，检查完成后设备的不良品需要人工再次进行复判检验，在复判过程中没有绑定产品相关联的测试信息，使得需要对每个画面的每个区域分别进行检查，复判作业难度大。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种降低面板的复判难度的面板复判方法、装置、服务器、计算机设备和存储介质。一种面板复判方法，包括：获取面板的测试数据；检测所述测试数据与预设测试数据是否匹配；当所述测试数据与所述预设测试数据不匹配时，获取所述测试数据中与所述预设测试数据不匹配的部分所对应的缺陷特征画面；检测所述缺陷特征画面与预设特征画面是否匹配；当所述缺陷特征画面与所述预设特征画面匹配时，将数据库内所述面板对应的复判状态更新为复判合格状态。在其中一个实施例中，所述获取面板的测试数据包括：对所述面板进行光学检测，并获取所述面板的检测画面；根据所述检测画面获取所述测试数据。在其中一个实施例中，所述测试数据包括测试结果数据；特征位置数据，所述特征位置数据与所述测试结果数据一一对应，所述特征位置数据用于确定所述测试结果数据在所述面板上的位置。在其中一个实施例中，所述检测所述测试数据与预设测试数据是否匹配包括：检测所述测试结果数据与所述预设测试数据是否相同；当所述测试结果数据与所述预设测试数据不同时，则判定所述测试数据与所述预设测试数据不匹配。在其中一个实施例中，所述当所述测试数据与所述预设测试数据不匹配时，获取所述测试数据中与所述预设测试数据不匹配的部分所对应的缺陷特征画面包括：所述当所述测试数据与所述预设测试数据不匹配时，获取所述测试结果数据中与所述预设测试数据不同的部分所对应的特征位置数据，根据所述特征位置数据获取对应的所述缺陷特征画面。在其中一个实施例中，所述缺陷特征画面包括至少一个特征检测画面；所述检测所述缺陷特征画面与预设特征画面是否匹配包括：依次检测每一个所述特征检测画面与对应的预设特征画面是否相同；当所述特征检测画面与对应的预设特征画面相同时，则判定所述缺陷特征画面与所述预设特征画面匹配。在其中一个实施例中，所述依次检测每一个所述特征检测画面与对应的预设特征画面是否相同之后，还包括：当所述特征检测画面与对应的预设特征画面不同时，则判定所述缺陷特征画面与所述预设特征画面不匹配。在其中一个实施例中，所述判定所述缺陷特征画面与所述预设特征画面不匹配之后，还包括：当所述缺陷特征画面与所述预设特征画面不匹配，将数据库内所述面板对应的复判状态更新为复判失败状态。在其中一个实施例中，所述复判状态与所述面板对应，所述复判状态用于分拣装置根据更新后的所述复判状态对所述面板进行分拣。一种面板复判装置，包括：获取模块，用于获取面板的测试数据；第一检测模块，用于检测所述测试数据与预设测试数据是否匹配；当所述测试数据与所述预设测试数据不匹配时，获取所述测试数据中与所述预设测试数据不匹配的部分所对应的缺陷特征画面；第二检测模块，用于检测所述缺陷特征画面与预设特征画面是否匹配；当所述缺陷特征画面与所述预设特征画面匹配时，将数据库内所述面板对应的复判状态更新为复判合格状态。一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：获取面板的测试数据；检测所述测试数据与预设测试数据是否匹配；当所述测试数据与所述预设测试数据不匹配时，获取所述测试数据中与所述预设测试数据不匹配的部分所对应的缺陷特征画面；检测所述缺陷特征画面与预设特征画面是否匹配；当所述缺陷特征画面与所述预设特征画面匹配时，将数据库内所述面板对应的复判状态更新为复判合格状态。一种服务器，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如下步骤：获取面板的测试数据；检测所述测试数据与预设测试数据是否匹配；当所述测试数据与所述预设测试数据不匹配时，获取所述测试数据中与所述预设测试数据不匹配的部分所对应的缺陷特征画面；检测所述缺陷特征画面与预设特征画面是否匹配；当所述缺陷特征画面与所述预设特征画面匹配时，将数据库内所述面板对应的复判状态更新为复判合格状态。一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：获取面板的测试数据；检测所述测试数据与预设测试数据是否匹配；当所述测试数据与所述预设测试数据不匹配时，获取所述测试数据中与所述预设测试数据不匹配的部分所对应的缺陷特征画面；检测所述缺陷特征画面与预设特征画面是否匹配；当所述缺陷特征画面与所述预设特征画面匹配时，将数据库内所述面板对应的复判状态更新为复判合格状态。上述面板复判方法、装置、服务器、计算机设备和存储介质中，根据面板的测试数据的具体情况，判断面板是否需要复判，在确定面板需要进行复判时，根据之前已获取的测试数据生成对应的缺陷特征画面，将其与预设特征画面进行比对，从而快速判断出面板的复判状态，通过对面板的测试数据的采集，使得复判过程自动化，减少了人工检测工序，降低了面板的复判难度。附图说明图1为一实施例的面板复判方法的流程示意图；图2为一实施例的计算机设备的内部结构图。具体实施方式为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的较佳实施方式。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本专利技术的公开内容理解的更加透彻全面。需要说明的是，当元件被称为“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术涉及一种面板复判方法。在其中一个实施例中，面板复判方法包括：获取面板的测试数据；检测测试数据与预设测试数据是否匹配；当测试数据与预设测试数本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种面板复判方法，其特征在于，包括：/n获取面板的测试数据；/n检测所述测试数据与预设测试数据是否匹配；/n当所述测试数据与所述预设测试数据不匹配时，获取所述测试数据中与所述预设测试数据不匹配的部分所对应的缺陷特征画面；/n检测所述缺陷特征画面与预设特征画面是否匹配；/n当所述缺陷特征画面与所述预设特征画面匹配时，将数据库内所述面板对应的复判状态更新为复判合格状态。/n

【技术特征摘要】
1.一种面板复判方法，其特征在于，包括：
获取面板的测试数据；
检测所述测试数据与预设测试数据是否匹配；
当所述测试数据与所述预设测试数据不匹配时，获取所述测试数据中与所述预设测试数据不匹配的部分所对应的缺陷特征画面；
检测所述缺陷特征画面与预设特征画面是否匹配；
当所述缺陷特征画面与所述预设特征画面匹配时，将数据库内所述面板对应的复判状态更新为复判合格状态。


2.根据权利要求1所述的面板复判方法，其特征在于，所述获取面板的测试数据包括：
对所述面板进行光学检测，并获取所述面板的检测画面；
根据所述检测画面获取所述测试数据。


3.根据权利要求1所述的面板复判方法，其特征在于，所述测试数据包括：
测试结果数据；
特征位置数据，所述特征位置数据与所述测试结果数据一一对应，所述特征位置数据用于确定所述测试结果数据在所述面板上的位置。


4.根据权利要求3所述的面板复判方法，其特征在于，所述检测所述测试数据与预设测试数据是否匹配包括：
检测所述测试结果数据与所述预设测试数据是否相同；
当所述测试结果数据与所述预设测试数据不同时，则判定所述测试数据与所述预设测试数据不匹配。


5.根据权利要求4所述的面板复判方法，其特征在于，所述当所述测试数据与所述预设测试数据不匹配时，获取所述测试数据中与所述预设测试数据不匹配的部分所对应的缺陷特征画面包括：
所述当所述测试数据与所述预设测试数据不匹配时，获取所述测试结果数据中与所述预设测试数据不同的部分所对应的特征位置数据，根据所述特征位置数据获取对应的所述缺陷特征画面。


6.根据权利要求1所述的面板复判方法，其特征在于，所述缺陷特征画面包括至少一个特征检测画面；所述检测所述缺陷特征画面与预设特征画面是否匹配包括：
依次检测每一个所述特征检测画面与对应的预设特征画面是否相同；
当所述特征检测画面与对应的预设特征画面相同时，则判定所述缺陷特征画面与所述预设特征画面匹配。


7.根据权利要求6所述的面板复判方法，其特征在于，所述依次检测每一个所述特征检测画面与对...

【专利技术属性】
技术研发人员：王彬旭，刘志伟，
申请(专利权)人：华显光电技术惠州有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44