一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法技术

本申请公开了一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法，其中，所述差分耦合线除了信号线之外，还包括两个第一测试线和两个第二测试线，所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，另一端用于连接测试连接器，所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，另一端用于连接测试连接器，且所述第一测试线的阻抗与所述第一信号线的阻抗匹配，所述第二测试线与所述第二信号线的阻抗匹配，使得在对所述差分耦合线进行损耗测试时，可以通过为所述第一测试线和第二测试线连接测试连接器的方式对所述差分耦合线进行损耗测试，解决了现有技术中无法对差分耦合线进行损耗测试的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法
本申请涉及信号测试
，更具体地说，涉及一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法。
技术介绍
差分耦合线，又称差分线，是指传输差分信号的走线。差分耦合线通常包括两根信号线，驱动端分别向这两根信号线发送两个等值、反相的信号，通过差分信号线传输给接收端。接收端通过比较这两个信号的差值来判断逻辑状态是“0”还是“1”。在传输高速信号时，差分耦合线相较于单端线来说具有抗干扰能力强和能够低电压传输等优点，在计算机总线和通信设备上得到了广泛的应用。但是在实际应用中发现，随着信号传输速率的不断提高，差分耦合线的损耗也越来越大，越来越不可忽视，因此对于差分耦合线的损耗的测试成为一个亟待解决的问题。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本申请提供了一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法，以解决现有技术中无法对差分耦合线进行损耗测试的问题。为实现上述技术目的，本申请实施例提供了如下技术方案：一种差分耦合线，包括：信号线和两个第一测试线和两个第二测试线；其中，所述信号线包括第一信号线和第二信号线；两个所述第一测试线的一端分别与所述第一信号线的两端连接，两个所述第一测试线的另一端分别与一个测试连接器连接，所述第一测试线的阻抗与所述第一信号线的阻抗匹配；两个所述第二测试线的一端分别与所述第二信号线的两端连接，两个所述第二测试线的另一端分别与一个测试连接器连接，所述第二测试线的阻抗与所述第二信号线的阻抗匹配。可选的，所述第一测试线的阻抗为所述信号线阻抗的二分之一；所述第二测试线的阻抗为所述信号线阻抗的二分之一。可选的，所述第一测试线的延伸方向与所述第一信号线的延伸方向垂直；所述第二测试线的延伸方向与所述第二信号线的延伸方向垂直。一种差分耦合线的制备方法，包括：获取信号线的阻抗参数，所述信号线包括第一信号线和第二信号线，所述阻抗参数包括线宽、线距、厚度、基板的介电常数和基板的介质厚度；根据所述信号线的阻抗参数，计算所述信号线的阻抗；根据所述信号线的阻抗参数，计算第一测试线和第二测试线的阻抗；根据计算获得的所述第一测试线和阻抗，获取所述第一测试线，根据计算获得的所述第二测试线的阻抗，获取所述第二测试线；将所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，所述第一测试线的另一端用于连接测试连接器；将所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，所述第二测试线的另一端用于连接所述测试连接器。可选的，所述根据所述信号线的阻抗参数，计算所述信号线的阻抗包括：将所述信号线的阻抗参数代入第一预设公式中，以计算获得所述信号线的阻抗；所述第一预设公式包括：Zdiff＝2×Zo(1-0.48e-0.96D/H)；其中，Zo表示第一信号线和第二信号线的阻抗，Zdiff表示所述信号线的阻抗，W表示线宽，D表示线距，T表示厚度，Er表示基板的介电常数，H表示基板的介质厚度。可选的，所述根据所述信号线的阻抗参数，计算第一测试线和第二测试线的阻抗包括：将所述信号线的阻抗参数代入第二预设公式中，以计算获得所述第一测试线和第二测试线的阻抗；所述第二预设公式包括：Zo表示第一信号线和第二信号线的阻抗，Zdiff表示所述信号线的阻抗，W表示线宽，D表示线距，T表示厚度，Er表示基板的介电常数，H表示基板的介质厚度。可选的，所述将所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接包括：将所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，并使所述第一测试线的延伸方向与所述第一信号线的延伸方向垂直。可选的，所述将所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接包括：将所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，并使所述第二测试线的延伸方向与所述第二信号线的延伸方向垂直。一种差分耦合线的损耗测试方法，包括：提供待测试差分耦合线，所述待测试差分耦合线为上述任一项所述的差分耦合线；提供参考测试线，所述参考测试线的长度为所述第一测试线和第二测试线的长度的两倍，所述参考测试线的阻抗等于所述第一测试线和第二测试线的阻抗之和；利用测试连接器，测量所述待测试差分耦合线的总损耗值；利用所述测试连接器，测量所述参考测试线的参考损耗值；根据所述待测试差分耦合线的总损耗值和所述参考测试线的参考损耗值，获取所述待测试差分耦合线的信号线的损耗值。可选的，所述根据所述待测试差分耦合线的总损耗值和所述参考测试线的参考损耗值，获取所述待测试差分耦合线的信号线的损耗值包括：将所述待测试差分耦合线的总损耗值和所述参考测试线的参考损耗值的差值，作为所述待测试差分耦合线的信号线的损耗值。从上述技术方案可以看出，本申请实施例提供了一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法，其中，所述差分耦合线除了信号线之外，还包括两个第一测试线和两个第二测试线，所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，另一端用于连接测试连接器，所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，另一端用于连接测试连接器，且所述第一测试线的阻抗与所述第一信号线的阻抗匹配，所述第二测试线与所述第二信号线的阻抗匹配，使得在对所述差分耦合线进行损耗测试时，可以通过为所述第一测试线和第二测试线连接测试连接器的方式对所述差分耦合线进行损耗测试，解决了现有技术中无法对差分耦合线进行损耗测试的问题。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本申请的一个实施例提供的一种差分耦合线的结构示意图；图2为本申请的一个实施例提供的一种差分耦合线的制备方法的流程示意图；图3为本申请的另一个实施例提供的一种差分耦合线的制备方法的流程示意图；图4为本申请的又一个实施例提供的一种差分耦合线的制备方法的流程示意图；图5为本申请的再一个实施例提供的一种差分耦合线的制备方法的流程示意图；图6为本申请的一个实施例提供的一种差分耦合线的损耗测试方法的流程示意图；图7为本申请的另一个实施例提供的一种差分耦合线的损耗测试方法的流程示意图。具体实施方式正如
技术介绍
中所述，随着信号传输速率的不断提高，差分耦合线的损耗也越来越大。下面对信号传输速率和差分耦合线的损耗的关系进行说明。差分耦合线的损耗分为导体损耗和介质损耗，这两种损耗都与频率由关系，具体参考公式(1)和公式(2)：其中，Acond表示构成差分耦合线的导体的单位损耗，w表示线宽，Z0表示阻抗，f表示信号频率；Adie表示承载差分耦合线的基板的介质单位损耗，tan(δ本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种差分耦合线，其特征在于，包括：信号线和两个第一测试线和两个第二测试线；其中，/n所述信号线包括第一信号线和第二信号线；/n两个所述第一测试线的一端分别与所述第一信号线的两端连接，两个所述第一测试线的另一端分别与一个测试连接器连接，所述第一测试线的阻抗与所述第一信号线的阻抗匹配；/n两个所述第二测试线的一端分别与所述第二信号线的两端连接，两个所述第二测试线的另一端分别与一个测试连接器连接，所述第二测试线的阻抗与所述第二信号线的阻抗匹配。/n

【技术特征摘要】
1.一种差分耦合线，其特征在于，包括：信号线和两个第一测试线和两个第二测试线；其中，
所述信号线包括第一信号线和第二信号线；
两个所述第一测试线的一端分别与所述第一信号线的两端连接，两个所述第一测试线的另一端分别与一个测试连接器连接，所述第一测试线的阻抗与所述第一信号线的阻抗匹配；
两个所述第二测试线的一端分别与所述第二信号线的两端连接，两个所述第二测试线的另一端分别与一个测试连接器连接，所述第二测试线的阻抗与所述第二信号线的阻抗匹配。


2.根据权利要求1所述的差分耦合线，其特征在于，所述第一测试线的阻抗为所述信号线阻抗的二分之一；
所述第二测试线的阻抗为所述信号线阻抗的二分之一。


3.根据权利要求1所述的差分耦合线，其特征在于，所述第一测试线的延伸方向与所述第一信号线的延伸方向垂直；
所述第二测试线的延伸方向与所述第二信号线的延伸方向垂直。


4.一种差分耦合线的制备方法，其特征在于，包括：
获取信号线的阻抗参数，所述信号线包括第一信号线和第二信号线，所述阻抗参数包括线宽、线距、厚度、基板的介电常数和基板的介质厚度；
根据所述信号线的阻抗参数，计算所述信号线的阻抗；
根据所述信号线的阻抗参数，计算第一测试线和第二测试线的阻抗；
根据计算获得的所述第一测试线和阻抗，获取所述第一测试线，根据计算获得的所述第二测试线的阻抗，获取所述第二测试线；
将所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，所述第一测试线的另一端用于连接测试连接器；
将所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，所述第二测试线的另一端用于连接所述测试连接器。


5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述信号线的阻抗参数，计算所述信号线的阻抗包括：
将所述信号线的阻抗参数代入第一预设公式中，以计算获得所述信号线的阻抗；
所述第一预设公式包括：Zdiff＝2×Zo(1-0.48e-0.96D/H)；其中，Zo表示第一信号线和第二信号线的阻抗，Zdiff表示所述信号...

【专利技术属性】
技术研发人员：羊杨，
申请(专利权)人：恒为科技上海股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31