划痕缺陷检测方法、装置、计算设备和存储介质制造方法及图纸

技术编号:24997302 阅读:41 留言:0更新日期:2020-07-24 17:59
本申请公开了一种划痕缺陷检测方法、装置、计算设备和存储介质。该方法包括:获取待检测对象的目标图像;对所述目标图像进行语义分割,以确定语义分割结果为具有划痕缺陷的候选像素点;对所述候选像素点进行连通区域分析,得到至少一个连通区域;分别对每个连通区域进行骨架提取,得到至少一个骨架作为检测出的划痕。由此,以为提高划痕检测的效率以及检测精度并提高系统鲁棒性提供支持。

【技术实现步骤摘要】
划痕缺陷检测方法、装置、计算设备和存储介质
本申请涉及缺陷检测
,特别涉及一种划痕缺陷检测方法、装置、计算设备和存储介质。
技术介绍
目前,玻璃屏幕在军事、工业、电子、科研和教学等领域都有着广泛使用,特别是具有交互功能的电子产品对玻璃屏幕的需求量非常巨大,由此对玻璃屏幕的质量也提出了较高的要求。然而,在玻璃产品生产的自动化流水线中,由于设备的挤压、摩擦、传输过程中的机械划伤、磕碰等,玻璃表面经常出现各种缺陷,这些缺陷不仅会影响玻璃的外观,更严重的功能性瑕疵会直接导致玻璃产品的商业价值的丢失。因此,如何准确的检测出玻璃产品表面划痕缺陷成为了亟待解决的问题。
技术实现思路
本申请的目的是提供一种划痕检测方法、装置、计算设备和存储介质,以为提高划痕检测的效率以及检测精度提供支持。第一方面,本申请实施例提供了一种划痕缺陷检测方法,包括:获取待检测对象的目标图像;对所述目标图像进行语义分割,以确定语义分割结果为具有划痕缺陷的候选像素点;对所述候选像素点进行连通区域分析,得到至少一个连通区域;...

【技术保护点】
1.一种划痕缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括:/n获取待检测对象的目标图像;/n对所述目标图像进行语义分割,以确定语义分割结果为具有划痕缺陷的候选像素点;/n对所述候选像素点进行连通区域分析,得到至少一个连通区域;/n分别对每个连通区域进行骨架提取,得到至少一个骨架作为检测出的划痕。/n

【技术特征摘要】
1.一种划痕缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括:
获取待检测对象的目标图像;
对所述目标图像进行语义分割,以确定语义分割结果为具有划痕缺陷的候选像素点;
对所述候选像素点进行连通区域分析,得到至少一个连通区域;
分别对每个连通区域进行骨架提取,得到至少一个骨架作为检测出的划痕。


2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
对所提取的各骨架分别进行直线检测,得到各所述骨架分别对应的直线段;
根据各直线段组成的线条集合以及预设的划痕特征确定最终检测出的划痕。


3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据各直线段组成的线条集合以及预设的划痕特征确定最终检测出的划痕,包括:
将所述线条集合中满足所述划痕特征的直线段确定为最终检测出的划痕。


4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,若各所述骨架分别对应的直线段中存在满足预设的拼接条件的直线段,则所述根据各直线段组成的线条集合以及预设的划痕特征确定最终检测出的划痕,包括:
对所述线条集合进行拼接处理,得到拼接处理后的线条集合,其中,所述拼接处理为将所述线条集合中的满足所述拼接条件的至少两个直线段进行拼接,所述拼接条件为任何两个直线段的端点间距小于预设的距离阈值;
针对拼接处理后得到的线条集合中的各元素,若所述元素具有所述划痕特征,则将所述元素作为最终检测出的划痕。


5.根据权利要求2-4中任一项所述的方法,其特征在于,进行直线检测所采用的算法包括霍夫变换直线检测算法。


6.根据权利要求2-4中任一项所述的方法,其特征在于,所述划痕特征包括下述的至少一项:
线条长度大于或等于预设的长度阈值;
线条梯度均值大于或等于预设的梯度阈值;
线条指标大于或等于预设的指标阈值,所述线条指标是基于线段长度和线段梯度均值确定的。


7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对所述目标图像进行语义分割之前,所述方法还包括:
基于图像特征,确定所述目标图像中具有划痕缺陷的候选图像块,
对所述目标图像进行语义分割,包括:
对所述目标图像中的候选图像块进行语义分割。


8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,基于图像特征,确定所述目标图像中具有划痕缺陷的候选图像块,包括:

【专利技术属性】
技术研发人员:郎建业黄虎
申请(专利权)人:浙江华睿科技有限公司
类型:发明
国别省市:浙江;33

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