单点探测成像系统技术方案

本发明专利技术涉及成像技术领域，提供一种单点探测成像系统，该成像系统包括光源、第一聚光模块、光调制模块、第二聚光模块、光处理模块和计算机；光源照射至外部的目标物体表面，第一聚光模块用于对经过目标物体表面反射的反射光进行聚焦处理以形成投影于光调制模块的第一聚焦光，光调制模块用于对第一聚焦光进行稀疏变换并对第一聚焦光进行编码调制以形成调制光，第二聚光模块用于对调制光进行聚焦处理以形成投影于光处理模块表面的第二聚焦光，光处理模块用于根据第二聚焦光形成数字信号并将数字信号发送至计算机，计算机用于对数字信号进行处理以获得目标物体的复原图像。通过本发明专利技术的实施，能够解决现有技术中的成像技术存在成本高且复杂的问题。

【技术实现步骤摘要】
单点探测成像系统
本专利技术涉及成像
，尤其涉及一种单点探测成像系统。
技术介绍
近些年来，随着社会科学经济水平的不断提升，人们在所需要获取的信息数据量成指数增长的同时，对传统的数据获取技术也提出了很大的挑战。在成像技术方面，现有技术中的数码相机上互补金属氧化物半导体阵列传感器通常收集了大量的数据，然后经过压缩丢弃90％的数据，再利用剩余的数据形成图像，同时，特殊波段的传感器也需要由特殊的材料制备。现有技术中，由于特殊波段的传感器需要特殊材料制备，且现实生活中一些特殊波段较为微弱，对探测器的要求较高，同时数据丢失造成了资源存储空间的浪费。综上所述，现有技术中的成像技术存在成本高且复杂的问题。
技术实现思路
本专利技术提供一种单点探测成像系统，以解决现有技术中的成像技术存在成本高且复杂的问题。本专利技术的实施例提供一种单点探测成像系统，包括：光源、第一聚光模块、光调制模块、第二聚光模块、光处理模块和计算机；光源照射至外部的目标物体表面，第一聚光模块用于对经过目标物体表面反射的反射光进行聚焦处理以形本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种单点探测成像系统，其特征在于，所述成像系统包括光源、第一聚光模块、光调制模块、第二聚光模块、光处理模块和计算机；/n所述光源照射至外部的目标物体表面，所述第一聚光模块用于对经过所述目标物体表面反射的反射光进行聚焦处理以形成投影于所述光调制模块的第一聚焦光，所述光调制模块用于对所述第一聚焦光进行稀疏变换并对所述第一聚焦光进行编码调制以形成调制光，所述第二聚光模块用于对所述调制光进行聚焦处理以形成投影于所述光处理模块表面的第二聚焦光，所述光处理模块用于根据所述第二聚焦光形成数字信号并将所述数字信号发送至计算机，所述计算机用于对所述数字信号进行处理以获得所述目标物体的复原图像。/n

【技术特征摘要】
1.一种单点探测成像系统，其特征在于，所述成像系统包括光源、第一聚光模块、光调制模块、第二聚光模块、光处理模块和计算机；
所述光源照射至外部的目标物体表面，所述第一聚光模块用于对经过所述目标物体表面反射的反射光进行聚焦处理以形成投影于所述光调制模块的第一聚焦光，所述光调制模块用于对所述第一聚焦光进行稀疏变换并对所述第一聚焦光进行编码调制以形成调制光，所述第二聚光模块用于对所述调制光进行聚焦处理以形成投影于所述光处理模块表面的第二聚焦光，所述光处理模块用于根据所述第二聚焦光形成数字信号并将所述数字信号发送至计算机，所述计算机用于对所述数字信号进行处理以获得所述目标物体的复原图像。


2.根据权利要求1所述的单点探测成像系统，其特征在于，所述第一聚光模块包括凹面反射镜、椭圆反射镜和透镜，经过所述目标物体表面反射的反射光依次经过所述凹面反射镜、所述椭圆反射镜至所述透镜聚焦，经由所述透镜形成所述第一聚焦光。


3.根据权利要求1所述的单点探测成像系统，其特征在于，所述光调制模块还用于：
对所述第一聚焦光进行稀疏变换以得到所述第一聚焦光的稀疏表示；
配置测量矩阵，并根据所述稀疏表示和所述测量矩阵对所述第一聚焦光进行编码调制以形成所述调制光。


4.根据权利要求3所述的单点探测成像系统，其特征在于，所述测量矩阵满足有限等距特性。


5.根据权利要求3所述的单点探测成像系统，其特征在于，所述稀疏表示由下...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖君军，周武超，马昱，刘强，刘彧尘，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学深圳哈尔滨工业大学深圳科技创新研究院，
类型：发明
国别省市：广东;44