一种宽带铜线接入设备用晶元检测设备制造技术

本发明专利技术涉及宽度接入用晶元检测技术领域，且公开了一种宽带铜线接入设备用晶元检测设备，包括壳体，所述壳体的内部开设有滑槽，滑槽的表面滑动连接有活塞，活塞的表面活动连接有推杆，推杆的表面活动连接有匀气管，推杆远离活塞的一端活动连接有伸缩杆，伸缩杆的表面活动连接有空气弹簧，空气弹簧的表面活动连接有筛分板，所述壳体的内部且位于活塞的表面固定连接有气囊，通气管的表面活动连接有调节轴，调节轴的表面活动连接有储气槽，储气槽的表面活动连接有弹簧管。则会落在筛分表面的左边或者右边，即两个空气弹簧的受力不均匀，进而使受力较大的一侧的气体排出，后使筛分板倾斜，从而达到了检测微电子元件外形是否受损的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种宽带铜线接入设备用晶元检测设备
本专利技术涉及宽度接入用晶元检测
，具体为一种宽带铜线接入设备用晶元检测设备。
技术介绍
宽带接入是相对于窄带接入而言的，一般把速率超过1Mbps的接入称为宽带接入；宽带接入技术主要包括：铜线宽带接入技术、HFC技术、光接入技术和无线接入技术，其中铜线宽度接入技术使用较为广泛，宽带接入技术中调制解调器是关健设备。调制解调器是一种计算机硬件，其中的核心部件是晶元，现有的晶元制作常采用流水线生产工艺，将其所需的微电子元件以传送带的方式进行供给，而现有的供给设备不能有序的进行供料，导致微电子元件在供给过程中被挤压损坏，且现有设备缺少相应的微电子元件检测设备，故后期晶元的损坏滤较高，因此一种宽带铜线接入设备用晶元检测设备应运而生。
技术实现思路
为实现上述利用弹簧螺旋行程进行微电子元件供给、检测微电子元件外形是否受损的目的，本专利技术提供如下技术方案：一种宽带铜线接入设备用晶元检测设备，包括壳体，所述壳体的内部开设有滑槽，滑槽的表面滑动连接有活塞，活塞的表面活动连接有推杆，推杆的表面活动连接有匀气管，推杆远离活塞的一端活动连接有伸缩杆，伸缩杆的表面活动连接有空气弹簧，空气弹簧的表面活动连接有筛分板，所述壳体的内部且位于活塞的表面固定连接有气囊，壳体的表面且位于气囊的上方固定连接有通气管，通气管的表面活动连接有调节轴，调节轴的表面活动连接有储气槽，储气槽的表面活动连接有弹簧管。本专利技术的有益效果是：1.通过微电子元件表面被挤压变形，则会落在筛分表面的左边或者右边，即两个空气弹簧的受力不均匀，进而使受力较大的一侧的气体排出，后使筛分板倾斜，从而达到了检测微电子元件外形是否受损的效果。2.通过形变后的弹簧管将其表面的微电子元件推出，并落在筛分板表面，由于弹簧管为螺旋行程，故每次被推动时移动的距离是固定的，故从而达到了利用弹簧螺旋行程进行微电子元件定量供给的效果。优选的，所述壳体的表面且位于筛分板的底部固定连接有次品槽，次品槽的开口直径大于微电子元件的直径。优选的，所述活塞的表面开设有气孔，气孔的直径是活塞宽度的二分之一，气孔是为了分流活塞产生的气流，便于部分气流流入空气弹簧中，进而使空气弹簧膨胀变大降低微电子元件落在筛分板表面的冲击力。优选的，所述次品槽的长度小于空气弹簧的长度。优选的，所述储气槽为回形设计，且储气槽的体积小于气囊的体积，储气槽的作用是存放气流，当弹簧管回落时减低其内部微电子元件的冲击力。优选的，所述气囊具有一定的弹性形变能力，且弹力大于推杆的重力，便于活塞不挤压气囊时，气囊可恢复自身弹力并便于下次使用。优选的，所述空气弹簧的数量是两个，且对称分布在筛分板的底部。优选的，所述筛分板的表面固定连接有柔性布。附图说明图1为本专利技术壳体结构主视剖视图；图2为本专利技术弹簧管结构示意图；图3为图2中A处局部放大图；图4为本专利技术伸缩杆结构示意图；图5为本专利技术空气弹簧结构向左倾斜时示意图；图6为本专利技术空气弹簧结构向右倾斜时示意图。图中：1-壳体、2-滑槽、3-活塞、4-推杆、5-匀气管、6-伸缩杆、7-空气弹簧、8-筛分板、9-气囊、10-通气管、11-调节轴、12-储气槽、13-弹簧管、14-次品槽、15-气孔。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1-6，一种宽带铜线接入设备用晶元检测设备，包括壳体1，壳体1的内部开设有滑槽2，滑槽2的表面滑动连接有活塞3，活塞3的表面开设有气孔15，气孔15的直径是活塞3宽度的二分之一，气孔15是为了分流活塞3产生的气流，便于部分气流流入空气弹簧7中，进而使空气弹簧7膨胀变大降低微电子元件落在筛分板8表面的冲击力。活塞3的表面活动连接有推杆4，推杆4的表面活动连接有匀气管5，推杆4远离活塞3的一端活动连接有伸缩杆6，伸缩杆6的表面活动连接有空气弹簧7，次品槽14的长度小于空气弹簧7的长度；空气弹簧7的数量是两个，且对称分布在筛分板8的底部。通过将一批次微电子元件放入弹簧管13中，后启动驱动部件使活塞3在滑槽2的内部进行滑动，活塞3移动将滑槽2内部的气体挤压进入通气管10中，后气体推动弹簧管13产生形变，形变后的弹簧管13将其表面的微电子元件推出，并落在筛分板8表面，由于弹簧管13为螺旋行程，故每次被推动时移动的距离是固定的，从而达到了利用弹簧螺旋行程进行微电子元件定量供给的效果。空气弹簧7的表面活动连接有筛分板8，筛分板8的表面固定连接有柔性布，壳体1的表面且位于筛分板8的底部固定连接有次品槽14，次品槽14的开口直径大于微电子元件的直径；气囊9具有一定的弹性形变能力，且弹力大于推杆4的重力，便于活塞3不挤压气囊9时，气囊9可恢复自身弹力并便于下次使用。壳体1的内部且位于活塞3的表面固定连接有气囊9，壳体1的表面且位于气囊9的上方固定连接有通气管10，通气管10的表面活动连接有调节轴11，调节轴11的表面活动连接有储气槽12，储气槽12为回形设计，且储气槽12的体积小于气囊9的体积，储气槽12的作用是存放气流，当弹簧管13回落时减低其内部微电子元件的冲击力；储气槽12的表面活动连接有弹簧管13。在使用时，通过活塞3移动推动弹簧管13的同时，部分气体从气孔15流入空气弹簧7中，后微电子元件从弹簧管13中流出落在筛分板8表面，若此时的微电子元件表面未被挤压，则微电子元件施加在筛分板8表面的力是均衡的，即推动空气弹簧7产生的形变量是固定的，故空气弹簧7不会倾斜，若微电子元件表面被挤压变形，则会落在筛分板8表面的左边或者右边，即两个空气弹簧7的受力不均匀，进而使受力较大的一侧的气体排出，排出的气流会流出另一侧受力较小的空气弹簧7中，后使筛分板8倾斜，将其表面的微电子元件落入次品槽14中。以上，仅为本专利技术较佳的具体实施方式，但本专利技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本专利技术揭露的技术范围内，根据本专利技术的技术方案及其专利技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种宽带铜线接入设备用晶元检测设备，包括壳体(1)，其特征在于：所述壳体(1)的内部开设有滑槽(2)，滑槽(2)的表面滑动连接有活塞(3)，活塞(3)的表面活动连接有推杆(4)，推杆(4)的表面活动连接有匀气管(5)，推杆(4)远离活塞(3)的一端活动连接有伸缩杆(6)，伸缩杆(6)的表面活动连接有空气弹簧(7)，空气弹簧(7)的表面活动连接有筛分板(8)；/n所述壳体(1)的内部且位于活塞(3)的表面固定连接有气囊(9)，壳体(1)的表面且位于气囊(9)的上方固定连接有通气管(10)，通气管(10)的表面活动连接有调节轴(11)，调节轴(11)的表面活动连接有储气槽(12)，储气槽(12)的表面活动连接有弹簧管(13)。/n

【技术特征摘要】
1.一种宽带铜线接入设备用晶元检测设备，包括壳体(1)，其特征在于：所述壳体(1)的内部开设有滑槽(2)，滑槽(2)的表面滑动连接有活塞(3)，活塞(3)的表面活动连接有推杆(4)，推杆(4)的表面活动连接有匀气管(5)，推杆(4)远离活塞(3)的一端活动连接有伸缩杆(6)，伸缩杆(6)的表面活动连接有空气弹簧(7)，空气弹簧(7)的表面活动连接有筛分板(8)；
所述壳体(1)的内部且位于活塞(3)的表面固定连接有气囊(9)，壳体(1)的表面且位于气囊(9)的上方固定连接有通气管(10)，通气管(10)的表面活动连接有调节轴(11)，调节轴(11)的表面活动连接有储气槽(12)，储气槽(12)的表面活动连接有弹簧管(13)。


2.根据权利要求1所述的一种宽带铜线接入设备用晶元检测设备，其特征在于：所述壳体(1)的表面且位于筛分板(8)的底部固定连接有次品槽(14)。


3.根据权利要求1所述的一种宽带铜线接入设备用晶元检...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴国强，
申请(专利权)人：杭州伊菲科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33