【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】减少图像中的图像伪影
本专利技术的各种实施例涉及图像捕捉技术。本专利技术的各种实施例尤其涉及减少图像中的图像伪影(例如，反射和/或阴影)的技术。
技术介绍
在通过具有照明模块来照明的光学系统记录图像的过程中会产生图像伪影。图像伪影的例子包括反射和阴影。图像伪影通常是基于照明、样本对象和光学系统检测器的检测光学元件之间的相互作用。反射导致相应图像的某一区域内的强度增加或减少，从而导致信息丢失。例如，如果用于照明(照度)的光被反射到图像的某一区域，那么要成像的样本对象中原本要成像到相应的图像区域的那些区域的信息因此而丢失。因此，记录的图像中的反射会损害图像印象。相应地，由于阴影的影响，图像可能会调制不足，从而损害图像印象。反射可能有多种原因。可能会由于光学系统内的反射而产生图像中的反射。例如，光学系统内照明的多反射可能导致出现图像反射。反射也可以称为系统反射。可选地或额外地，在特定方向上成像的样本对象的高反射率也可以产生图像反射。这种类型的反射也可以被称为对象反射(objectreflections)。例如，对象...
【技术保护点】
1.一种减少图像伪影的方法，包括：/n--通过照明模块(111)的照明和通过检测器(116)的多个检测器元件(118)：针对样本对象(210)相对于照明(119)和相对于所述检测器(116)的第一排布(851-854)，捕获所述样本对象(210)的第一图像(201-203)；还针对所述样本对象(210)相对于所述照明(119)和相对于所述检测器(116)的第二排布(851-854)，捕获所述样本对象(210)的至少一个第二图像(201-203)，其中，所述第二排布至少部分地不同于第一排布；/n--对于所述第一图像(201-203)的每个像素：将相应的像素值(261-266)...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171106 DE 102017125799.31.一种减少图像伪影的方法，包括：
--通过照明模块(111)的照明和通过检测器(116)的多个检测器元件(118)：针对样本对象(210)相对于照明(119)和相对于所述检测器(116)的第一排布(851-854)，捕获所述样本对象(210)的第一图像(201-203)；还针对所述样本对象(210)相对于所述照明(119)和相对于所述检测器(116)的第二排布(851-854)，捕获所述样本对象(210)的至少一个第二图像(201-203)，其中，所述第二排布至少部分地不同于第一排布；
--对于所述第一图像(201-203)的每个像素：将相应的像素值(261-266)与所述至少一个第二图像(201-203)的至少一个指定像素的至少一个像素值(261-266)进行比较；
--根据所述比较：将所述第一图像(201-203)和所述至少一个第二图像(201-203)逐个像素地组合，以生成结果图像(250)。
2.根据权利要求1所述的方法，还包括：
--控制所述照明模块(111)，以产生具有与所述第一排布(851-854)相关联的第一照明几何结构(801、802)的照明，以及
--控制所述照明模块(111)，以产生具有与至少一个所述第二排布(851-854)相关联，并且与所述第一照明几何结构不同的第二照明几何结构(801、802)的照明。
3.根据权利要求1或2所述的方法，还包括：
--控制固定所述样本对象(210)的样本支架(113)，以将所述样本对象(210)固定在与所述第一排布(851-854)相关联的第一位置，以及
--控制所述样本支架(113)，以将所述样本对象(210)固定在与所述第二排布(851-854)相关联，并且与所述第一位置不同的第二位置。
4.根据前述权利要求中任何一项所述的方法，还包括：
--控制固定所述检测器(116)的电机，以将所述检测器(116)固定在与所述第一排布(851-854)相关联的第一位置，以及
--控制所述电机，以将所述检测器(116)固定在与所述第二排布(851-854)相关联，并且与所述第一位置不同的第二位置。
5.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，还包括：
--对于所述第一图像(201-203)的每个像素：如果所述比较表示非极限像素值(262、263、265、266)，使用相应的像素用于所述组合。
6.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，还包括：
--对于所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：拉尔斯·斯托普，
申请(专利权)人：卡尔蔡司显微镜有限责任公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE
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