雷达芯片的测试系统技术方案

本发明专利技术揭示了一种雷达芯片的测试系统。所述测试系统包括：信号源，用于为待测雷达芯片提供射频信号；频谱仪，用于测量待测雷达芯片的发射信号；测试板，用于支持待测雷达芯片工作，并将待测雷达芯片的射频输出端口和射频输入端口引出；射频接口模块，包括用于将测试板上待测雷达芯片的射频输入端口连接至信号源的第一功分器、以及将测试板上待测雷达芯片的射频输出端口连接至频谱仪的第二功分器；ATE机台，用于获取所述频谱仪和/或待测雷达芯片的测量数据，以判断待测雷达芯片的发射性能和/或接收性能是否达到设定目标。本发明专利技术的优点包括能够实现多路相同信号的串行测试以及多路不同信号的并行测试，提高测试效率，将低测试成本。

【技术实现步骤摘要】
雷达芯片的测试系统
本专利技术属于雷达芯片的测试
，具体涉及一种雷达芯片的测试系统。
技术介绍
芯片量产测试是一项占芯片成本比重较大的部分，也是对产品质量要求很高的一环。量产芯片测试是指芯片在经过流片、划片、封装后进行的一种出厂前测试，目的是筛查出不良品，并对良品的测试结果进行记录和监测，避免不良品流向客户的同时也保证良品达到产品设计的目标。毫米波雷达芯片内部有锁相环PLL，以产生本振信号，通过倍频功能模块将本振信号上变频至发射频点上，通过内部功率放大器放大后至发射端PA_out脚再通过天线发射出去，这条链路为发射链路。毫米波雷达芯片内同时还具备接收链路，接收天线收到发射信号遇到障碍物返回的信号后，通过低噪声放大器LNA放大后与本振信号倍频后的信号进行混频，解调出中频信号。经过滤波、放大、模数转换后，到达数字处理模块进行信息提取和分析。毫米波雷达芯片一般都具备多个发射和接收通路，用于对目标的距离、速度、角度做精确的定位。每条通路都需要对其性能做准确的测试，以保证整颗芯片的功能达标。毫米波雷达芯片的工作频率比本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种雷达芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：/n信号源，用于为待测雷达芯片提供射频信号；/n频谱仪，用于测量待测雷达芯片的发射信号；/n测试板，用于支持待测雷达芯片工作，并将待测雷达芯片的射频输出端口和射频输入端口引出；/n射频接口模块，包括用于将所述测试板上待测雷达芯片的射频输入端口连接至所述信号源的第一功分器、以及将所述测试板上待测雷达芯片的射频输出端口连接至所述频谱仪的第二功分器；/nATE机台，用于获取所述频谱仪和/或待测雷达芯片的测量数据，以判断待测雷达芯片的发射性能和/或接收性能是否达到设定目标。/n

【技术特征摘要】
1.一种雷达芯片的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：
信号源，用于为待测雷达芯片提供射频信号；
频谱仪，用于测量待测雷达芯片的发射信号；
测试板，用于支持待测雷达芯片工作，并将待测雷达芯片的射频输出端口和射频输入端口引出；
射频接口模块，包括用于将所述测试板上待测雷达芯片的射频输入端口连接至所述信号源的第一功分器、以及将所述测试板上待测雷达芯片的射频输出端口连接至所述频谱仪的第二功分器；
ATE机台，用于获取所述频谱仪和/或待测雷达芯片的测量数据，以判断待测雷达芯片的发射性能和/或接收性能是否达到设定目标。


2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试板用于支持至少两颗待测雷达芯片工作。


3.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述ATE机台用于比较所述频谱仪的测量数据与第一门限值以判断待测雷达芯片的发射性能是否达到设定目标；和/或，所述ATE机台用于比较待测雷达芯片的测试数据与第二门限值以判断待测雷达芯片的接收性能是否达到设定目标。


4.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述信号源通过同轴射频线缆连接至所述第一功分器的输入端，所述第一功分器用于将所述信号源产生的信号等分为多路信号；
所述频谱仪通过同轴射频...

【专利技术属性】
技术研发人员：江明，陈勇，修剑平，林越，
申请(专利权)人：矽典微电子上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31