双折射干涉仪及基于双折射干涉仪的量子光学实验装置制造方法及图纸

双折射干涉仪及基于双折射干涉仪的量子光学实验装置，其中双折射干涉仪包括形成第一光路和第二光路的第三偏振分束器、第二晶体、第三晶体、多个反射镜；第三偏振分束器包括作为输入的端口Port 0和端口Port 1、与端口Port 0对应的作为输出的端口Port 5、与端口Port 1对应的作为输出的端口Port 4，还包括分束后的端口Port 2和端口Port 3；第一光路为端口Port 0的光束依次经过第三偏振分束器、端口Port 2、第二晶体、第三偏振分束器的端口Port 4，第二光路为端口Port 1的光束依次经过第三偏振分束器、端口Port 3、第三晶体、第三偏振分束器的端口Port 5，第一光路和第二光路中的光束经过所有的反射镜折转光路。在实际实验中，这些端口接入不同的模块，可实现不同的实验功能。

【技术实现步骤摘要】
双折射干涉仪及基于双折射干涉仪的量子光学实验装置
本专利技术涉及量子光学、双折射干涉仪
，尤其涉及双折射干涉仪及基于双折射干涉仪的量子光学实验装置。
技术介绍
自1807年杨氏双缝干涉的开创性工作以来，光学干涉仪已经成为现代科学技术研究光的基本性质的基本工具，在各个科学领域有着广泛的应用。例如，用干涉仪来研究光子的波粒二象性和量子源的非经典效应。自狄拉克以来，人们对光子干涉的基本认识一直存在争议。在狄拉克看来，光子只能干涉它自己。这种观点在解释Ⅰ型或Ⅱ型自发参量下转换过程产生的双光子干涉时遇到了一些问题。后来，物理学家更新了狄拉克的观点，因为一对光子只会干扰这对光子本身。一旦我们知道了光子在某一干涉过程中的行为，我们就可以更好地将这种行为应用到基于光子干涉的高精度测量中。大多数物理量的测量，包括位置、位移、距离、角度、光频散和光路长度，通常取决于特定干涉条纹或模式的解码参数。如何在单个干涉条纹中获得稳定的干涉条纹和更多的参数是基于干涉的精密光学计量学长期追求的目标。干涉仪是揭示光的本质和进行精密光学测量的重要仪器之一，虽然已经进行本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.双折射干涉仪，其特征在于，包括形成第一光路和第二光路的第三偏振分束器(31)、第二晶体(33)、第三晶体(35)、多个反射镜，所述反射镜用于折转光路，且保证第一光路和第二光路在相同的反射镜上有横向距离；所述第三偏振分束器(31)包括作为输入的端口Port 0和端口Port 1、与端口Port 0对应的作为输出的端口Port 5、与端口Port 1对应的作为输出的端口Port 4，还包括分束后的端口Port 2和端口Port 3；所述第一光路为所述端口Port 0的光束依次经过第三偏振分束器(31)、端口Port 2、第二晶体(33)、第三偏振分束器(31)的端口Port 4，所述第二光路为...

【技术特征摘要】
1.双折射干涉仪，其特征在于，包括形成第一光路和第二光路的第三偏振分束器(31)、第二晶体(33)、第三晶体(35)、多个反射镜，所述反射镜用于折转光路，且保证第一光路和第二光路在相同的反射镜上有横向距离；所述第三偏振分束器(31)包括作为输入的端口Port0和端口Port1、与端口Port0对应的作为输出的端口Port5、与端口Port1对应的作为输出的端口Port4，还包括分束后的端口Port2和端口Port3；所述第一光路为所述端口Port0的光束依次经过第三偏振分束器(31)、端口Port2、第二晶体(33)、第三偏振分束器(31)的端口Port4，所述第二光路为所述端口Port1的光束依次经过第三偏振分束器(31)、端口Port3、第三晶体(35)、第三偏振分束器(31)的端口Port5，第一光路和第二光路中的光束经过所有的反射镜折转光路。


2.根据权利要求1所述的双折射干涉仪，其特征在于，反射镜包括第一反射镜(32)、第二反射镜(34)、第三反射镜(36)，所述第一反射镜(32)设置在第三偏振分束器(31)与第二晶体(33)的光路之间，所述第二反射镜(34)设置在第二晶体(33)与第三晶体(35)的光路之间，所述第三反射镜(36)设置在第三晶体(35)与第三偏振分束器(31)的光路之间。


3.根据权利要求1所述的双折射干涉仪，其特征在于，所述第二晶体(33)的下方设置有使其相对于水平极化方向旋转的旋转台，所述第二晶体(33)外还设置有控制其温度的第一温度控制器，所述第二晶体(33)的环境温度可调；所述第三晶体(35)固定在支撑台上，所述第三晶体(35)外还设置有使其在设定温度下的第二温度控制器。


4.根据权利要求1所述的双折射干涉仪，...

【专利技术属性】
技术研发人员：周志远，杨凯，李银海，李岩，史保森，
申请(专利权)人：青岛鲲腾量子应用技术有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37