一种直线位移传感器细分芯片自动调试系统及调试方法技术方案

本发明专利技术公开了一种直线位移传感器细分芯片自动调试系统及调试方法，所述系统中，直线伺服电机带动直线位移传感器同步直线运动生成位置信号数据采集卡采集直线位移传感器细分芯片处理位置信号而生成的正余弦信号并发送给电脑，电脑内设置有自动调试控制模块和信号参数模块，信号参数模块内存储有信号参数参考数据，用于判断数据采集卡采集的正余弦信号是否合格，自动调试控制模块内置自动调试控制程序，用于控制直线伺服电机运动，并控制数据采集卡采集正余弦信号，进而计算获得信号参数与信号参数参考数据进行比实现对细分芯片的调试。本发明专利技术能够实现准确采集信号，提高了调试效率，且调试结果一致性较好。

【技术实现步骤摘要】
一种直线位移传感器细分芯片自动调试系统及调试方法
本专利技术属于直线位移传感器信号调试
，具体涉及一种直线位移传感器细分芯片自动调试系统及调试方法。
技术介绍
直线位移传感器是一种将直线机械位移量转换成电信号的检测元件。直线位移传感器若要实现高分辨率，需要在直线位移传感器内部设置细分芯片，通过采用细分芯片对传感器芯片的位置信息进行处理并细分，具体过程如下：首先，直线位移传感器的传感器芯片利用光电转换或磁电转换的方式，将其检测到的位置信息转换成一组准正交电信号，即一组正余弦信号；然后，细分芯片将对此组正余弦信号进行放大、偏移及相移处理，生成一组高质量的正余弦信号，如图2所示；最后，细分芯片再对此组高质量的正余弦信号进行细分处理，最终生成高分辨率的增量位置信号，如图3所示。现有技术中，对直线位移传感器细分芯片的调试采用手动调试方法，而手动调试存在以下缺陷：1、由于直线位移传感器的位移量有限，信号的采样时间较短，若调试人员对信号采样时机把握不准，则无法集到正确的信号；2、由于手动调试需要人本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种直线位移传感器细分芯片自动调试系统，其特征在于：/n所述自动调试系统包括：直线伺服电机、数据采集卡和电脑；/n所述直线伺服电机的直线运动执行端与待调试的直线位移传感器相连，以带动直线位移传感器同步直线运动生成位置信号；/n所述数据采集卡用于采集直线位移传感器细分芯片处理位置信号而生成的正余弦信号并发送给电脑；/n所述电脑内设置有自动调试控制模块和信号参数模块；/n所述信号参数模块内存储有信号参数参考数据，用于判断数据采集卡采集的正余弦信号是否合格；/n所述自动调试控制模块内置自动调试控制程序，用于控制直线伺服电机运动，并控制数据采集卡采集正余弦信号，进而计算获得信号参数与信号参数参考数...

【技术特征摘要】
1.一种直线位移传感器细分芯片自动调试系统，其特征在于：
所述自动调试系统包括：直线伺服电机、数据采集卡和电脑；
所述直线伺服电机的直线运动执行端与待调试的直线位移传感器相连，以带动直线位移传感器同步直线运动生成位置信号；
所述数据采集卡用于采集直线位移传感器细分芯片处理位置信号而生成的正余弦信号并发送给电脑；
所述电脑内设置有自动调试控制模块和信号参数模块；
所述信号参数模块内存储有信号参数参考数据，用于判断数据采集卡采集的正余弦信号是否合格；
所述自动调试控制模块内置自动调试控制程序，用于控制直线伺服电机运动，并控制数据采集卡采集正余弦信号，进而计算获得信号参数与信号参数参考数据进行比对，实现对细分芯片的调试。


2.如权利要求1所述一种直线位移传感器细分芯片自动调试系统，其特征在于：
所述直线伺服电机上集成有驱动器和控制卡，用于接收控制信号并驱动直线伺服电机运行。


3.如权利要求1所述一种直线位移传感器细分芯片自动调试系统，其特征在于：
所述电脑通过调试线与直线位移传感器的细分芯片相连；
电脑通过所述调试线从细分芯片中读取配置信息或向细分芯片写入配置信息。


4.如权利要求1所述一种直线位移传感器细分芯片自动调试系统，其特征在于：
所述自动调试控制模块接收数据采集卡采集正余弦信号，并计算获得的信号参数包括：正余弦信号的幅值、偏移量和相位差。


5.如权利要求1所述一种直线位移传感器细分芯片自动调试系统，其特征在于：
所述电脑内还包含有细分芯片初始化模块；
所述细分芯片初始化模块内存储有细分芯片初始化配置数据，用于对细分芯片初始化配置。

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【专利技术属性】
技术研发人员：龚明贺，卢欣霁，张燕，
申请(专利权)人：长春晟博光学技术开发有限公司，
类型：发明
国别省市：吉林;22