闪存的数据重读方法、装置、设备及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种闪存的数据重读方法，该数据重读方法包括构建重读参数库；根据发生比特翻转时的闪存温度、闪存读次数和闪存擦写次数，获取所述闪存发生比特翻转的原因；根据所述原因从所述重读参数库中调用对应的重读参数进行数据重读。本发明专利技术有利于提高闪存在发生比特翻转后进行数据重读操作的效率。此外，本发明专利技术还公开一种闪存的数据重读装置、设备及计算机可读存储介质。

【技术实现步骤摘要】
闪存的数据重读方法、装置、设备及计算机可读存储介质
本专利技术涉及闪存数据读取
，具体涉及一种闪存的数据重读方法、装置、设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
众所周知，闪存系统是一种允许在操作中被多次擦或写的存储装置，如现有的U盘和固态硬盘，现有的U盘和固态硬盘在特定的条件下读数据可能会发生比特翻转，从而会出现数据读取错误或者无法读取的现象。其中，不同情况导致的比特翻转需要不同的重读参数进行重新读取以保证读取数据的准确性。现有的重读方式一般为在收纳的重读参数中逐个进行操作，但是，这种重读的方式只能按照相应的顺序进行重读操作，以确定适用的重读参数后完成重读操作，从而导致存储装置在发生比特翻转后进行重读操作的效率较低。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种闪存的数据重读方法，旨在解决闪存系统在发生比特翻转后进行重读操作的效率较低的技术问题。为解决上述技术问题，本专利技术提出一种闪存的数据重读方法，该数据重读方法包括：构建重读参数库；根据发生比特翻转时的闪存温度、闪存读次数和闪存擦写次数，获取所述闪存发生比特翻转的原因；根据所述原因从所述重读参数库中调用对应的重读参数进行数据重读。优选地，在所述根据发生比特翻转时的闪存温度、闪存读次数和闪存擦写次数，获取所述闪存发生比特翻转的原因的步骤之前还包括：获取所述闪存的读数据类别，所述读数据类别包括0和1；判断所述读数据中0的个数是否小于预设值；若是，则判断所述闪存发生比特翻转的原因是空页干扰并退出数据重读操作；若否，则判断所述闪存发生比特翻转的原因不是空页干扰并执行数据重读操作。优选地，所述根据发生比特翻转时的闪存温度、闪存读次数和闪存擦写次数，判断所述闪存发生比特翻转的原因包括：判断所述闪存温度是否超出预设温度范围；若是，则判断所述闪存发生比特翻转的原因是温度干扰；若否，则判断所述闪存发生比特翻转的原因不是温度干扰。优选地，所述根据发生比特翻转时的闪存温度、闪存读次数和闪存擦写次数，判断所述闪存发生比特翻转的原因包括：判断所述闪存读次数是否大于预设值；若是，则判断所述闪存发生比特翻转的原因是读干扰；若否，则判断所述闪存发生比特翻转的原因不是读干扰。本专利技术还提出一种闪存的数据重读装置，该重读装置包括：存储模块，用于存储重读参数；第一判断模块，用于获取发生比特翻转时的闪存温度、闪存读次数和闪存擦写次数，并判断所述闪存发生比特翻转的原因；执行模块，根据所述原因从所述重读参数库中调用对应的重读参数进行数据重读。优选地，所述数据重读装置还包括第二判断模块，所述第二判断模块包括：获取单元，用于获取所述闪存的读数据类别，所述读数据类别包括0和1；第一判断单元，判断读数据中0的个数是否小于预设值；若是，则判断闪存发生比特翻转的原因是空页干扰并退出数据重读操作；若否，则判断闪存发生比特翻转的原因不是空页干扰并执行数据重读操作。优选地，所述第一判断模块包括：第二判断单元，用于判断所述闪存温度是否超出预设温度范围；若是，则判断所述闪存发生比特翻转的原因是温度干扰；若否，则判断所述闪存发生比特翻转的原因不是温度干扰。优选地，所述第一判断模块还包括：第三判断单元，用于判断所述闪存读次数是否大于预设值；若是，则判断所述闪存发生比特翻转的原因是读干扰；若否，则判断所述闪存发生比特翻转的原因不是读干扰。本专利技术还提出一种闪存的数据重读设备，其特征在于，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时至少实现如下所述闪存的数据重读方法的步骤：构建重读参数库；根据发生比特翻转时的闪存温度、闪存读次数和闪存擦写次数，获取所述闪存发生比特翻转的原因；根据所述原因从所述重读参数库中调用对应的重读参数进行数据重读。本专利技术还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时至少实现如下所述闪存的数据重读方法的步骤：构建重读参数库；根据发生比特翻转时的闪存温度、闪存读次数和闪存擦写次数，获取所述闪存发生比特翻转的原因；根据所述原因从所述重读参数库中调用对应的重读参数进行数据重读。本专利技术实施例提供的闪存的数据重读方法，通过构建重读参数库并根据获取闪存发生比特翻转时的信息判断闪存系统读取错误的类别，然后调用对应的重读参数进行重读操作，如温度倾向性重读参数、读干扰倾向性重读参数、高擦写倾向性重读参数以及数据保留倾向性重读参数。相对现有技术而言，本专利技术有利于提高闪存在发生比特翻转后进行重读操作的效率。附图说明图1为本专利技术中闪存的数据重读方法一实施例的流程图；图2为本专利技术中闪存的数据重读方法的程序框图；图3为本专利技术中闪存的数据重读装置一实施例的结构示意图。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制，基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术提出一种闪存的数据重读方法，如图1所示，该数据重读方法包括：S100，构建重读参数库。本步骤中，构建重读参数库的方式为将重读数据存储在某一特定的存储器中，至于重读参数的获取方式可以是直接从闪存(即存储装置)的生产厂商获取，也可以是在模拟软件上进行特性场景仿真，从而获得特定情形的重读参数。同时，因为引起比特翻转的原因有温度干扰、读干扰、高擦写干扰和其它干扰，所以分别针对不同的原因获取不同的重读参数，如与温度干扰对应的温度倾向性重读参数，与读干扰对应的读倾向性重读参数，与高擦写干扰对应的高擦写倾向性重读参数，与其它干扰对应的数据保留倾向性重读参数。S200，根据发生比特翻转时的读数据类别、闪存温度、闪存读次数和闪存擦写次数，获得所述闪存发生比特翻转的原因。本步骤中，在发生比特翻转后，首先获取闪存的读数据类别、闪存温度、闪存读次数和闪存擦写次数，从而根据上述数据判断发生此次比特反转的原因，具体的判断过程可以是获取的数据是否超过预设范围，如果超过则判断为该原因导致的比特翻转，从而获得导致比特翻转的具体原因。S300，根据所述原因从所述重读参数库中调用对应的重读参数进行数据重读。本步骤中，在获取导致比特翻转的原因后，从重读数据库中调用与前述原因对应的重读参数即可，具体的重读过程可以是若为闪存温度导致的比特翻转时则调用温度倾向性重读参数进行重读操作，若为闪存读此书导致的比特翻转则调用读倾向性重读参数进行重读操作，若为闪存擦写次本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种闪存的数据重读方法，其特征在于，包括：/n构建重读参数库；/n根据发生比特翻转时的闪存温度、闪存读次数和闪存擦写次数，获取所述闪存发生比特翻转的原因；/n根据所述原因从所述重读参数库中调用对应的重读参数进行数据重读。/n

【技术特征摘要】
1.一种闪存的数据重读方法，其特征在于，包括：
构建重读参数库；
根据发生比特翻转时的闪存温度、闪存读次数和闪存擦写次数，获取所述闪存发生比特翻转的原因；
根据所述原因从所述重读参数库中调用对应的重读参数进行数据重读。


2.根据权利要求1所述的数据重读方法，其特征在于，在所述根据发生比特翻转时的闪存温度、闪存读次数和闪存擦写次数，获取所述闪存发生比特翻转的原因的步骤之前还包括：
获取所述闪存的读数据类别，所述读数据类别包括0和1；
判断所述读数据中0的个数是否小于预设值；
若是，则判断所述闪存发生比特翻转的原因是空页干扰并退出数据重读操作；
若否，则判断所述闪存发生比特翻转的原因不是空页干扰并执行数据重读操作。


3.根据权利要求1或2所述的数据重读方法，其特征在于，所述根据发生比特翻转时的闪存温度、闪存读次数和闪存擦写次数，判断所述闪存发生比特翻转的原因包括：
判断所述闪存温度是否超出预设温度范围；
若是，则判断所述闪存发生比特翻转的原因是温度干扰；
若否，则判断所述闪存发生比特翻转的原因不是温度干扰。


4.根据权利要求3所述的数据重读方法，其特征在于，所述根据发生比特翻转时的闪存温度、闪存读次数和闪存擦写次数，判断所述闪存发生比特翻转的原因包括：
判断所述闪存读次数是否大于预设值；
若是，则判断所述闪存发生比特翻转的原因是读干扰；
若否，则判断所述闪存发生比特翻转的原因不是读干扰。


5.一种闪存的数据重读装置，其特征在于，包括：
存储模块，用于存储重读参数；
第一判断模块，用于获取发生...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱钦床，叶欣，张翔，李振华，
申请(专利权)人：深圳佰维存储科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44