本发明专利技术涉及基于光纤结构的卡尺,具体涉及长度检测装置领域。本发明专利技术提供的卡尺包括:底座、深度尺、探测器、激光器、光纤、可移动滑块、固定挡板和处理显示模块;当该卡尺需要对待测物体进行尺寸测量测量时候,将该待测物体夹持在该可移动滑块和该固定挡板之间,该可移动滑块对该光纤进行挤压,激光器射出的光耦合进该光纤的入射端,由于该光纤的另一端镀有反射膜,光传输到该反射膜上时,原路返回通过该光纤的入射端进入到该探测器中,由于可移动滑块对该光纤进行挤压,使得该光纤产生了形变,进而使得该光纤中传输的光产生弯曲损耗,通过该弯曲损耗可以计算的到该待测物体的准确的尺寸参数。
【技术实现步骤摘要】
基于光纤结构的卡尺
本专利技术涉及长度检测装置领域,具体涉及一种基于光纤结构的卡尺。
技术介绍
卡尺是生活中常用的一种量具,可以用来测量长度、内外径、深度,具有计量和检验的作用。在工业生产生中,也需要卡尺检验加工的产品是否符合标准。现有技术中的卡尺主要包括:机械卡尺和电子卡尺两种,机械卡尺一般的最小误差为±0.03mm,电子卡尺的最小误差一般为±0.005mm/50mm。但是,现有技术中的卡尺不适用于精度要求较高的测量要求。
技术实现思路
本本专利技术的目的在于,针对上述现有技术中的不足,提供一种基于光纤结构的卡尺,以解决现有技术中的卡尺不适用于精度要求较高的测量要求的问题。为实现上述目的,本专利技术实施例采用的技术方案如下:本申请提供一种基于光纤结构的卡尺,卡尺包括:底座、深度尺、探测器、激光器、光纤、可移动滑块、固定挡板和处理显示模块;底座的一端靠近底座的表面的位置开设有容纳深度尺的凹槽,凹槽的长度大于深度尺的长度,深度尺设置在凹槽中,可移动滑块垂直设置在深度尺远离开槽处的另一端,固定挡板固定设置在底座靠近可移动滑块的一端,底座另一端设置有激光器,探测器设置在激光器远离底座的一侧,光纤为“Y”形光纤,“Y”形光纤的分叉端分别连接有激光器和探测器,“Y”形光纤的另一端涂覆有反射膜,且与可移动滑块连接,处理显示模块与探测器电连接,用于接收探测器探测的光信号。可选的,该“Y”形光纤远离分叉端的一端涂覆的反射膜为全反射膜。可选的,该光纤的形状为螺旋状。可选的,该螺旋状光纤的螺旋直径为1cm~2cm。可选的,该卡尺还包括电磁屏蔽膜,电磁屏蔽膜镀在光纤表面。可选的,该电磁屏蔽膜的材料采用金属铜的氧化物。可选的,该光纤靠近可移动滑块的一端为直光纤。可选的,该直光纤靠近可移动滑块一端镀有反射膜。可选的,该光纤内部镶嵌有贵金属纳米颗粒。本专利技术的有益效果是:本专利技术提供的卡尺包括:底座、深度尺、探测器、激光器、光纤、可移动滑块、固定挡板和处理显示模块;底座的一端靠近底座的表面的位置开设有容纳深度尺的凹槽,凹槽的长度大于深度尺的长度,深度尺设置在凹槽中,可移动滑块垂直设置在深度尺远离开槽处的另一端,固定挡板固定设置在底座靠近可移动滑块的一端,底座另一端设置有激光器,探测器设置在激光器远离底座的一侧,光纤为“Y”形光纤,“Y”形光纤的分叉端分别连接有激光器和探测器,“Y”形光纤的另一端涂覆有反射膜,且与可移动滑块连接,处理显示模块与探测器电连接,用于接收探测器探测的光信号,当该卡尺需要对待测物体进行尺寸测量测量时候,将该待测物体夹持在该可移动滑块和该固定挡板之间,该可移动滑块对该光纤进行挤压,激光器射出的光耦合进该光纤的入射端,由于该光纤的另一端镀有反射膜,光传输到该反射膜上时,原路返回通过该光纤的入射端进入到该探测器中,由于可移动滑块对该光纤进行挤压,使得该光纤产生了形变,进而使得该光纤中传输的光产生弯曲损耗,通过该弯曲损耗可以计算的到该待测物体的准确的尺寸参数,并且由于本申请通过光的弯曲损耗计算的到该待测物体的尺寸参数,由于对光的弯曲损耗测量较为准确,则计算得到的待测物体的尺寸参数精度较高。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为专利技术实施例提供的一种基于光纤结构的卡尺的结构示意图;图2为专利技术实施例提供的另一种基于光纤结构的卡尺的结构示意图;图3为专利技术实施例提供的光纤端面法布里-珀罗干涉腔的结构示意图;图4为专利技术实施例提供的内部设置有金属纳米颗粒的光纤结构示意图。图标:10-深度尺;20-处理显示模块;30-探测器;40-激光器;50-光纤;60-可移动滑块;70-固定挡板;80-底座;51-反射层;52-贵金属纳米颗粒。具体实施方式为为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本专利技术一个实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此,以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围,而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。在本专利技术的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系,仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本专利技术的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外,术语“水平”、“竖直”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂,而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平,并不是表示该结构一定要完全水平,而是可以稍微倾斜。在本专利技术的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。为了使本专利技术的实施过程更加清楚,下面将会结合附图进行详细说明。图1为专利技术实施例提供的一种基于光纤结构的卡尺;如图1所示,本申请提供一种基于光纤结构的卡尺,卡尺包括:底座80、深度尺10、探测器30、激光器40、光纤50、可移动滑块60、固定挡板70和处理显示模块20;底座80的一端靠近底座80的表面的位置开设有容纳深度尺10的凹槽,凹槽的长度大于深度尺10的长度,深度尺10设置在凹槽中,可移动滑块60垂直设置在深度尺10远离开槽处的另一端,固定挡板70固定设置在底座80靠近可移动滑块60的一端,底座80另一端设置有激光器40,探测器30设置在激光器40远离底座80的一侧,光纤50为“Y”形光纤,“Y”形光纤的分叉端分别连接有激光器40和探测器30,“Y”形光纤的另一端涂覆有反射膜,且与可移动滑块60连接,处理显示模块20与探测器30电连接,用于接收探测器30探测本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种基于光纤结构的卡尺,其特征在于,所述卡尺包括:底座、深度尺、探测器、激光器、光纤、可移动滑块、固定挡板和处理显示模块;所述底座的一端靠近所述底座的表面的位置开设有容纳所述深度尺的凹槽,所述凹槽的长度大于所述深度尺的长度,所述深度尺设置在所述凹槽中,所述可移动滑块垂直设置在所述深度尺远离开槽处的另一端,所述固定挡板固定设置在所述底座靠近所述可移动滑块的一端,所述底座另一端设置有所述激光器,所述探测器设置在所述激光器远离所述底座的一侧,所述光纤为“Y”形光纤,所述“Y”形光纤的分叉端分别连接有所述激光器和所述探测器,所述“Y”形光纤的另一端涂覆有反射膜,且与所述可移动滑块连接,所述处理显示模块与所述探测器电连接,用于接收所述探测器探测的光信号。/n
【技术特征摘要】
1.一种基于光纤结构的卡尺,其特征在于,所述卡尺包括:底座、深度尺、探测器、激光器、光纤、可移动滑块、固定挡板和处理显示模块;所述底座的一端靠近所述底座的表面的位置开设有容纳所述深度尺的凹槽,所述凹槽的长度大于所述深度尺的长度,所述深度尺设置在所述凹槽中,所述可移动滑块垂直设置在所述深度尺远离开槽处的另一端,所述固定挡板固定设置在所述底座靠近所述可移动滑块的一端,所述底座另一端设置有所述激光器,所述探测器设置在所述激光器远离所述底座的一侧,所述光纤为“Y”形光纤,所述“Y”形光纤的分叉端分别连接有所述激光器和所述探测器,所述“Y”形光纤的另一端涂覆有反射膜,且与所述可移动滑块连接,所述处理显示模块与所述探测器电连接,用于接收所述探测器探测的光信号。
2.根据权利要求1所述的一种基于光纤结构的卡尺,其特征在于,所述“Y”形光纤远离分叉端的一端涂覆的反射膜为全反射膜。
3.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员:不公告发明人,
申请(专利权)人:西安柯莱特信息科技有限公司,
类型:发明
国别省市:陕西;61
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