一种光学零位检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及光学检测技术领域，具体公开了一种光学零位检测装置，其中，包括：皮卡汀尼导轨、第一自准直仪、第二自准直仪、目标发生器、第一平面反射镜和第二平面反射镜；皮卡汀尼导轨用于被固定在振动冲击试验台上；第一平面反射镜和第二平面反射镜均设置在皮卡汀尼导轨的侧面，且第一平面反射镜的法线与第二平面反射镜的法线垂直；第一自准直仪与第一平面反射镜相对设置，且第一自准直仪的光轴与第一平面反射镜镜面垂直；第二自准直仪与第二平面反射镜相对设置，且第二自准直仪的光轴与第二平面反射镜镜面垂直；目标发生器与被测产品相对设置，且目标发生器的光轴与被测产品同轴设置。本实用新型专利技术提供的光学零位检测装置提高了检测效率与检测精度。

【技术实现步骤摘要】
一种光学零位检测装置
本技术涉及光学检测
，尤其涉及一种光学零位检测装置。
技术介绍
鉴于目前，大部分光学设备对光学产品的零位检测，其过程大多是先在试验台上实验，结束后再拆下被测产品，如此过程复杂且工作量较大，重复装夹过程也产生了人为操作因素的误差，效率低下。
技术实现思路
本技术提供了一种光学零位检测装置，解决相关技术中存在的光学零位检测效率低误差大的问题。作为本技术的一个方面，提供一种光学零位检测装置，其中，包括：皮卡汀尼导轨、第一自准直仪、第二自准直仪、目标发生器、第一平面反射镜和第二平面反射镜；所述皮卡汀尼导轨用于被固定在振动冲击试验台上，且用于装夹被测产品；所述第一平面反射镜和所述第二平面反射镜均设置在所述皮卡汀尼导轨的侧面，且所述第一平面反射镜的法线与所述第二平面反射镜的法线垂直；所述第一自准直仪与所述第一平面反射镜相对设置，且所述第一自准直仪的光轴与所述第一平面反射镜镜面垂直；所述第二自准直仪与所述第二平面反射镜相对设置，且所述第二自准直仪的光轴与所述第二平面反射镜本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学零位检测装置，其特征在于，包括：皮卡汀尼导轨、第一自准直仪、第二自准直仪、目标发生器、第一平面反射镜和第二平面反射镜；/n所述皮卡汀尼导轨用于被固定在振动冲击试验台上，且用于装夹被测产品；/n所述第一平面反射镜和所述第二平面反射镜均设置在所述皮卡汀尼导轨的侧面，且所述第一平面反射镜的法线与所述第二平面反射镜的法线垂直；/n所述第一自准直仪与所述第一平面反射镜相对设置，且所述第一自准直仪的光轴与所述第一平面反射镜镜面垂直；/n所述第二自准直仪与所述第二平面反射镜相对设置，且所述第二自准直仪的光轴与所述第二平面反射镜镜面垂直；/n所述目标发生器与所述被测产品相对设置，且所述目标发生器的...

【技术特征摘要】
1.一种光学零位检测装置，其特征在于，包括：皮卡汀尼导轨、第一自准直仪、第二自准直仪、目标发生器、第一平面反射镜和第二平面反射镜；
所述皮卡汀尼导轨用于被固定在振动冲击试验台上，且用于装夹被测产品；
所述第一平面反射镜和所述第二平面反射镜均设置在所述皮卡汀尼导轨的侧面，且所述第一平面反射镜的法线与所述第二平面反射镜的法线垂直；
所述第一自准直仪与所述第一平面反射镜相对设置，且所述第一自准直仪的光轴与所述第一平面反射镜镜面垂直；
所述第二自准直仪与所述第二平面反射镜相对设置，且所述第二自准直仪的光轴与所述第二平面反射镜镜面垂直；
所述目标发生器与所述被测产品相对设置，且所述目标发生器的光轴与所述被测产品同轴设置。


2.根据权利要求1所述的光学零位检测装置，其特征在于，所述第一自准直仪与所述第一平面反射镜的间隔距离在10cm...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘东锋，张磊，戴晓雨，谢佳玫，
申请(专利权)人：无锡市星迪仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32