一种光源测试装置及光源测试方法制造方法及图纸

本申请涉及光学测试领域，尤其涉及一种光源测试装置，本申请公开了一种光源测试装置，包括待测光源、导光板、感光器、测试电路，所述的待测光源用于发射光；所述的导光板用于将入射光转化为各向均匀的光；所述的感光器用于将光信号转换为电信号；所述的测试电路用于根据电信号测量光源参数。本申请采用导光板接收入射光，将集中的光线变成各方向均匀的光线，再由固定在导光板固定位置的感光器接收。导光板将发射光均匀分散的程度对每个光源都是一样的，因此可以通过标定来确定功率的比例系数，再根据系数来计算峰值功率。本申请实施例结构简单，只需将导光板放置在光源光路上即可，不需要对准光源，操作简单，需要的调整少。

【技术实现步骤摘要】
一种光源测试装置及光源测试方法
本专利技术申请涉及激光雷达测试
，尤其涉及一种光源测试装置及测试方法。
技术介绍
在激光雷达生产中，为了提高生产效率，需要对模块组件进行组装前测试，光源作为激光雷达的核心组件，对其进行检测尤其重要。激光雷达作为一个新兴的行业，目前的测试还没有形成统一的方法和设备，一般都是根据需要测试的参数自行用现有设备进行部分改造用来测试。光源由于涉及光学，因此测试起来相对复杂一些，目前测试工具主要有光电探头、光功率计等。这些设备在进行测试时需要对准激光发射光束来测量，由于多数光探头感光窗口很小，一般小于1mm，测试过程中必须将发射光全部置于接收窗口内，否则测出的激光峰值功率会不准确。而该窗口越大越容易引入环境光干扰。因此测试过程中对测试工具的对准成为最耗时间的工序。因此，需要提供一种测试操作简单，耗时少的光源测试装置。
技术实现思路
本申请实施例在于提出一种光源测试装置，解决现有技术存在的操作复杂，耗时长的问题。为达此目的，本专利技术申请实施例采用以下技术方案：一方面，一种光源测试装置，包括待测光源、导光板、感光器、测试电路，所述的待测光源用于发射光；所述的导光板用于将入射光转化为各向均匀的光；所述的感光器用于将光信号转换为电信号；所述的测试电路用于根据电信号测量光源参数。在一种可能的实施方式中，所述的感光器设置在导光板顶部、底部或者背光面。在一种可能的实施方式中，所述的光源测试装置，还包括导光柱，所述的导光柱与导光板设置在同一光路上，用于将入射光导向导光板。在一种可能的实施方式中，所述的导光柱为一个或多个，导光柱与待测光源一一对应。在一种可能的实施方式中，所述的导光柱一端与导光柱紧密接触。在一种可能的实施方式中，所述的导光柱材质为聚甲基丙烯酸甲酯、导光板材质为聚甲基丙烯酸甲酯或聚碳酸酯或聚苯乙烯。在一种可能的实施方式中，所述的待测光源具有透镜，所述的导光柱一端与透镜相配合，且直径大于光源透镜直径。在一种可能的实施方式中，所述的待测光源为激光发射模组或半导体激光器。在一种可能的实施方式中，所述的感光器为光电探头或光电二极管或雪崩光电二极管。在一种可能的实施方式中，所述的测试电路还包括峰值检测电路、脉宽测试电路、高速AD，用于检测峰值功率、脉宽和光脉冲强度从10%到90%峰值功率所用的时间。本申请实施例通过采用导光板接收入射光，将集中的光线变成各方向均匀的光线，再由固定在导光板固定位置的感光器接收。导光板将发射光均匀分散的程度对每个光源都是一样的，因此可以通过标定来确定功率的比例系数，再根据系数来计算峰值功率。本申请实施例结构简单，只需将导光板放置在光源光路上即可，操作简单，需要的调整少。附图说明图1是本申请实施例的示意图。图2是本申请实施例加装导光柱后的示意图。图3是本申请实施例具有多个导光柱的示意图。图4是本申请实施例待测光源具有透镜的示意图。图中：1、导光板；2、感光器；3、测试电路；4、导光柱；5、待测光源。具体实施方式下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本申请的技术方案。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。为了使本
的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、装置、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。本申请实施例。由图1所示,一种光源测试装置，包括待测光源5、导光板1、感光器2、测试电路3，所述的待测光源5用于发射光；所述的导光板1用于将入射光转化为各向均匀的光；所述的感光器2用于将光信号转换为电信号；所述的测试电路3用于根据电信号测量光源参数。所述的导光板1为PMMA导光板，也可根据需要选用（PS）导光板或聚碳酸酯（PC）导光板。所述的感光器2为光电探头或光电二极管或雪崩光电二极管。通过采用导光板1接收入射光，将集中的光线变成各方向均匀的光线，再由固定在导光板1固定位置的感光器2接收。导光板1将发射光均匀分散的程度对每个光源都是一样的，因此可以通过实验标定来确定感光器接收部分光占整个入射光功率的比例，再根据比例来计算峰值功率。实验标定为采用一固定功率的光源照射导光板1，感光器2得到一测量功率，测量功率与固定功率的比值为感光器接收部分光占整个入射光功率的比例。所述的感光器2设置在导光板1顶部、底部或者背光面。感光器2可以设置在导光板除接收面之外的任何一面。如图2所示，所述的光源测试装置，还可包括导光柱4，所述的导光柱4与导光板1设置在同一光路上，用于将入射光导向导光板1。导光柱4的设置是为了将入射光全部导向导光板，减少光损失。如果直接照射可能光斑分散，部分光不在导光板1接收范围内。如图3所示，有时需要同时测量多个光源，可以设置多个导光柱4，多个导光柱4对应多个待测光源5。由于导光板1的作用，每个待测光源5的发光被均匀分散，因此对于待测光源5在导光板1上的位置也没有严格要求，因此可以在一块导光板1上放置多个导光柱4，来测试多个待测光源5，测试时测试电路3依次触发每个待测光源5发光，并从感光器2获取信号，进而处理计算出每个待测光源的参数。该方法用于在大批量生产中，如对于焊接完成但没有进行分板的激光模组PCBA进行测试。其中所述的导光柱一端与导光板紧密接触，防止光从缝隙扩散，造成测量结果不精确。所述的导光柱材质为聚甲基丙烯酸甲酯、导光板材质为聚甲基丙烯酸甲酯或聚碳酸酯或聚苯乙烯。如图4所示，有时需要对带有光学系统的待测光源5进行检测。光学系统包括透镜6和用于放置透镜6的镜筒5，所述的导光柱4一端与透镜6相配合，且直径大于透镜6直径。此时导光柱4的直径要大于等于透镜6直径，尽可能的将发射光全部导入导光板1，并且和透镜6配合，包括曲率上贴合，以减少空隙中的光线反射。对于无光学系统测试合格的发射模组，加上光学系统后再次测试，可以发现其光学系统中的不良品。为了提高检测效率，可以在一块导光板1上放置多个本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光源测试装置，其特征在于，包括待测光源、导光板、感光器、测试电路，/n所述的待测光源用于发射光；/n所述的导光板用于将入射光转化为各向均匀的光；/n所述的感光器用于将光信号转换为电信号；/n所述的测试电路用于根据电信号测量光源参数。/n

【技术特征摘要】
1.一种光源测试装置，其特征在于，包括待测光源、导光板、感光器、测试电路，
所述的待测光源用于发射光；
所述的导光板用于将入射光转化为各向均匀的光；
所述的感光器用于将光信号转换为电信号；
所述的测试电路用于根据电信号测量光源参数。


2.根据权利要求1所述的光源测试装置，其特征在于，所述的感光器设置在导光板顶部、底部或者背光面。


3.根据权利要求1或2所述的光源测试装置，其特征在于，还包括导光柱，所述的导光柱与导光板设置在同一光路上，用于将入射光导向导光板。


4.根据权利要求3所述的光源测试装置，其特征在于，所述的导光柱为一个或多个，导光柱与待测光源一一对应。


5.根据权利要求4所述的光源测试装置，其特征在于，所述的导光柱一端与导光板紧密接触...

【专利技术属性】
技术研发人员：疏达，李远，石勤坡，王瑞，贺兴华，
申请(专利权)人：北醒北京光子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11