【技术实现步骤摘要】
Mura校正驱动器
各种实施方式总体涉及Mura校正系统,并且更具体地,涉及对在通过拍摄显示面板获得的检测图像中检测到的Mura进行校正的Mura校正驱动器。
技术介绍
近来,LCD面板和OLED面板已被广泛用作显示面板。由于制造过程中的误差等,可能在显示面板中出现亮度不均匀(Mura)。Mura表示显示图像在像素或某个区域处具有斑点形式的不均匀亮度。出现Mura的缺陷称为Mura缺陷。需要对Mura缺陷进行检测和校正,以允许显示面板具有改善的图像质量。
技术实现思路
各种实施方式涉及这样一种Mura校正驱动器:其用于通过使用二次Mura校正方程式来校正基于亮度值检测的显示面板的Mura块或Mura像素的亮度值。此外,各种实施方式涉及这样一种Mura校正驱动器:其能够通过将能够改变Mura块的亮度值表示范围的适应性范围应用于Mura校正方程式的系数来校正超出系数的基础范围比特的表示范围的Mura块的亮度值。此外,各种实施方式涉及这样一种Mura校正驱动器:其能够通过将针对显 ...
【技术保护点】
1.Mura校正驱动器,包括:/nMura存储器,配置成存储Mura校正数据,所述Mura校正数据包括用于显示面板的Mura块的位置值和用于所述Mura块的系数值;以及/nMura校正单元,配置成:/n接收显示数据和所述Mura校正数据;/n将与所述Mura块的位置值对应的第一显示数据设置为将所述Mura块的系数值应用到其上的二次Mura校正方程式的第一输入值;/n生成所述二次Mura校正方程式的对应于所述第一输入值的解,作为用于所述第一显示数据的第一校正显示数据;以及/n输出包括所述Mura块的位置值和所述第一校正显示数据的显示数据。/n
【技术特征摘要】
20181226 KR 10-2018-01696271.Mura校正驱动器,包括:
Mura存储器,配置成存储Mura校正数据,所述Mura校正数据包括用于显示面板的Mura块的位置值和用于所述Mura块的系数值;以及
Mura校正单元,配置成:
接收显示数据和所述Mura校正数据;
将与所述Mura块的位置值对应的第一显示数据设置为将所述Mura块的系数值应用到其上的二次Mura校正方程式的第一输入值;
生成所述二次Mura校正方程式的对应于所述第一输入值的解,作为用于所述第一显示数据的第一校正显示数据;以及
输出包括所述Mura块的位置值和所述第一校正显示数据的显示数据。
2.根据权利要求1所述的Mura校正驱动器,其中,所述Mura存储器:
存储所述Mura块的位置值,所述Mura块被确定为具有Mura,作为在所述显示面板的每个灰度级的检测图像的块单元中确定亮度值的结果;以及
存储所述Mura校正方程式的系数的系数值,以通过使用所述Mura校正方程式来将所述Mura块的每个灰度级的测量值校正成所述显示面板的平均像素亮度值。
3.根据权利要求1所述的Mura校正驱动器,其中,所述Mura存储器存储所述Mura校正方程式的系数的第一系数,所述第一系数与其它系数相比进一步包括适应性范围比特。
4.根据权利要求1所述的Mura校正驱动器,其中,所述Mura校正单元对表示为Mura校正值aX2+bX+c与Mura测量值X之和的所述Mura校正方程式进行设置,将所述Mura块的系数值输入到a、b和c作为所述Mura校正方程式的系数,并且将所述第一输入值输入到X。
5.根据权利要求4所述的Mura校正驱动器,其中,所述Mura校正单元:
将所述系数a设置成包括适应性范围比特和基础范围比特,
利用存储器映射的全部比特之中的除了表示所述系数a的比特之外的其余比特,将所述系数b和所述系数c设置成包括基础范围比特,以及
将所述适应性范围比特的值设置成具有与包括最接近于所述Mura块的亮度值的所述系数a的表示范围对应的值,所述Mura块的亮度值与所述基础范围比特的表示范围偏离。
6.根据权利要求1所述的Mura校正驱动器,
其中,所述Mura存储器还存储Mura像素校正数据,所述Mura像素校正数据包括用于所述显示面板的Mura像素的位置值和用于所述Mura像素的系数值,以及
其中,所述Mura校正单元还接收所述Mura像素校正数据,将与所述Mura像素的位置值对应的第二显示数据设置为将用于所述Mura像素的系数值应用到其上的二次Mura像素校正方程式的第二输入值,生成Mura像素校正方程式的对应于所述第二输入值的解作为用于所述第二显示数据的第二校正显示数据,以及将所述第二校正显示数据包括在所述显示数据的Mura像素的位置值中。
7.根据权利要求6所述的Mura校正驱动器,其中,所述Mura校正单元通过使用包括所述第二校正显示数据的所述显示数据来生成所述第一校正显示数据。
8.根据权利要求1所述的Mura校正驱动器,还包括:
显示亮度值控制单元,配置成接收用于显示亮度值控制的控制信号,并将与所述控制信号对应的控制值提供给所述Mura校正单元;
其中,所述Mura校正单元通过计算所述第一输入值和所述控制值来设置第三输入值,将所述Mura校正方程式改变成针对所述第三输入值的方程式,并生成所述Mura校正方...
【专利技术属性】
技术研发人员:金起泽,朴俊泳,张斗华,刘承完,金斗渊,
申请(专利权)人:硅工厂股份有限公司,
类型:发明
国别省市:韩国;KR
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