一种用于器件老化测试用的独立加热温控装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种用于器件老化测试用的独立加热温控装置，由密封盒和密封盒内的独立加热系统组成。独立加热系统主要由隔热模块、发热单元、类瓷加热单元、散热器、PT100温度传感器、温控仪表PID等组成，隔热模块内有类瓷加热单元、发热单元、散热器，加热单元顶面上安装PT100温度传感器，PT100温度传感器与温控仪表PID连接；发热单元的顶面上,安装有器件匹配电路板；匹配电路板的外接连线通过盒式壳体左右两侧的SMA射频连接母座与螺纹式穿心电容。该加热温控装置可对单个器件进行独立老化测试，并具有体积小，效率高，功耗低、氮气能耗少等优点。

【技术实现步骤摘要】
一种用于器件老化测试用的独立加热温控装置
本技术涉及器件老化测试技术,尤其涉及一种适用于射频器件老化测试的温控装置。
技术介绍
对器件老化情况进行测试,是一项保证产品、设备安全可靠的重要工作。目前,国内对器件老化情况测试的装置，多采用“温控高温箱装置”进行测试：将被测器件放进温控高温箱装置内进行测试，该温控高温箱装置，主要有：内箱（材质为304不锈钢板折弯成型），外箱（材质为喷塑的冷轧钢板折弯成型），内箱与外箱之间有保温材质（超细超玻璃保温棉），安装在不锈钢腔体夹层中的电热式加热器（内嵌式加热元件），送风循环系统（采用专用风机使箱体内空气强制循环），控制系统（精确的微电脑PID控制器、PT100测温传感器），安全保护装置（独立的超温保护和线路设置短路保护）。该温控高温箱装置存在的不足之处是:一是,因温控高温箱装置结构复杂，体积大，加热电能需要AC220V或AC380V交流电，能耗功率很大；考虑到老化测试时，既费时，又耗能，只好将多个器件集中一起,一次性进行测试，即便单个器件急需进行老化测试时，也往往不予测试；另一方面，由于该温控高温箱装置内的体本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于器件老化测试用的独立加热温控装置，有PT100温度传感器（18）和温控仪表PID（22）；其特征在于：有密封盒和密封盒内的独立加热系统；/n所述密封盒,由上部开口的盒式壳体（2）和盒式壳体上方的翻盖（1）构成,翻盖（1）的开启或关闭,实现密封盒的开放和密封；/n盒式壳体（2）后部有氮气接口（10），用于对壳体内部填充氮气；/n盒式壳体（2）内的左右两侧，分别安装有SMA射频连接母座（8）和螺纹式穿心电容（9），用于将盒式壳体（2）内部的引线连接到外部；/n所述独立加热系统,主要包括: 隔热模块（14）、发热单元（15）、类瓷加热单元（16）、散热器（17）、PT100温度传感器（1...

【技术特征摘要】
1.一种用于器件老化测试用的独立加热温控装置，有PT100温度传感器（18）和温控仪表PID（22）；其特征在于：有密封盒和密封盒内的独立加热系统；
所述密封盒,由上部开口的盒式壳体（2）和盒式壳体上方的翻盖（1）构成,翻盖（1）的开启或关闭,实现密封盒的开放和密封；
盒式壳体（2）后部有氮气接口（10），用于对壳体内部填充氮气；
盒式壳体（2）内的左右两侧，分别安装有SMA射频连接母座（8）和螺纹式穿心电容（9），用于将盒式壳体（2）内部的引线连接到外部；
所述独立加热系统,主要包括:隔热模块（14）、发热单元（15）、类瓷加热单元（16）、散热器（17）、PT100温度传感器（18）、温控仪表PID（22）、匹配电路板（13）、SMA射频连接母座（8）、螺纹式穿心电容（9）；
隔热模块（14）有个矩形凹槽，凹槽中心有矩形孔；隔热模块（14）的矩形凹槽内安装有发热单元（15）；发热单元（15）的顶部为平面，底部带有矩形凹槽；发热单元（15）底部凹槽处安装类瓷加热单元（16）；类瓷加热单元（16）顶面紧贴着发热单元（15）凹槽底部平面；类瓷加热单元（16）底面上安装有散热器（17）；散热器（17）固定在发热单元（15）底面上；发热单元（15）.类瓷加热单元（16）.散热器（17）之间的...

【专利技术属性】
技术研发人员：卓玲佳，
申请(专利权)人：陕西三海电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西;61