一种天线检测电路及电子设备制造技术

本实用新型专利技术提供一种天线检测电路及电子设备，该天线检测电路包括至少两个射频子电路和第一电阻，每个射频子电路均包括测试座和电感；其中，电感的第一端与测试座的第一端连接，电感的第二端接地；测试座的第一端与射频传导端连接，测试座的接地端接地；不同的射频子电路的测试座的检测端均与电源连接，不同的射频子电路的测试座的检测端还均与第一电阻的第一端连接，第一电阻的第二端与电平检测单元连接；在与被测天线连接的测试线未插入测试座的情况下，测试座的检测端与接地端之间断开；在与被测天线连接的测试线插入测试座的情况下，测试座的检测端与接地端导通。本实用新型专利技术实施例可以简化检测的过程。

An antenna detection circuit and electronic equipment

【技术实现步骤摘要】
一种天线检测电路及电子设备
本技术涉及通信
，尤其涉及一种天线检测电路及电子设备。
技术介绍
随着科技的迅速发展，电子设备已经成为人们生活中必不可少的一种工具，并且为用户生活的各个方面带来了极大的便捷。现有技术中，通常需要根据电子设备的状态进行检测，根据检测结果可以调整电子设备的辐射量、效率以及功耗等等。但是，现有技术中，需要为每个天线的检测电路配置一个检测端口进行检测，导致检测的过程比较复杂。
技术实现思路
本技术实施例提供一种天线检测电路及电子设备，以解决现有技术中，需要为每个天线的检测电路配置一个检测端口进行检测，导致检测的过程比较复杂的问题。第一方面，本技术实施例提供了一种天线检测电路，包括至少两个射频子电路和第一电阻，每个所述射频子电路均包括测试座和电感；其中，所述电感的第一端与所述测试座的第一端连接，所述电感的第二端接地；所述测试座的第一端与射频传导端连接，所述测试座的接地端接地；不同的射频子电路的所述测试座的检测端均与电源连接，不同的射频子电路的所述测试座的检测端还均与所述第一电阻的第一端连接，所述第一电阻的第二端与电平检测单元连接；在与被测天线连接的测试线未插入所述测试座的情况下，所述测试座的检测端与接地端之间断开；在与被测天线连接的测试线插入所述测试座的情况下，所述测试座的检测端与接地端导通。第二方面，本技术实施例还提供一种电子设备，包括上述天线检测电路。本技术实施例的天线检测电路，包括至少两个射频子电路和第一电阻，每个所述射频子电路均包括测试座和电感；其中，所述电感的第一端与所述测试座的第一端连接，所述电感的第二端接地；所述测试座的第一端与射频传导端连接，所述测试座的接地端接地；不同的射频子电路的所述测试座的检测端均与电源连接，不同的射频子电路的所述测试座的检测端还均与所述第一电阻的第一端连接，所述第一电阻的第二端与电平检测单元连接；在与被测天线连接的测试线未插入所述测试座的情况下，所述测试座的检测端与接地端之间断开；在与被测天线连接的测试线插入所述测试座的情况下，所述测试座的检测端与接地端导通。本技术实施例可以简化检测的过程。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对本技术实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本技术实施例提供的天线检测电路的结构图之一；图2是本技术实施例提供的测试座的结构图；图3是本技术实施例提供的天线检测电路的结构图之二。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。参见图1，图1是本技术实施例提供的天线检测电路的结构图，如图1所示，包括至少两个射频子电路和第一电阻R1，每个所述射频子电路均包括测试座1和电感L；其中，所述电感L的第一端与所述测试座1的第一端连接，所述电感L的第二端接地；所述测试座1的第一端与射频传导端连接，所述测试座1的接地端接地；不同的射频子电路的所述测试座1的检测端均与电源连接，不同的射频子电路的所述测试座1的检测端还均与所述第一电阻R1的第一端连接，所述第一电阻R1的第二端与电平检测单元连接；在与被测天线2连接的测试线未插入所述测试座1的情况下，所述测试座1的检测端与接地端之间断开；在与被测天线2连接的测试线插入所述测试座1的情况下，所述测试座1的检测端与接地端导通。本实施例中，上述电平检测单元用于进行电平检测，上述不同射频子电路连接的电源是相同的电源。考虑电子设备实际测试情况，只要有一个射频子电路处于传导测试状态，电子设备就不可能进行耦合测试。一旦检测到一个以上的射频子电路处于传导测试状态，无需再对其他射频子电路进行判断，即无需对进行对电子设备状态的调整操作。本实施例中，在与被测天线2连接的测试线未插入所述测试座1的情况下，所述测试座1的检测端与接地端之间断开；在与被测天线2连接的测试线插入所述测试座1的情况下，所述测试座1的检测端与接地端导通。为了更好的理解测试座1，请参阅图2，图2为本技术实施例提供的测试座的结构图。如图2所示，21表示测试座1的检测端，22表示测试座1的接地端，未插入测试线时，即耦合测试状态检测端不接地。传导测试状态下，测试座1插入测试线，测试线的扣位槽将同时扣在扣位圈分离的两部分之上，扣位圈已分离的两部分通过测试线的扣位槽重新连接到一起，而此时检测端将通过扣合圈与接地端连接，即检测端连接到地。本实施例中，天线检测电路检测端连接到改进的测试座1的检测端。多个测试座1的检测端连接到一起，然后汇总到一个主芯片检测端口(电平检测IC输出端)。图1位于上方的射频子电路可以为射频子电路01，位于下方的射频子电路可以为射频子电路02，新设计对检测电路判断逻辑进行了改变，与原检测电路判断逻辑相反(即低电平为传导测试状态，高电平为耦合测试状态)，具体如下：一、射频子电路01和射频子电路02都处于传导测试状态，两个通路测试座1都插入测试线，两个测试座1的检测端都接地，处于低电平，第一电阻R1的第二端输出低电平。判定整机处于传导测试状态。二、仅射频子电路01处于传导测试状态，仅射频子电路01的测试座1插入测试线，该测试座1的检测端接地，处于低电平。射频子电路02的测试座1不插入测试线，该测试座1的检测端悬空。由于射频子电路01的测试座1的检测端与射频子电路02的测试座1的检测端连接，第一电阻R1的第二端依然输出低电平。判定整机处于传导测试状态。三、仅射频子电路02处于传导测试状态，仅射频子电路02的测试座1插入测试线，该测试座1的检测端接地，处于低电平。射频子电路01的测试座1不插入测试线，该测试座1的检测端悬空。由于射频子电路02的测试座1的检测端与射频子电路01的测试座1的检测端连接，第一电阻R1的第二端依然输出低电平。判定整机处于传导测试状态。四、射频子电路01和射频子电路02都处于耦合测试状态，射频子电路01和射频子电路02都不插入测试线，射频子电路01的测试座1的检测端和射频子电路02的测试座1的检测端都悬空不接地。由电路设计可知，这两个检测端都处于高电平，第一电阻R1的第二端输出高电平。判定整机处于耦合放射测试状态。本实施例中，改变天线检测电路判断逻辑，即当终端设备设计多通路多天线时，只要检测到一个以上的射频通路处在传导测试状态，即判定终端设备处在传导测试状态，不对终端设备状态进行调整。只有当所有通路都处在耦合放射状态，才对终端设备状态进行调整。上述天线检测电路设计可以对主芯片天线检本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种天线检测电路，其特征在于，包括至少两个射频子电路和第一电阻，每个所述射频子电路均包括测试座和电感；/n其中，所述电感的第一端与所述测试座的第一端连接，所述电感的第二端接地；所述测试座的第一端与射频传导端连接，所述测试座的接地端接地；不同的射频子电路的所述测试座的检测端均与电源连接，不同的射频子电路的所述测试座的检测端还均与所述第一电阻的第一端连接，所述第一电阻的第二端与电平检测单元连接；/n在与被测天线连接的测试线未插入所述测试座的情况下，所述测试座的检测端与接地端之间断开；在与被测天线连接的测试线插入所述测试座的情况下，所述测试座的检测端与接地端导通。/n

【技术特征摘要】
1.一种天线检测电路，其特征在于，包括至少两个射频子电路和第一电阻，每个所述射频子电路均包括测试座和电感；
其中，所述电感的第一端与所述测试座的第一端连接，所述电感的第二端接地；所述测试座的第一端与射频传导端连接，所述测试座的接地端接地；不同的射频子电路的所述测试座的检测端均与电源连接，不同的射频子电路的所述测试座的检测端还均与所述第一电阻的第一端连接，所述第一电阻的第二端与电平检测单元连接；
在与被测天线连接的测试线未插入所述测试座的情况下，所述测试座的检测端与接地端之间断开；在与被测天线连接的测试线插入所述测试座的情况下，所述测试座的检测端与接地端导通。


2.根据权利要求1所述的天线检测电路，其特征在于，所述天线检...

【专利技术属性】
技术研发人员：李天林，卢智敏，
申请(专利权)人：维沃移动通信有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44