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一种用于三维坐标测量的复合式测量装置制造方法及图纸

技术编号:24776987 阅读:61 留言:0更新日期:2020-07-04 19:01
本实用新型专利技术涉及一种用于三维坐标测量的复合式测量装置,其特征在于:包括基板,所述基板的正面固定安装接触式测头支架,所述接触式测头支架上套装接触式测头;所述基板的背面左侧固定安装有相机支架,所述相机支架上固定安装有相机,所述相机上安装镜头,所述基板的背面右侧固定安装有线激光器支架,所述线激光器支架上固定安装有线激光发射器;所述基本的顶端安装有刀柄夹持部。本实用新型专利技术设计科学合理,将接触式测头和光学测量集成于一体,使得两种传感器的优势得以充分发挥,可以实现复杂工件的快速、高精、完整测量,提高测量效率。

A compound measuring device for 3D coordinate measurement

【技术实现步骤摘要】
一种用于三维坐标测量的复合式测量装置
本技术属于工件测量
,涉及测量装置,特别涉及一种用于三维坐标测量的复合式测量装置。
技术介绍
目前广泛应用的实物表面数据采集方法主要有两种:光学接触式测量方法和非接触式测量方法,每一种测量方法都有自己的优缺点及适用范围:1)接触式测量方法测量精度高,但其测量效率较低;2)非接触式测量技术能够快速地获取稠密的点云数据,大大提高数字化效率。但多数光学测量方法的测量精度比较低,测量过程容易受光照等环境因素的影响,且不能对物体内部或者被遮挡的几何特征进行测量,造成测量数据的不完整,所以光学测量不能满足较高精度的应用需求。随着现代工业的发展,一方面,对测量过程的柔性化、智能化的需求不断提高,单一传感器已不能满足高精度、高效率的测量需求。另一方面,工件的复杂度越来越高,单一传感器难以获得完整的表面信息。接触式和非接触式测量方法自身的局限性限制了它们在实际工程中的应用,如果将多个不同种类测量传感器集成到一起,利用不同测量方法形成优势互补,将会大大提高测量系统的灵活性,使测量系统不再受单一数字化设备的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于三维坐标测量的复合式测量装置,其特征在于:包括基板,所述基板的正面固定安装接触式测头支架,所述接触式测头支架上套装接触式测头;所述基板的背面左侧固定安装有相机支架,所述相机支架上固定安装有相机,所述相机上安装镜头,所述基板的背面右侧固定安装有线激光器支架,所述线激光器支架上固定安装有线激光发射器;所述基板的顶端安装有刀柄夹持部。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于三维坐标测量的复合式测量装置,其特征在于:包括基板,所述基板的正面固定安装接触式测头支架,所述接触式测头支架上套装接触式测头;所述基板的背面左侧固定安装有相机支架,所述相机支架上固定安装有相机,所述相机上安装镜头,所述基板的背面右侧固定安装有线激光器支架,所述线激光器支架上固定安装有线激光发射器;所述基板的顶端安装有刀柄夹持部。


2.根据权利要求1所述的用于三维坐标测量的复合式测量装置,其特征在于:所述线激光器支架上设置有长条孔,线激光发射器可安装在线激光器支架长...

【专利技术属性】
技术研发人员:王太勇于治强李红宾张永宾
申请(专利权)人:天津大学
类型:新型
国别省市:天津;12

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