一种重叠子序列检测方法、系统、设备及计算机存储介质技术方案

本发明专利技术公开了一种重叠子序列检测方法，获取长度为n的待测序列；将待测序列的最开始m‑1位数据添加到末尾，形成长度为n+m‑1的新序列；计算新序列中每一种j位子序列模式出现的频数，其中j＝{m,m‑1,m‑2}；依据频数，利用整数运算计算重叠子序列检测的中间变量；依据中间变量，计算重叠子序列检测的统计值；判断统计值是否小于或等于预设阈值，若是，则待测试序列通过检测，若否，则待测试序列未通过检测；其中，预设阈值是通过m和n计算获得的整数。本发明专利技术公开的重叠子序列检测方法，能够减少浮点运算的次数，提高检测效率。

An overlapping subsequence detection method, system, equipment and computer storage medium

【技术实现步骤摘要】
一种重叠子序列检测方法、系统、设备及计算机存储介质
本专利技术涉及信息安全
，更具体地说，特别涉及一种重叠子序列检测方法、系统、设备及计算机存储介质。
技术介绍
二元随机序列在密码应用技术中有着举足轻重的地位和作用，香农的完善保密系统和现代密码系统将之视为安全算法的根本。如今的计算机系统大量地用到二元随机序列，比如密钥生成、数字签名、身份认证等，这些都充分体现了二元随机序列的应用价值和重要性。应用密码学中的随机性检测的目的是，采用概率统计的方法进行分析和测试随机数发生器等生成的二元序列的随机性，判断待检二元序列是否可以在统计上难以与真随机数区分开来。随机性检测规范是随机性评估的科学依据，相关随机性检测规范建议了15种用于随机性测试的统计检验方法，重叠子序列检测是其中一个检测项，但由于传统检测算法中浮点运算难以避免，而浮点运算本身所需要的硬件资源较多，且运算周期也较长，造成传统重叠子序列检测的效率不高。因此，设计一种高效的重叠子序列检测方法，减少浮点运算的次数，是本领域技术人员亟待解决的问题。r>专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种重叠子序列检测方法，其特征在于，包括如下步骤：/n获取长度为n的待测序列；/n将所述待测序列的最开始m-1位数据添加到末尾，形成长度为n+m-1的新序列；/n计算所述新序列中每一种j位子序列模式出现的频数，其中j＝{m,m-1,m-2}；/n依据所述频数，利用整数运算计算重叠子序列检测的中间变量；/n依据所述中间变量，计算重叠子序列检测的统计值；/n判断所述统计值是否小于或等于所述预设阈值，若是，则所述待测试序列通过检测，若否，则所述待测试序列未通过检测；/n其中，所述预设阈值是通过m和n计算获得的整数。/n

【技术特征摘要】
1.一种重叠子序列检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
获取长度为n的待测序列；
将所述待测序列的最开始m-1位数据添加到末尾，形成长度为n+m-1的新序列；
计算所述新序列中每一种j位子序列模式出现的频数，其中j＝{m,m-1,m-2}；
依据所述频数，利用整数运算计算重叠子序列检测的中间变量；
依据所述中间变量，计算重叠子序列检测的统计值；
判断所述统计值是否小于或等于所述预设阈值，若是，则所述待测试序列通过检测，若否，则所述待测试序列未通过检测；
其中，所述预设阈值是通过m和n计算获得的整数。


2.如权利要求1所述的重叠子序列检测方法，其特征在于，所述计算所述新序列中每一种j位子序列模式出现的频数具体为：
计算所述新序列中每一种m位子序列模式i＝i1i2…im出现的频数Cm[i]，每一种m-1位子序列模式i＝i1i2…im-1出现的频数Cm-1[i]，每一种m-2位子序列模式i1i2…im-2出现的频数Cm-2[i]，其中0<＝i<＝2m-1。


3.如权利要求2所述的重叠子序列检测方法，其特征在于，计算所述中间变量的计算公式为：





4.如权利要求3所述的重叠子序列检测方法，其特征在于，计算所述统计值的计算公式为：
Qm(1)＝(2Dm-Dm-1)，Qm(2)＝4Dm-4Dm-1+Dm-2。


5.如权利要求4所述的重叠子序列检测方法，其特征在于，所述阈值为TM(1)和Tm(2)，计算公式如下：
Tm(1)＝int(nx/2m-2)，Tm(2)＝int(ny/2m-3)；
其中，x＝max{x′|igamc(2m-2,x′)≥a}，y＝max{y′|igamc(2m-3,y′)≥a}。


6.如权利要求5所述的重...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗影，李先强，王鹏，曾伟，周海涛，
申请(专利权)人：江苏芯盛智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32