【技术实现步骤摘要】
一种基于裸片封装结构的SiCMOSFETSPICE模型建立方法
本专利技术属于新型器件的建模与仿真领域,具体涉及一种基于裸片封装结构的SiCMOSFETSPICE模型建立方法。
技术介绍
近几年,在大功率电力电子应用领域SiCMOSFET器件的发展十分迅速。与传统的SiMOSFET相比,它具有耐高温、耐高压、开关性能好以及低导通电阻等优点。但由于SiCMOSFET器件的价格仍然较高,在实际生产中要尽可能的充分利用其性能。同时由于电力电子产品趋向于复杂化,在实际测试前进行准确有效的仿真可以大大缩短产品的生产周期,而SiCMOSFET新型器件还没有统一的快速建模方法,专利技术一种快速准确的SiCMOSFET器件建模方法可以使仿真更加贴近实际效果,对SiCMOSFET产品的生产有着重大的意义。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种基于裸片封装结构的SiCMOSFETSPICE模型建立方法,所述方法通过设计PCB测试电路获得开关振荡频率和实际波形后,利用ANSYS软件的STATICSTRUCTURE建模功能、 ...
【技术保护点】
1.一种基于裸片封装结构的SiC MOSFET SPICE模型建立方法,其特征在于:所述方法包括如下步骤:/n步骤一、实际测试:使用示波器对测试电路门极和源极间、漏极和源极间的开关波形进行观察,测量开关的振荡频率;/n步骤二、基于裸片封装提取寄生参数:/n(1)在ANSYS STATIC STRUCTURE中建立SiC MOSFET的裸片封装结构模型;/n(2)将上述模型导入ANSYS Q3D中,并进行材料设置、类型设置以及每个键合丝上电流的进出面设置;/n(3)根据步骤一得到的实际测试结果选择振荡频率下的AC RL分析,得到各键合丝的电感和电阻矩阵,计算每个键合丝在振荡过 ...
【技术特征摘要】
1.一种基于裸片封装结构的SiCMOSFETSPICE模型建立方法,其特征在于:所述方法包括如下步骤:
步骤一、实际测试:使用示波器对测试电路门极和源极间、漏极和源极间的开关波形进行观察,测量开关的振荡频率;
步骤二、基于裸片封装提取寄生参数:
(1)在ANSYSSTATICSTRUCTURE中建立SiCMOSFET的裸片封装结构模型;
(2)将上述模型导入ANSYSQ3D中,并进行材料设置、类型设置以及每个键合丝上电流的进出面设置;
(3)根据步骤一得到的实际测试结果选择振荡频率下的ACRL分析,得到各键合丝的电感和电阻矩阵,计算每个键合丝在振荡过程中的等效电感,根据键合丝的分布情况,计算在门极和源极间、漏极和源极间...
【专利技术属性】
技术研发人员:叶雪荣,王浩南,张宏宇,翟国富,
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学,
类型:发明
国别省市:黑龙;23
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