一种RTK轴线放样测量方法技术

本发明专利技术公开了一种RTK轴线放样测量方法，包括以下步骤：获取控制线上两个控制点的平面坐标，获取控制点之间的坐标距离和方位角；获取放样点的平面坐标，所述放样点位于待放样区域内且位于延长线上，根据所述放样点的平面坐标、所述控制点的平面坐标、所述控制点之间的坐标距离或方位角获取所述放样点与所述控制点的坐标距离、方位角、里程差和偏距。该放样测量方法可以准确快速定位，大大提升RTK直线放样测量的适用范围和能力，从而满足具备直线或大半径短小曲线段这种特殊结构建筑物的放样测量需要。

A method of RTK axis lofting survey

【技术实现步骤摘要】
一种RTK轴线放样测量方法
本专利技术属于工程放样领域，具体涉及一种RTK轴线放样测量方法。
技术介绍
工程放样，也称施工放样，是把设计图纸上工程建筑物的平面位置和高程，用一定的测量仪器和方法测设到实地上去的测量工作，有时也称为施工放线。一般来说，测图工作是利用控制点测定地面上地形特征点，缩绘到图上，而工程放样则与此相反，是根据建筑物的设计尺寸，找出建筑物各部分特征点与控制点之间位置的几何关系，算得距离、角度、高程、坐标等放样数据，然后利用控制点，在实地上定出建筑物的特征点，据以施工。现有的工程放样为了提高放样速度和精度常使用的有经纬仪、水准仪、全站仪、GPS、RTK等，其中，RTK(Real-timekinematic，实时动态)载波相位差分技术，是实时处理两个测量站载波相位观测量的差分方法，其是将基准站采集的载波相位发给用户接收机，进行求差解算坐标，因此，是一种新的常用的卫星定位测量方法。以前的静态、快速静态、动态测量都需要事后进行解算才能获得厘米级的精度，而RTK是能够在野外实时得到厘米级定位精度的测量方法，它采用了载波相位动态实本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种RTK轴线放样测量方法，其特征在于，包括以下步骤：/n获取控制线上两个控制点的平面坐标，所述控制线为建筑物主体结构的中轴线；/n根据所述控制点的平面坐标获取所述控制点之间的坐标距离和方位角；/n获取放样点的平面坐标，所述放样点位于待放样区域内且位于延长线上，所述待放样区域位于所述建筑物主体结构的外侧，所述延长线为所述控制线的延长线、所述建筑物主体结构的边线的延长线中的一条或两条以上，所述边线与所述控制线平行；/n根据所述放样点的平面坐标、所述控制点的平面坐标、所述控制点之间的坐标距离或方位角获取所述放样点与所述控制点的坐标距离、方位角、里程差和偏距。/n

【技术特征摘要】
1.一种RTK轴线放样测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
获取控制线上两个控制点的平面坐标，所述控制线为建筑物主体结构的中轴线；
根据所述控制点的平面坐标获取所述控制点之间的坐标距离和方位角；
获取放样点的平面坐标，所述放样点位于待放样区域内且位于延长线上，所述待放样区域位于所述建筑物主体结构的外侧，所述延长线为所述控制线的延长线、所述建筑物主体结构的边线的延长线中的一条或两条以上，所述边线与所述控制线平行；
根据所述放样点的平面坐标、所述控制点的平面坐标、所述控制点之间的坐标距离或方位角获取所述放样点与所述控制点的坐标距离、方位角、里程差和偏距。


2.如权利要求1所述的RTK轴线放样测量方法，其特征在于，所述控制线为所述建筑物主体结构长度方向或宽度方向上的中轴线，所述控制点为所述控制线上的两个端点。


3.如权利要求1所述的RTK轴线放样测量方法，其特征在于，根据所述控制点的平面坐标获取所述控制点之间的坐标距离和方位角的步骤，包括以下步骤：
根据计算两个控制点的坐标距离；
根据计算两个控制点的方位角；
其中，两个所述控制点分别为A点和B点，A点的平面坐标为(Xa，Ya)、B点的平面坐标为(Xb，Yb)，LAB为A点和B点之间的坐标距离，αAB为A点和B点之间的方位角。


4.如权利要求1所述的RTK轴线放样测量方法，其特征在于，所述放样点至少有两个。


5.如权利要求1或4所述的RTK轴线放样测量方法，其特征在于，所述放样点位于所述控制线的...

【专利技术属性】
技术研发人员：李郴，李强，樊东博，康瑞山，李建强，
申请(专利权)人：中铁四局集团第五工程有限公司，中铁四局集团有限公司，
类型：发明
国别省市：江西;36