【技术实现步骤摘要】
开平方的方法及相应的用于开平方的电路
本专利技术涉及电子领域,尤其涉及数字电路领域,具体涉及一种开平方的方法及相应的用于开平方的电路。
技术介绍
在一些数字电路中,往往会涉及开平方计算,现有技术中进行这些运算时一般采用的方法包括实函数近似法、牛顿迭代法等计算方法,其中实函数近似法精度较低,牛顿迭代法的迭代次数由初始值与平方根精度决定,且需要除法计算。现有技术中的一些其它的运算方法也存在晦涩难懂,或者计算较为复杂的问题,这就使得,采用现有技术中的方法进行开平方计算时,对于计算的硬件有着要求较高的要求。有时在进行开平方运算时,还会使用到浮点的开平方模块,而这往往会占用较多资源,对于计算芯片的要求就更高了,成本非常高,且计算速度较慢。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服至少一个上述现有技术的缺点,提供了一种运算速度较快、结构简单、成本较低的开平方的方法及相应的用于开平方的电路。为了实现上述目的或其他目的,本专利技术的开平方的方法及相应的用于开平方的电路如下:该应用于数字电路中的开平方的方法,其主要特点是,所述的方法包括以下步骤:(1)确定二进制的待开平方数x的位数n;(2)采用假设法依次从高位向低位求出所述的二进制的待开平方数x的平方根y中每一位上的系数;所述的平方根y中的每一位数的系数的确定均以前一次计算所得的余数ri的最高两位的和作为计算依据,若所述的前一次计算所得的余数ri的最高两位的和大于0,则确定当前计算的所述的平方根y中的位数的系数等于1,若所述的前一次计算 ...
【技术保护点】
1.一种应用于数字电路中的开平方的方法,其特征在于,所述的方法包括以下步骤:/n(1)确定二进制的待开平方数x的位数n;/n(2)采用假设法依次从高位向低位求出所述的二进制的待开平方数x的平方根y中每一位上的系数;所述的平方根y中的每一位数的系数的确定均以前一次计算所得的余数r
【技术特征摘要】
1.一种应用于数字电路中的开平方的方法,其特征在于,所述的方法包括以下步骤:
(1)确定二进制的待开平方数x的位数n;
(2)采用假设法依次从高位向低位求出所述的二进制的待开平方数x的平方根y中每一位上的系数;所述的平方根y中的每一位数的系数的确定均以前一次计算所得的余数ri的最高两位的和作为计算依据,若所述的前一次计算所得的余数ri的最高两位的和大于0,则确定当前计算的所述的平方根y中的位数的系数等于1,若所述的前一次计算所得的余数ri的最高两位的和等于0,则确定当前计算的所述的平方根y中的位数的系数等于0,其中,在确定所述的平方根y中的最高位数的系数时,采用所述的待开平方数x作为所述的前一次计算所得的余数ri;
(3)将求出的所述的平方根y中的每一位上的系数乘以对应的权值后相加,得到最终的待开平方数的平方根y。
2.根据权利要求1所述的应用于数字电路中的开平方的方法,其特征在于,所述的步骤(2)包括以下步骤:
(21)判断与所述的当前计算的所述的平方根y中的位数对应的前一次计算所得的余数ri的最高两位的和是否大于0;
(22)若与所述的当前计算的所述的平方根y中的位数对应的前一次计算所得的余数ri的最高两位的和大于0,则确定所述的当前计算的所述的平方根y中的位数的系数等于1;否则,确定所述的当前计算的所述的平方根y中的位数的系数等于1;
(23)将当前计算的所述的平方根y中的位数的系数乘以该系数所对应的位数的权值得到当前计算的所述的平方根y中的位数所对应的数值,并将该数值进行平方,得到与当前计算的所述的平方根y中的位数所对应的平方后的数值;
(24)通过将所述的前一次计算所得的余数ri减去与当前计算的所述的平方根y中的位数所对应的平方后的数值,得到当前计算所得的余数;
(25)将所述的当前计算所得的余数作为新的前一次计算所得的余数ri代入上述步骤(21),用于计算与所述的当前计算的所述的平方根y中的位数相邻的后一位位数的系数,直到求出所述的平方根y中的每一位上的系数的值后,继续后续步骤(3)。
3.根据权利要求1所述的应用于数字电路中的开平方的方法,其特征在于,所述的步骤(1)之前还包括以下步骤:
(0.1)将所述的待开平方数x输入至数字电路中。
4.根据权利要求3所述的应用于数字电路中的开平方的方法,其特征在于,若输入至所述的数字电路中的所述的待开平方数x不是二进制数,则所述的步骤(0.1)和步骤(1)之间还包括以下步骤:
(0.2)将所述的待开平方数x转换为所述的二进制的待开平方数x。
5.一种用于开平方的电路,其特征在于,待开平方数x为二进制数,所述的电路包括第一加法器、第二加法器、第三加法器、第一选择器、第二选择器、第三选择...
【专利技术属性】
技术研发人员:顾丽娟,舒文丽,翟昊方,王聪颖,
申请(专利权)人:无锡华润矽科微电子有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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