通路的状态确定方法、设备及可读存储介质技术

本发明专利技术公开了一种通路的状态确定方法、设备及可读存储介质，该方法包括步骤：获取到待测试GPIO接口的编号；基于所述待测试GPIO接口的编号，改变所述待测试GPIO接口的电平，并获取所述待测试GPIO接口改变后的电平；根据所述改变后的电平确定所述待测试GPIO接口的状态是否正常；若所述待测试GPIO接口的状态正常，则确定所述待测试GPIO接口所对应的通路的状态正常。实现了通过软件的方法，而不借助该待测试GPIO接口对应的外部设备即可完成该待测试GPIO接口所对应的通路的状态的确定，从而降低了生产成本。

【技术实现步骤摘要】
通路的状态确定方法、设备及可读存储介质
本专利技术涉及通路的状态测试
，尤其涉及一种通路的状态确定方法、设备及可读存储介质。
技术介绍
手机上诸如相机，LED(LightEmittingDiode，发光二极管)，指纹等外部设备是通过GPIO(General-purposeinput/output，通用输入与输出)接口来控制的，上述GPIO接口与上述外部设备接口之间的通路是否正常决定了这些外部设备的功能是否正常，是手机PCBA(PrintedCircuitBoardAssembly，成品线路板)主板质量检查的重要环节。通常工厂生产测试是通过检测外部设备功能是否正常来判断GPIO接口与外部设备接口之间的通路是否正常的，但是这种方法需要外部设备配合，会增加生产成本。由此可知，目前检测GPIO接口与外部设备接口之间的通路是否正常会增加生产成本。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种通路的状态确定方法、设备及可读存储介质，旨在解决现有的通路的状态确定方案会增加生产成本的技术问题。r>为实现上述目的，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种通路的状态确定方法，其特征在于，成品线路板PCBA主板的中央处理器CPU包括至少一个通用输入与输出GPIO接口，所述GPIO接口在所述PCBA主板上有唯一的编号，所述通路的状态确定方法包括以下步骤：/n获取到待测试GPIO接口的编号；/n基于所述待测试GPIO接口的编号，改变所述待测试GPIO接口的电平，并获取所述待测试GPIO接口改变后的电平；/n根据所述改变后的电平确定所述待测试GPIO接口的状态是否正常；/n若所述待测试GPIO接口的状态正常，则确定所述待测试GPIO接口所对应的通路的状态正常。/n

【技术特征摘要】
1.一种通路的状态确定方法，其特征在于，成品线路板PCBA主板的中央处理器CPU包括至少一个通用输入与输出GPIO接口，所述GPIO接口在所述PCBA主板上有唯一的编号，所述通路的状态确定方法包括以下步骤：
获取到待测试GPIO接口的编号；
基于所述待测试GPIO接口的编号，改变所述待测试GPIO接口的电平，并获取所述待测试GPIO接口改变后的电平；
根据所述改变后的电平确定所述待测试GPIO接口的状态是否正常；
若所述待测试GPIO接口的状态正常，则确定所述待测试GPIO接口所对应的通路的状态正常。


2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述待测试GPIO接口的编号，改变所述待测试GPIO接口的电平的步骤，包括：
基于所述待测试GPIO接口的编号，向所述CPU发送使所述待测试GPIO接口处于上拉状态的上拉指令，以通过所述上拉指令改变所述待测试GPIO接口的电平；
基于所述待测试GPIO接口的编号，向所述CPU发送使所述待测试GPIO接口处于下拉状态的下拉指令，以通过所述下拉指令改变所述待测试GPIO接口的电平。


3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述待测试GPIO接口改变后的电平的步骤，包括：
获取所述待测试GPIO接口处于上拉状态时的所述待测试GPIO接口的电平，作为第一电平；
获取所述待测试GPIO接口处于下拉状态时的所述待测试GPIO接口的电平，作为第二电平，其中，所述第一电平和所述第二电平为所述待测试GPIO接口改变后的电平。


4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述改变后...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨斌杰，
申请(专利权)人：无锡宇宁智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32