【技术实现步骤摘要】
电力丢失测试引擎装置和方法
本申请涉及一种电力丢失测试引擎装置和方法。
技术介绍
存储器装置是为主机系统(例如计算机或其它电子装置)提供数据的电子存储的半导体电路。存储器装置可为易失性或非易失性的。易失性存储器需要电力来维护数据，并且包含例如随机存取存储器(RAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)或同步动态随机存取存储器(SDRAM)之类的装置。非易失性存储器可以在未供电时保留所存储数据，并且包含例如快闪存储器、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)、可擦除可编程ROM(EPROM)、电阻可变存储器之类的装置，电阻可变存储器例如是相变随机存取存储器(PCRAM)、电阻随机存取存储器(RRAM)或磁阻随机存取存储器(MRAM)等。主机系统通常包含主机处理器、用以支持所述主机处理器的第一数量的主存储器(例如通常是易失性存储器，例如DRAM)和提供额外存储以保留除了主存储器之外或与主存储器不同的数据的一或多个存储系统(例如通常是非易失性存储器，例如快闪存储器)。例...
【技术保护点】
1.一种测试系统，其包括：/n电力管理装置，其经配置以在受测试的存储器装置中选择性地触发电力丢失事件；/n主机装置，其包含主机驱动程序，其中所述主机装置耦合到所述电力管理装置；和/n所述主机装置中的电力丢失逻辑，其用以确定于在所述主机装置与所述受测试的存储器装置之间的存储器操作中何时已符合一或多个测试条件，并指示所述电力管理装置触发如由所述一或多个测试条件确定的所述电力丢失事件。/n
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
20181220 US 16/227,0211.一种测试系统，其包括：
电力管理装置，其经配置以在受测试的存储器装置中选择性地触发电力丢失事件；
主机装置，其包含主机驱动程序，其中所述主机装置耦合到所述电力管理装置；和
所述主机装置中的电力丢失逻辑，其用以确定于在所述主机装置与所述受测试的存储器装置之间的存储器操作中何时已符合一或多个测试条件，并指示所述电力管理装置触发如由所述一或多个测试条件确定的所述电力丢失事件。
2.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述存储器装置是通用闪存规范UFS存储器装置。
3.根据权利要求1所述的测试系统，其进一步包含用以追踪所述存储器操作中的所述一或多个测试条件以及用以记录是否触发电力丢失事件的记录系统。
4.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述电力丢失逻辑中的所述测试条件包含识别从所述主机装置到所述受测试的存储器装置的数据包的发射中的协议事件。
5.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述电力丢失逻辑中的所述测试条件包含识别从所述受测试的存储器装置到所述主机装置的数据包的发射中的协议事件。
6.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述电力丢失逻辑中的所述测试条件包含识别装置管理实体DME命令。
7.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述电力丢失逻辑中的所述测试条件包含识别针对电力丢失的外部触发。
8.根据权利要求7所述的测试系统，其中所述外部触发来自所述受测试的存储器装置。
9.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述电力丢失逻辑中的所述测试条件包含在触发所述电力丢失事件之前监测一或多个事件的计数器。
10.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述电力丢失逻辑中的所述测试条件包含在触发所述电力丢失事件之前监测计时器。
技术研发人员：C·贾乔，F·帕斯卡莱，R·马斯特兰杰洛，E·迪马蒂诺，F·德亚历山德罗，C·卡斯泰拉诺，A·卡斯塔尔多，
申请(专利权)人：美光科技公司，
类型：发明
国别省市：美国;US
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