伪距粗差的探测方法、装置及可读存储介质制造方法及图纸

技术编号:24706053 阅读:34 留言:0更新日期:2020-06-30 23:43
本公开涉及粗差探测的技术领域,公开了一种伪距粗差的探测方法,包括以下步骤:获取前一历元k0的定位数据O

【技术实现步骤摘要】
伪距粗差的探测方法、装置及可读存储介质
本公开涉及粗差探测的
,特别涉及伪距粗差探测技术。
技术介绍
在GNSS(GlobalNavigationSatelliteSystem,全球导航卫星系统)定位解算过程中经常会不可避免地受到各种误差的影响,这些误差分为系统误差、偶然误差和粗差。对于偶然误差,可以通过大量的重复观测来进行削弱和消除其影响;对于系统误差,有些误差可以通过现有的模型加以修正,如对流层延迟误差、电离层延迟误差等,有的误差可以通过参数进行估计,如接收机钟差等;但是对于粗差,特别是伪距粗差及载波相位的周跳等则不能通过上述方法进行改正或估计,需要进行探测确认然后进行剔除或相应的处理才能进行定位解算最后得到相对精准的定位结果。传统的伪距粗差探测方法主要有距离比较法、最小二乘残差法、奇偶矢量法和最大间隔法等方法,但是这些方法都是针对单个粗差的探测效果较为明显,对于含有多个粗差的观测值并不理想甚至不可用,因为多个粗差经过平差处理之后误差出现了相互转移,残差之间具有相关性,可区分性也会大大减弱,影响探测的准确性。专本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.伪距粗差的探测方法,其特征在于,包括以下步骤:/n获取前一历元k0的定位数据O

【技术特征摘要】
1.伪距粗差的探测方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取前一历元k0的定位数据Ok0及后一历元k1的观测数据Ok1;
确定卫星i作为参考星,确定卫星j作为非参考星;
根据所述定位数据Ok0及所述观测数据Ok1,进行卫星i、卫星j的星间求差处理以及历元k0、历元k1的历元间求差处理,得到检验量F;
通过假设检验方法判断检验量F是否通过假设检验;
当不通过假设检验时,进行粗差标记。


2.根据权利要求1所述的探测方法,其特征在于:
根据所述定位数据Ok0得到历元k0下,卫星i及卫星j对应的伪距观测值及卫地距计算值
根据所述观测数据Ok1得到历元k1下,卫星i及卫星j对应的伪距观测值及卫地距计算值
根据第一关系计算得到检验量F;
所述第一关系包括第一公式:



所述第一关系还包括:dP与检验量F存在特定映射关系;
上式中,dP表示双差处理后的位置偏差量。


3.根据权利要求2所述的探测方法,其特征在于:
所述假设检验方法包括判断检验量F是否服从高斯分布F~N(0,σF),若服从,则确认检验量F通过假设检验,
其中,σF表示检验量F的计算标准差,被根据第二关系而获得,所述第二关系包括第二公式:



其中,σdP表示所述位置偏差量dP的计算标准差,分别表示的计算方差,表示伪距观测值的观测方差。


4.根据权利要求3所述的探测方法,其特征在于:
分别根据以下第三公式获得



其中,表示或

分别表示卫星S的X、Y、Z三个方向的位置坐标的方差;

分别表示接收机r的X、Y、Z三个方向的位置坐标的方差;
l、m、n分别表示对应于X、Y、Z三个方向的方向余弦。

<...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡新乔
申请(专利权)人:广东星舆科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1