一种测试设备的信号校准方法技术

本发明专利技术公开了一种测试设备的信号校准方法，包括如下步骤：S01：设定测试设备信号的起始值、结束值和步长；在测试设备的校准寄存器中写入默认值；S02：驱动测试设备从起始值开始输出信号，并依次增加步长，直至输出结束值；S03：记录并存储测试设备对应的实际输出信号值；S04：将设置的信号值和实际输出信号值输入至分段校准算法模块中，所述分段校准算法模块求出分段点以及各分段区间的校准系数；S05：根据各分段区间的校准系数进行对应分段区间输出信号的校准。本发明专利技术提供的一种测试设备的信号校准方法，可以在全量程范围内分段进行校准、还可以自动寻找有效的分段点，进一步降低测试设备的输出信号的误差。

【技术实现步骤摘要】
一种测试设备的信号校准方法
本专利技术涉及测试设备信号校准领域，具体涉及一种测试设备的信号校准方法。
技术介绍
目前ATE测试设备的校准采用的是通过调节ATE芯片内部校准寄存器来校正ATE芯片的输出信号的误差，现有技术中通过设置校准寄存器的增益和偏置因子对设定信号进行校准。如附图1所示，现有技术中先设定输出值，之后计算对应的输出code值(十六进制码值)，并将输出值对应的code值写入输出寄存器；同时求出校准系数，计算对应的校准code值，并将校准系数对应的code值写入校准寄存器，输出寄存器和校准寄存器共同作用，输出设定值对应的输出信号。上述方法是先通过驱动测试设备输出校准信号来求出校准系数，计算对应的校准Code值，并写入校准寄存器以校正测试设备的输出信号的误差，由于ATE芯片的内部寄存器存在校准缺陷，且内部寄存器有字长限制，往往只能往一个方向上进行校正，导致校正后的系统仍然存在误差。在上述校准过程中，校准寄存器通过增益和偏置共同对设定值进行校准，如附图2所示，现有技术中驱动设备输出信号的最大值与最小值，并记录对应的输出实际本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试设备的信号校准方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS01：设定测试设备信号的起始值、结束值和步长；在测试设备的校准寄存器中写入默认值；/nS02：驱动测试设备从起始值开始输出信号，并依次增加步长，直至输出结束值；/nS03：记录并存储测试设备对应的实际输出信号值；/nS04：将设置的信号值和实际输出信号值输入至分段校准算法模块中，所述分段校准算法模块求出分段点以及各分段区间的校准系数；/nS05：根据各分段区间的校准系数进行对应分段区间输出信号的校准。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试设备的信号校准方法，其特征在于，包括如下步骤：
S01：设定测试设备信号的起始值、结束值和步长；在测试设备的校准寄存器中写入默认值；
S02：驱动测试设备从起始值开始输出信号，并依次增加步长，直至输出结束值；
S03：记录并存储测试设备对应的实际输出信号值；
S04：将设置的信号值和实际输出信号值输入至分段校准算法模块中，所述分段校准算法模块求出分段点以及各分段区间的校准系数；
S05：根据各分段区间的校准系数进行对应分段区间输出信号的校准。


2.根据权利要求1所述的一种测试设备的信号校准方法，其特征在于，所述步骤S04中分段校准算法模块采用自动线性校准分段算法求出分段点以及各分段区间的校准系数。


3.根据权利要求2所述的一种测试设备的信号校准方法，其特征在于，采用自动线性校准分段算法求出分段点以及各分段区间的校准系数包括如下步骤：
S041：将分割点设置为起始点后移x位，计算起始点和分割点之间分割区间的拟合度；x为大于0的整数；
S042：在上一个分割点基础上依次后移分割点直至分割点与结束点重合，并分别计算起始点与各个分割点之间分割区间的拟合度；
S043：选取拟合度最大的分割点作为第一个分段点；
S044：以上一个分段点为起始点，重复步骤S041-S043，得出下一个分段点，直至最后一个分段点距离结束点的点距小于x位，得出所有分段点；
S045：计算上述各个分段点之间的分段区间的校准系数。


4.根据权利要求3所述的一种测试设备的信号校准方法，其特征在于，所述步骤S042中每次后移分割点时...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋海军，
申请(专利权)人：上海御渡半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31