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一种晶体电子衍射数据采集方法及装置制造方法及图纸

技术编号:24705315 阅读:165 留言:0更新日期:2020-06-30 23:37
本发明专利技术实施例提供一种晶体电子衍射数据采集方法及装置,该方法包括:获取相机拍摄的样品台上晶体每一角度对应的图像信号,其中,所述样品台在所述相机每次曝光时按照相同方向转动预设角度,所述样品台在所述相机快门关闭时保持静止;根据所述晶体每一角度对应的图像信号获取所述晶体的电子衍射数据。本发明专利技术实施例通过保证相机曝光时样品台才会旋转,也就是说相机曝光时晶体旋转,除去相机曝光的时间,其它时间样品台台保持静止,通过该方法,实现了相机对晶体的连续拍照,使得相机可以完全不受曝光时间、帧数和帧率的限制,并且大幅度降低了收集电子衍射数据时对硬件的要求,使得单帧模式的相机也可以被用来收集高质量的衍射数据。

【技术实现步骤摘要】
一种晶体电子衍射数据采集方法及装置
本专利技术实施例涉及晶体电子衍射
,尤其涉及一种晶体电子衍射数据采集方法及装置。
技术介绍
使用晶体衍射方法,主要包括X射线衍射和中子衍射,来测定生物大分子晶体的结构是目前主流的生物大分子和小分子化合物的原子结构测定方法,被广泛应用于基础生物学研究和分子制药等领域。最近几年来,使用电子衍射的方法来测定三维晶体的结构,正在成为一种新型的测定晶体高分辨率原子结构的方法。X射线和中子与物质的相互作用是一种弱相互作用,需要高亮度的入射光以及足够大的晶体(至少几微米大)才能够获得显著可探测的信号,通常需要借助同步辐射或散裂中子源等百亿元量级的大型光源装置。而电子与物质之间是强相互作用,非常微弱的电子束就可以在小于1微米的晶体上产生很强的衍射信号。随着冷冻电子显微镜技术的发展,冷冻电子显微镜的衍射功能正在成为一种低成本且高质量的三维晶体结构测定手段,被称为微晶电子衍射技术MicroED。然而,自从微晶电子衍射技术被成功应用以来,结构解析效率非常低,仅有最初发展这项技术的少数几个实验室才有条件本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种晶体电子衍射数据采集方法,其特征在于,包括:/nS1,获取相机拍摄的样品台上晶体每一角度对应的图像信号,其中,所述样品台在所述相机每次曝光时按照相同方向转动预设角度,所述样品台在所述相机快门关闭时保持静止;/nS2,根据所述晶体每一角度对应的图像信号获取所述晶体的电子衍射数据。/n

【技术特征摘要】
1.一种晶体电子衍射数据采集方法,其特征在于,包括:
S1,获取相机拍摄的样品台上晶体每一角度对应的图像信号,其中,所述样品台在所述相机每次曝光时按照相同方向转动预设角度,所述样品台在所述相机快门关闭时保持静止;
S2,根据所述晶体每一角度对应的图像信号获取所述晶体的电子衍射数据。


2.根据权利要求1所述方法,其特征在于,所述预设角度为:
θ=t1×w,
其中,θ表示所述预设角度,t1表示所述相机的曝光时间,w表示所述样品台转动的角速度。


3.根据权利要求1所述方法,其特征在于,步骤S1中,所述获取相机拍摄的样品台上晶体每一角度对应的图像信号,具体包括:
S11,根据触发指令,所述相机启动,同时所述样品台保持静止;
S12,所述相机曝光,同时所述样品台以固定角速度开始旋转;
S13,所述相机快门关闭,同时所述样品台静止,获取所述相机拍摄的所述样品台上晶体任一角度对应的图像信号,并重新发送所述触发指令;
S14,重复步骤S11-S13,直到获取相机拍摄的样品台上晶体每一角度对应的图像信号。


4.根据权利要求3所述方法,其特征在于,步骤S12中具体地:
经过t0时间,所述相机曝光,同时所述样品台以固定角速度开始旋转,t0表示所述相机的启动时间。


5.根据权利要求3所述方法,其特征在于,步骤S13中具体地:
经过...

【专利技术属性】
技术研发人员:李雪明周珩
申请(专利权)人:清华大学
类型:发明
国别省市:北京;11

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