一种空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构，属于星体探测辅助设备的技术领域。空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构，包括第一筒体、第一隔热层、侧壁缓冲吸能层和第二筒体；第一筒体的内部用于安装取样设备，第一隔热层连接在第一筒体的外侧；侧壁缓冲吸能层连接在第一隔热层的外侧，第二筒体套接在侧壁缓冲吸能层的外侧。解决了天体内部的温差大，导致取样设备的内部仪器超出使用温度范围，高速侵彻过程中冲击力大，容易损坏取样设备，使取样设备不能够正常使用的技术问题。本发明专利技术的第一筒体内安装取样设备，第一隔热层对天体内部的温度进行隔热，侧壁缓冲吸能层对高速侵彻的冲击力进行缓冲，确保设备能够正常使用。

【技术实现步骤摘要】
一种空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构
本专利技术涉及星体探测辅助设备的
，具体的涉及一种空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构。
技术介绍
人类对深空探索的天体覆盖至太阳系内的大部分行星、卫星及小行星。随着科技的发展，人类发现，天体的次表层星壤剖面含有丰富的地质学及星表环境信息，是研究天体起源及演化过程的重要探测目标。因此，科学考察逐渐从星体表面深入至星体的内部，这时，就需要利用一种取样设备，采用高速冲击侵彻的方式进入天体内部，以探测天体的次表层星壤剖面。高速侵彻取样设备在探测天体的次表层时，由于其体积轻巧，功耗低，是一种可取的方式。但是，取样设备在运行的过程中，其内部的仪器需要保持在一定的温度区间内，通常只要保证在0℃至50℃的区间即可。而取样设备进入天体内部后，由于天体内部内的温差比较大，温差范围可从极热状态到极冷状态，通常为120℃至零下270℃之间。因此，一旦取样设备进入天体内部，如不采取保温措施，很快就会超出工作温度范围，就会导致设备的内部仪器损坏，不能正常使用。并且，取样设备高速侵彻进入天体内部时，还将面本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构，其特征在于，包括第一筒体(100)、第一隔热层(200)、侧壁缓冲吸能层(300)和第二筒体(400)；/n所述第一筒体(100)的内部用于安装取样设备，所述第一隔热层(200)连接在所述第一筒体(100)的外侧；/n所述侧壁缓冲吸能层(300)连接在所述第一隔热层(200)的外侧，所述第二筒体(400)套接在所述侧壁缓冲吸能层(300)的外侧。/n

【技术特征摘要】
1.一种空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构，其特征在于，包括第一筒体(100)、第一隔热层(200)、侧壁缓冲吸能层(300)和第二筒体(400)；
所述第一筒体(100)的内部用于安装取样设备，所述第一隔热层(200)连接在所述第一筒体(100)的外侧；
所述侧壁缓冲吸能层(300)连接在所述第一隔热层(200)的外侧，所述第二筒体(400)套接在所述侧壁缓冲吸能层(300)的外侧。


2.根据权利要求1所述的空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构，其特征在于，所述侧壁缓冲吸能层(300)设有卡槽(301)，所述卡槽(301)内连接有弹性缓冲件(302)。


3.根据权利要求2所述的空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构，其特征在于，所述卡槽(301)的数量为多个，所述弹性缓冲件(302)的数量为与所述卡槽(301)的数量相对应的多个，每个所述弹性缓冲件(302)连接在每个所述卡槽(301)内。


4.根据权利要求1所述的空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构，其特征在于，还包括第二隔热层(500)；
所述第二隔热层(500)连接在所述侧壁缓冲吸能层(300)与所述第二筒体(400)之间。


5.根据权利要求1所述的空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构，其特征在于，还包括加热层(600)；
所述加热层(600)连接在所述第一筒体(100)的内侧壁。


6.根据权利要求5所述的空间星体勘察取样装置的缓冲吸能保温结构，其特征在于，所述第一筒体(100)包括第一内壳(101)和第二内壳(102)；
所述加热层(600)连接在所述第一内壳(101)的内侧壁，所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐占文，刘希超，王东东，麻永帅，刘千，
申请(专利权)人：天津爱思达新材料科技有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12