【技术实现步骤摘要】
雷达自动化标定校准方法、系统
本专利技术涉及雷达标定校准领域,尤其涉及一种雷达自动化标定校准方法、系统。
技术介绍
在雷达产品生产过程中,产品的标定校准和生产测试验证是产品技术达标及质量控制的重要环节,同时也对产品的生产成本、生产效率与交货周期都有重要影响。雷达产品的出厂测试需要根据具体的雷达型号,对产品参数进行标定校准,以达到出厂标准的产品性能。现有技术中,以上流程通常采用人工或人工参与操作,步骤烦琐且人力成本较高,同时标定校准的准确度难以保证,另外数据无法同步电子化归档保存,后期处理和查询等还会增加工作量。
技术实现思路
专利技术目的:本专利技术旨在提供一种雷达自动化标定校准方法、系统。技术方案:本专利技术实施例中提供一种雷达自动化标定校准系统,包括:电磁屏蔽室、测试轨道、反射面板、计算控制装置和雷达标定平台,其中:所述电磁屏蔽室,内部表面设有微波吸收材料,所述测试轨道、反射面板和雷达标定平台均设置于电磁屏蔽室内;所述测试轨道,包括至少两条的轨道和支撑轨道的支架; >所述雷达标定平台,本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种雷达自动化标定校准系统,其特征在于,包括:电磁屏蔽室、测试轨道、反射面板、计算控制装置和雷达标定平台,其中:/n所述电磁屏蔽室,内部表面设有微波吸收材料,所述测试轨道、反射面板和雷达标定平台均设置于电磁屏蔽室内;/n所述测试轨道,包括至少两条的轨道和支撑轨道的支架;/n所述雷达标定平台,包括轨道车、雷达支架和激光测距传感器,所述轨道车包括伺服控制器和行动轮,伺服控制器用于控制行动轮使得雷达标定平台于测试轨道上移动;所述雷达支架置于所述轨道车之上,用于承载雷达;所述激光测距传感器用于测得与反射面板之间的激光距离;/n所述反射面板,面向所述雷达标定平台设置;/n所述计算 ...
【技术特征摘要】
1.一种雷达自动化标定校准系统,其特征在于,包括:电磁屏蔽室、测试轨道、反射面板、计算控制装置和雷达标定平台,其中:
所述电磁屏蔽室,内部表面设有微波吸收材料,所述测试轨道、反射面板和雷达标定平台均设置于电磁屏蔽室内;
所述测试轨道,包括至少两条的轨道和支撑轨道的支架;
所述雷达标定平台,包括轨道车、雷达支架和激光测距传感器,所述轨道车包括伺服控制器和行动轮,伺服控制器用于控制行动轮使得雷达标定平台于测试轨道上移动;所述雷达支架置于所述轨道车之上,用于承载雷达;所述激光测距传感器用于测得与反射面板之间的激光距离;
所述反射面板,面向所述雷达标定平台设置;
所述计算控制装置,用于雷达标定平台到达指定位置时分别控制雷达和激光测距传感器测量与反射面板之间的距离,接收雷达测得的与反射面板之间的距离和激光距离后,反馈至雷达进行校准。
2.根据权利要求1所述的雷达自动化标定校准系统,其特征在于,所述雷达支架设置为在指定位置的范围内使得承载的雷达的测距方向正对所述反射面板,所述雷达支架为法兰固定型雷达测试支架。
3.根据权利要求1所述的雷达自动化标定校准系统,其特征在于,所述雷达标定平台包括:多个激光测距传感器,若所述计算控制装置接收得到的各个激光测距传感器测得的激光距离之间的偏差超过距离偏差阈值,则所述计算控制装置发出相应提示。
4.根据权利要求3所述的雷达自动化标定校准系统,其特征在于,所述雷达标定平台还包括:水平传感器,与所述计算控制装置通信连接,用于检测目标对象的水平状态,若目标对象的水平状态的偏差超过水平偏差阈值,则所述计算控制装置发出相应提示;所述目标对象包括雷达、激光测距传感器。
5.根据权利要求4所述的雷达自动化标定校准系统,其特征在于,所述支撑轨道的支架为高度调节支架,用于调整轨道高度。
6.根据权利要求5所述的雷达自动化标定校准系统,其特征在于,所述雷达支架与所述轨...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄高昂,刘建粦,陈凤,刘海滨,祖诚军,余鹏飞,江文超,卢恩生,林章兵,林光,黄海宁,钟文文,
申请(专利权)人:福州盛博电子有限公司,
类型:发明
国别省市:福建;35
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。