一种微波功率放大器多通道测试电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种微波功率放大器多通道测试电路，包括单刀双掷开关S1、单刀四掷开关S2、单刀双掷开关S3、单刀双掷开关S4、单刀双掷开关S5、单刀双掷开关S6、单刀四掷开关S7、频率合成器、外置环形器/滤波器、衰减器和接口J1～J12，本实用新型专利技术涉及测试电路技术领域。该微波功率放大器多通道测试电路，通过控制各开关通道开通状态，即可导通或切换不同测试需求的链路信号，该电路可用于支持功率放大器不同参数的测试，只需通过电切换实现相应链路的导通即可，而不用人工重新拆解和组装测试链路，能较大的提高测试效率，同时避免由于不断拆组测试链路导致的链路性能不稳定、测试仪器和待测器件的损伤等问题。

A multichannel test circuit of microwave power amplifier

【技术实现步骤摘要】
一种微波功率放大器多通道测试电路
本技术涉及测试电路
，具体为一种微波功率放大器多通道测试电路。
技术介绍
随着科技的快速发展，功率放大器的需求量大批增加，而功率放大器在生产过程中的指标测试和环境试验是电子制造领域中的重要环节。通过测试和试验来判断被测对象是否实现了初始的设计目标，从而判定整机的性能是否达到设计任务要求。因为功率放大器的测试是检测和提高产品质量的重要手段，其测试手段的提升也越来越受到业内重视。功率放大器的主要功能为将输入的信号进行功率放大，其主要电性能指标较多，传统功率放大器采用分立方式测试各项性能指标，需要人工不断更换不同指标对应的测试线路和仪器，效率低，又不能保证测试数据的准确性和完整性。因此，需要一种便捷、高效的测控装置，既能满足各项性能指标的准确高效率测试，又能保障测试仪器和被测器件的安全。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本技术提供了一种微波功率放大器多通道测试电路，解决了传统功率放大器采用分立方式测试各项性能指标，需要人工不断更换不同指标对应的测试线路和仪器，效率低，又不能保证测试数据本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种微波功率放大器多通道测试电路，包括单刀双掷开关S1、单刀四掷开关S2、单刀双掷开关S3、单刀双掷开关S4、单刀双掷开关S5、单刀双掷开关S6、单刀四掷开关S7、频率合成器、外置环形器/滤波器、衰减器和接口J1～J12，其特征在于：所述单刀双掷开关S1、单刀四掷开关S2、单刀双掷开关S3、单刀双掷开关S4、单刀双掷开关S5、单刀双掷开关S6和单刀四掷开关S7的公共端统一命名为C端，所述单刀双掷开关S1、单刀双掷开关S3、单刀双掷开关S4、单刀双掷开关S5和单刀双掷开关S6的非公共端分别命名为1端和2端，所述单刀四掷开关S2和单刀四掷开关S7的非公共端分别命名为1端、2端、3端和4端；/n...

【技术特征摘要】
1.一种微波功率放大器多通道测试电路，包括单刀双掷开关S1、单刀四掷开关S2、单刀双掷开关S3、单刀双掷开关S4、单刀双掷开关S5、单刀双掷开关S6、单刀四掷开关S7、频率合成器、外置环形器/滤波器、衰减器和接口J1～J12，其特征在于：所述单刀双掷开关S1、单刀四掷开关S2、单刀双掷开关S3、单刀双掷开关S4、单刀双掷开关S5、单刀双掷开关S6和单刀四掷开关S7的公共端统一命名为C端，所述单刀双掷开关S1、单刀双掷开关S3、单刀双掷开关S4、单刀双掷开关S5和单刀双掷开关S6的非公共端分别命名为1端和2端，所述单刀四掷开关S2和单刀四掷开关S7的非公共端分别命名为1端、2端、3端和4端；
所述单刀四掷开关S2的C端连接接口J9，所述单刀四掷开关S2的1、2、3和4端分别按顺序对应连接单刀双掷开关S1的1端、频率合成器的输出端、接口J3和接口4，所述频率合成器的输入端分别连接单刀双掷开关S1的2端和接口J2。


2.根据权利要求1所述的一种微波功率放大器多通道测试电路，其特征在于：所述单刀双掷开关S1的C端连接接口J1。


3.根据权利要求1所述的一种微波功率...

【专利技术属性】
技术研发人员：南建军，郑礼朋，
申请(专利权)人：上海铭剑电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31