一种适用于锥束CT小间隙测量的方法技术

本发明专利技术公开一种适用于锥束CT小间隙测量的方法，根据待测件制作参考件，并利用参考件建立关于间隙测量值和实际值的映射曲线；扫描待测件，CT重建成像；基于CT图像通过对比度查找确定小间隙成像，利用所确定的小间隙计算公式计算间隙测量值，并根据映射曲线得到间隙的实际值。本发明专利技术能够在基于面板的锥束CT图像应用，得到该成像条件下的小间隙尺寸，根据待测件设计相似参考件，得到映射曲线，对待测件的小间隙进行测量，允许参考件的设计和待测件有较大的偏离，或者直接使用小间隙计算公式计算出来的值作为测量的实际值结果，无需设计相似参考件，降低成本。

A method for small gap measurement of cone beam CT

【技术实现步骤摘要】
一种适用于锥束CT小间隙测量的方法
本专利技术属于无损检测应用领域，具体地说涉及一种适用于锥束CT小间隙测量的方法。
技术介绍
工业CT主要用于结构检测和密度检测，在测量物体的结构尺寸的时候，一般是先提取图像中物体的边缘，然后通过测量边缘距离来测量物体的结构尺寸。CT图像中尺寸测量用的最多的是半高宽测量方法。在实践上，可以发现，传统的半高宽测量方法由于在小间隙边缘出现CT宽化效应会导致测量值远大于实际值。当小间隙的尺寸小于图像一个像素对应的尺寸时，理想情况下，这样的小间隙在图像上的成像宽度最大为一个像素。而实际上，这样的小间隙的成像宽度远大于一个像素。小间隙的测量是无损检测领域长久以来被忽视的一个领域，对检测结果有重大影响。关于小间隙测量，目前可见的研究主要在中国工程物理研究院材料研究所进行，该研究所过去十几年来在小间隙成像仿真，小间隙测量等领域进行了大量的研究，形成了一些有效的理论和测量方法，并编写了小间隙测量的软件。成果见专利(CN104596449B，2017.07.07)，专利公开了一种基于CT图像的小间隙精确测量方法，其所述的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用于锥束CT小间隙测量的方法，其特征在于，包括以下步骤：/n根据待测件制作参考件，并利用参考件建立关于间隙测量值和实际值的映射曲线；/n扫描待测件，CT重建成像；/n基于CT图像通过对比度查找确定小间隙成像，利用所确定的小间隙测量公式计算间隙测量值，并根据映射曲线得到间隙的实际值。/n

【技术特征摘要】
1.一种适用于锥束CT小间隙测量的方法，其特征在于，包括以下步骤：
根据待测件制作参考件，并利用参考件建立关于间隙测量值和实际值的映射曲线；
扫描待测件，CT重建成像；
基于CT图像通过对比度查找确定小间隙成像，利用所确定的小间隙测量公式计算间隙测量值，并根据映射曲线得到间隙的实际值。


2.根据权利要求1所述的适用于锥束CT小间隙测量的方法，其特征在于，所述参考件与待测件材料密度相同或相近，结构相同或相近，外形尺寸相同或相近。


3.根据权利要求1所述的适用于锥束CT小间隙测量的方法，其特征在于，参考件中的间隙沿不交叉的直线分布，间隙宽度成等差数列。


4.根据权利要求3所述的适用于锥束CT小间隙测量的方法，其特征在于，利用参考件建立关于间隙测量值和实际值的映射曲线具体为：
沿第N个间隙的法向做一系列直线段，直线段的中点位于间隙中线上；
采样图像得到直线段上的CT图像值，分别计算每一个直线段上的下凹曲线的宽度，并求取其中最大宽度值；
利用最大宽度值确定积分区域宽度，结合沿间隙长度方向上的长度值gapRoiL确定积分区域gapRoi，计算间隙在积分区域gapRoi的像素的个数gapRoiPixelNr和积分区域gapRoi的像素值的和gapRoiSum；根据积...

【专利技术属性】
技术研发人员：李寿涛，李敬，刘清华，陈云斌，李世根，张成鑫，邓德荣，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院应用电子学研究所，
类型：发明
国别省市：四川;51