发光分析装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种能够防止与固体试样的形状相应地在分析结果中产生误差的发光分析装置。组成信息获取处理部(51)通过将检测器(43)中的各波长的检测强度与校准曲线进行比较，来获取固体试样中的成分的组成信息。规格判定处理部(52)基于由组成信息获取处理部(51)获取到的组成信息，从预先设定的多个规格中判定符合的规格。显示处理部(53)在由规格判定处理部(52)进行规格的判定时显示设定画面。形状设定受理部(54)在所述设定画面中受理对固体试样的形状的设定。校正处理部(55)根据设定被形状设定受理部(54)受理的固体试样的形状，来校正校准曲线。

Luminescent analysis device

【技术实现步骤摘要】
发光分析装置
本专利技术涉及一种用于使固体试样放电来对发光进行分析的发光分析装置。
技术介绍
在发光分析装置中，例如设置有电极，以与该电极相对的方式配置固体试样。在进行固体试样的分析时，在固体试样与电极之间进行放电，在分光器中对由放电产生的光进行分光。然后，通过由检测器接收被分光后的各波长的光，来基于各波长的检测强度进行固体试样中包含的成分的组成信息的分析(例如，参照下述专利文献1)。一般的固体试样的形状为圆柱形状。在固体试样的设置位置处，形成有比固体试样的圆形的端面小的开口，以封住该开口的方式设置固体试样。由此，固体试样的端面与电极隔着开口地相对，能够在它们之间进行放电。现有技术文献专利文献专利文献1：日本专利第5077212号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题然而，固体试样不限于上述那样的圆柱形状，有时为针形状、小型形状等其它形状。这些针形状、小型形状的固体试样的端面的面积比开口的面积小，无法以封住该开口的方式设置固体试样。在这种情况下，通过由不放电的材料形成本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种发光分析装置，其用于使固体试样放电来对发光进行分析，该发光分析装置的特征在于，具备：/n分光器，其对从固体试样产生的光进行分光；/n检测器，其接收被所述分光器分光后的各波长的光；/n组成信息获取处理部，其通过将所述检测器中的各波长的检测强度与校准曲线进行比较，来获取固体试样中的成分的组成信息；/n规格判定处理部，其基于由所述组成信息获取处理部获取到的组成信息，从预先设定的多个规格中判定符合的规格；/n显示处理部，其在由所述规格判定处理部进行规格的判定时显示设定画面；/n形状设定受理部，其在所述设定画面中受理对固体试样的形状的设定；以及/n校正处理部，其根据设定被所述形状设定受理部受理的...

【技术特征摘要】
20181204 JP 2018-2271201.一种发光分析装置，其用于使固体试样放电来对发光进行分析，该发光分析装置的特征在于，具备：
分光器，其对从固体试样产生的光进行分光；
检测器，其接收被所述分光器分光后的各波长的光；
组成信息获取处理部，其通过将所述检测器中的各波长的检测强度与校准曲线进行比较，来获取固体试样中的成分的组成信息；
规格判定处理部，其基于由所述组成信息获取处理部获...

【专利技术属性】
技术研发人员：贝发达也，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本;JP